【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及摄影测量技术，尤其是一种大尺寸工业摄影测量系统的精度评价方法及基准装置。
技术介绍
随着现代工业的迅速发展，需要对大型物件进行精密三维测量，由于大型物件的 测量范围大、精度要求高、现场动态测量，致使基于三坐标测量机(C匪)的测量技术无法满 足，因此产生了现场数字摄影测量技术。 目前国内外关于数字摄影测量的研究主要集中在一些关键技术上，包括摄像机 内、外方位参数的现场自标定技术及解算方法；测量网络的精度评定技术及方法；实现系 统测量自动化的图像匹配技术等。其中，数字摄影测量精度评定的研究包括以下两个方面 (1)将摄影测量环节中的误差因素进行独立分析，如相机标定、站位夹角、测点中心定位等 因素分别对摄影测量精度的影响，尚未建立完善的摄影测量空间误差模型；(2)采用定长 标尺在摄影测量现场检测评定系统的测量精度。由于数字摄影测量系统复杂并且具有可柔 性，尤其是现场大尺寸测量的数字摄影测量系统由于受相机性能、被测物、测量网络布局、 测量软件性能等多种因素影响，造成误差来源复杂，各种误差因素相互关联，定长标尺的尺 寸及所放置的位置不同会直接影响对摄影测量精...
【技术保护点】
一种大尺寸工业摄影测量系统的精度评价方法，其特征在于，包括： 采用位置跟踪器从基准装置中获取多个反射靶点的第一三维坐标信息，所述第一三维坐标信息形成空间基准场； 采用摄影测量系统从所述基准装置中获取多个反射靶点的第二三维空间坐标信息，所述第二三维空间坐标信息形成空间测量场； 通过所述空间基准场和所述空间测量场获取用于评价所述摄影测量系统精度的空间误差场。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：董明利，祝连庆，吕乃光，燕必希，杨健，陈瑞保，
申请(专利权)人：北京信息科技大学，
类型：发明
国别省市：11[]
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