一种半导体站立高度检具制造技术

本实用新型专利技术公开了半导体站立高度检具，包括机架、门型架、调高机构、限高梁和标尺，所述机架上设有带式输送机构，所述门型架安装在机架上并位于带式输送机构上方，水平设置的限高梁可竖向滑动地设于门型架上，所述调高机构安装在门型架上，且输出端与限高梁连接，门型架的一侧开有沿竖直方向延伸的滑槽，限高梁上安装有与滑槽相匹配的凸块，所述标尺安装在门型架上，并靠近滑槽设置。本实用新型专利技术提供的半导体站立高度检具，实现调节多种检测高度的功能，能够检测多种不同站立高度的半导体，适用性广泛。性广泛。性广泛。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体站立高度检具


[0001]本技术涉及半导体检测设备
，特别涉及一种半导体站立高度检具。

技术介绍

[0002]半导体，又称电子元器件，半导体通常通过焊接的方式安装在电路板上进行电路连接。现有技术中，半导体由于焊接工艺不良容易导致电子元器件过焊、焊接位置偏移等情况发生，进而造成半导体的高度异常,因而需要对其站立高度进行检测。现有的半导体站立高度检具只能检测一种高度的半导体，检测另一高度的半导体时需更换另一个对应的检具，检具通用性低。
[0003]可见，现有技术还有待改进和提高。

