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本发明公开了一种大尺寸工业摄影测量系统的精度评价方法及基准装置，包括：采用激光跟踪仪从基准装置中获取到反射靶点的第一三维坐标信息，所述第一三维坐标信息形成空间基准场；采用摄影测量系统从所述基准装置中获取到反射靶点的第二三维空间坐标信息，所述...
该专利属于北京信息科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京信息科技大学授权不得商用。

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