技术实现思路

[0004]鉴于上述现有技术的不足之处，本技术的目的在于提供半导体站立高度检具，旨在实现调节多种检测高度的功能，能够检测多种不同站立高度的半导体，适用性广泛。
[0005]为了达到上述目的，本技术采取了以下技术方案：
[0006]一种半导体站立高度检具，包括机架、门型架、调高机构、限高梁和标尺，所述机架上设有带式输送机构，所述门型架安装在机架上并位于带式输送机构上方，水平设置的限高梁可竖向滑动地设于门型架上，所述调高机构安装在门型架上，且输出端与限高梁连接，门型架的一侧开有沿竖直方向延伸的滑槽，限高梁上安装有与滑槽相匹配的凸块，所述标尺安装在门型架上，并靠近滑槽设置。
[0007]所述调高机构为两个，调高机构包括螺杆、弹簧和锁紧螺母，螺杆在竖直方向上与所述门型架滑动连接，且螺杆的下端与限高梁连接，弹簧套接在螺杆上，且弹簧的两端分别与门型架、限高梁连接，所述锁紧螺母与螺杆螺纹连接，且锁紧螺母位于门型架的上表面。
[0008]所述锁紧螺母为手拧梅花螺母。
[0009]所述调高机构为两个，调高机构包括光杆和手拧梅花螺钉，光杆在竖直方向上与所述门型架滑动连接，且光杆的下端与限高梁连接，门型架上开有水平设置的螺孔，手拧梅花螺钉与螺孔螺纹连接，且末端作用在光杆上。
[0010]所述门型架两内侧分别设置有沿竖直方向延伸的导向槽，导向槽与限高梁末端滑动连接，两条滑槽分别与两条导向槽连通。
[0011]所述带式输送机构包括输送辊、驱动电机和输送带，两条输送辊分别与所述机架转动连接，驱动电机安装在机架上，并与其一输送辊连接，输送带套接在两条输送辊的辊面上。
[0012]还包括集料箱，所述集料箱安装在所述机架上，并靠近带式输送机构的输出端。
[0013]还包括导向条，若干导向条以可拆卸的方式安装在所述机架上，导向条位于限高梁下方，且导向条的长度延伸方向与带式输送机构的输送方向平行。
[0014]所述机架靠近带式输送机构输入端和输出端的位置上开有等间距排列的定位孔，且若干定位孔沿所述限高梁的长度延伸方向排列，所述导向条的两端分别设有与定位孔配合的插针。
[0015]所述定位孔具有两排，且两排定位孔错开设置。
[0016]有益效果：
[0017]本技术提供的半导体站立高度检具设置有带式输送机构往前输送处于站立状态下的半导体，且在限高梁的作用下筛选出不符合站立高度加工要求的半导体；通过设置调高机构，使得限高梁的安装高度为可调，实现调节多种检测高度，进一步能够检测多种不同站立高度的半导体，适用性广泛；以及在凸块和标尺的配合下，便于操作员快速调节限高梁的安装高度，操作简单快捷。
附图说明
[0018]图1为本技术提供的半导体站立高度检具的立体图。
[0019]图2为本技术提供的半导体站立高度检具的俯视图。
[0020]图3为本技术提供的半导体站立高度检具的主剖视图。
[0021]图4为本技术提供的半导体站立高度检具中调高机构的一种实施方式的侧视图。
[0022]图5为本技术提供的半导体站立高度检具中调高机构的另一种实施方式的侧视图。
[0023]主要元件符号说明：1、机架；11、定位孔；2、门型架；21、滑槽；22、导向槽；3、调高机构；31、螺杆；32、弹簧；33、锁紧螺母；34、光杆；35、手拧梅花螺钉；4、限高梁；41、凸块；5、带式输送机构；51、输送辊；52、驱动电机；53、输送带；6、标尺；7、集料箱；8、导向条；81、插针。
具体实施方式
[0024]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0025]下面将结合实施例和附图对本技术的技术方案作进一步的说明。
[0026]实施例
[0027]请参阅图1，本技术提供了一种半导体站立高度检具，包括机架1、门型架2、调高机构3、限高梁4和标尺6，所述机架1上设有带式输送机构5，所述门型架2安装在机架1上并位于带式输送机构5上方，水平设置的限高梁4可竖向滑动地设于门型架2上，所述调高机构3安装在门型架2上，且输出端与限高梁4连接，门型架2的一侧开有沿竖直方向延伸的滑槽21，限高梁4上安装有与滑槽21相匹配的凸块41，所述标尺6安装在门型架2上，并靠近滑槽21设置。
[0028]使用时，根据所需要检测的半导体的站立高度加工要求，调节调高机构3来调节限高梁4的安装高度，即调节限高梁4下表面与带式输送机构5的输送面之间的距离。调节过程中，凸块41随限高梁4在滑槽21内作滑动，由于标尺6设置在滑槽21旁侧，操作员可通过凸块
41在标尺6上的位置来判断限高梁4的安装高度。调节完成后，带式输送机构5启动，操作员可将所要检测的半导体以站立的状态放在带式输送机构5上，带式输送机构5驱动站立状态下的半导体往前移动并经过限高梁4，当半导体顺利通过限高梁4时，则该半导体的站立高度符合加工技术要求；当半导体无法通过限高梁4，则该半导体的站立高度过高，不符合加工技术要求。采用可调安装高度的限高梁4，能够实现检测多种不同站立高度的半导体，适用性广泛；以及在标尺6及凸块41的配合下，能够快速调节限高梁4的安装高度，操作方便快捷。
[0029]在一种实施例中，参阅图4，所述调高机构3为两个，调高机构3包括螺杆31、弹簧32和锁紧螺母33，螺杆31在竖直方向上与所述门型架2滑动连接，且螺杆31的下端与限高梁4连接，具体地，门型架2竖直设置有光孔，光孔的内径与螺杆31的外径相匹配，以使螺杆31可在门型架2上作上下移动，螺杆31的下端通过沉头螺钉与限高梁4固定连接。弹簧32套接在螺杆31上，且弹簧32的两端分别与门型架2、限高梁4连接，所述锁紧螺母33与螺杆31螺纹连接，且锁紧螺母33位于门型架2的上表面。在弹簧32的弹力作用下，通过转动锁紧螺母33可调节限高梁4的安装高度，以及在限高梁4上对称设置两个调高机构3，能够保证限高梁4的下表面位于水平面上。
[0030]进一步地，所述锁紧螺母33为手拧梅花螺母，便于操作员直接用手扭本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体站立高度检具，其特征在于，包括机架、门型架、调高机构、限高梁和标尺，所述机架上设有带式输送机构，所述门型架安装在机架上并位于带式输送机构上方，水平设置的限高梁可竖向滑动地设于门型架上，所述调高机构安装在门型架上，且输出端与限高梁连接，门型架的一侧开有沿竖直方向延伸的滑槽，限高梁上安装有与滑槽相匹配的凸块，所述标尺安装在门型架上，并靠近滑槽设置。2.根据权利要求1所述的半导体站立高度检具，其特征在于，所述调高机构为两个，调高机构包括螺杆、弹簧和锁紧螺母，螺杆在竖直方向上与所述门型架滑动连接，且螺杆的下端与限高梁连接，弹簧套接在螺杆上，且弹簧的两端分别与门型架、限高梁连接，所述锁紧螺母与螺杆螺纹连接，且锁紧螺母位于门型架的上表面。3.根据权利要求2所述的半导体站立高度检具，其特征在于，所述锁紧螺母为手拧梅花螺母。4.根据权利要求1所述的半导体站立高度检具，其特征在于，所述调高机构为两个，调高机构包括光杆和手拧梅花螺钉，光杆在竖直方向上与所述门型架滑动连接，且光杆的下端与限高梁连接，门型架上开有水平设置的螺孔，手拧梅花螺钉与螺孔螺纹连接，且末端作用在光杆上。5.根据权利要求2或4所...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈杰尧，柯剑机，陈科，黎健成，林豪钧，
申请(专利权)人：佛山市蓝箭电子股份有限公司，
类型：新型
国别省市：