一种电路板智能测试系统、方法、装置及介质制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种电路板智能测试系统、方法、装置及介质，该系统包括预检装置、老化测试装置、测试台装置、传送装置和处理器，预检装置用于对电路板进行预检；老化测试装置用于对预检后的电路板进行老化测试；传送装置用于将预检后的电路板输送至测试台装置；处理器与预检装置、老化测试装置和测试台装置通信连接，处理器用于：控制电路板智能测试系统运行；发出控制指令，实现至少一种控制；接收预检装置、老化测试装置和测试台装置传输的反馈数据，并基于反馈数据调整控制指令。该电路板智能测试方法由电路板智能测试系统中的处理器执行。该方法通过电路板智能测试装置实现。该方法通过计算机可读存储介质运行。算机可读存储介质运行。算机可读存储介质运行。

【技术实现步骤摘要】
一种电路板智能测试系统、方法、装置及介质


[0001]本专利技术涉及电路板测试领域，特别涉及一种电路板智能测试系统、方法、装置及介质。

技术介绍

[0002]在一定的条件下，电路板(即印制电路板，PrintedCircuitBoard，PCB)通电工作一定时间之后，电路板上一些元件的参数会发生变化，即电路板老化。电路板老化和电路板的使用时间和环境因素等有关。电路板老化是需要克服的问题。因此，很多电路板在出厂之前会做抗老化处理，使电路板稳定后再使用，以提高电路板的可靠性和安全性。CN115436781A在老化测试前，对电路板进行预检测，但是其预检测的内容比较简单，有时并不能准确反映电路板存在的问题及缺陷(比如焊接缺陷)。
[0003]因此，希望提出一种电路板智能测试系统、方法、装置及介质，可以对电路板进行针对性测试，提高测试效率、降低成本。

技术实现思路

[0004]
技术实现思路
包括一种电路板智能测试系统，所述电路板智能测试系统包括：预检装置、老化测试装置、测试台装置、传送装置和处理器；所述预检装置至少包括光学检测装置和X射线检测装置，所述预检装置用于对待检测电路板进行预检；所述老化测试装置与所述测试台装置连接，所述老化测试装置包括温度湿度控制系统、振动系统和局部加热系统中的至少一种，所述老化测试装置用于基于所述温度湿度控制系统、所述振动系统和所述局部加热系统中的至少一种，对预检后的电路板进行老化测试；所述测试台装置和所述预检装置通过所述传送装置连接，所述传送装置用于将所述预检后的电路板输送至所述测试台装置；所述处理器与所述预检装置、所述老化测试装置和所述测试台装置通信连接，所述处理器用于：控制所述电路板智能测试系统运行；发出控制指令，实现以下至少一种控制：控制所述预检装置对所述待检测电路板进行预检、控制所述老化测试装置对所述预检后的电路板进行老化测试、控制所述测试台装置满足测试环境要求、控制所述传送装置；接收所述预检装置、所述老化测试装置和所述测试台装置传输的至少一组反馈数据，并基于所述至少一组反馈数据调整所述控制指令。
[0005]
技术实现思路
包括一种电路板智能测试方法，所述电路板智能测试方法由电路板智能测试系统中的处理器执行，所述电路板智能测试系统包括：预检装置、老化测试装置、测试台装置、传送装置和处理器；所述预检装置至少包括光学检测装置和X射线检测装置，所述预检装置用于对待检测电路板进行预检；所述老化测试装置与所述测试台装置连接，所述老化测试装置包括温度湿度控制系统、振动系统和局部加热系统中的至少一种，所述老化测试装置用于基于所述温度湿度控制系统、所述振动系统和所述局部加热系统中的至少一种，对预检后的电路板进行老化测试；所述测试台装置和所述预检装置通过所述传送装置连接，所述传送装置用于将所述预检后的电路板输送至所述测试台装置；所述处理器与所
述预检装置、所述老化测试装置和所述测试台装置通信连接，所述电路板智能测试方法包括：控制所述电路板智能测试系统运行；发出控制指令，实现以下至少一种控制：控制所述预检装置对所述待检测电路板进行预检、控制所述老化测试装置对所述预检后的电路板进行老化测试、控制所述测试台装置满足测试环境要求、控制所述传送装置；接收所述预检装置、所述老化测试装置和所述测试台装置传输的至少一组反馈数据，并基于所述至少一组反馈数据调整所述控制指令。
[0006]
技术实现思路
包括一种电路板智能测试装置，所述电路板智能测试装置包括至少一个处理器以及至少一个存储器；至少一个存储器用于存储计算机指令；至少一个处理器用于执行计算机指令中的至少部分指令以实现所述的电路板智能测试方法。
[0007]
技术实现思路
包括一种计算机可读存储介质，所述存储介质存储计算机指令，当计算机读取存储介质中的计算机指令后，计算机执行所述的电路板智能测试方法。
[0008]有益效果：电路板智能测试系统可以对待检测电路板进行预检，使得后续的老化测试可以有针对性地进行，以降低由于待检测电路板的差异造成的测试结果的误差，以提升对电路测试的准确性，提高测试效率，降低成本。
附图说明
[0009]本说明书将以示例性实施例的方式进一步说明，这些示例性实施例将通过附图进行详细描述。这些实施例并非限制性的，在这些实施例中，相同的编号表示相同的结构，其中：
[0010]图1是根据本说明书一些实施例所示的电路板智能测试系统的示例性示意图；
[0011]图2是根据本说明书一些实施例所示的电路板智能测试方法的示例性流程图；
[0012]图3是根据本说明书一些实施例所示的对待检测电路板进行预检的示例性流程图；
[0013]图4是根据本说明书一些实施例所示的对预检后的电路板进行老化测试的示例性流程图；
[0014]图5是根据本说明书一些实施例所示的老化测试的示例性示意图。
具体实施方式
[0015]为了更清楚地说明本说明书实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单的介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本说明书的一些示例或实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图将本说明书应用于其它类似情景。除非从语言环境中显而易见或另做说明，图中相同标号代表相同结构或操作。
[0016]应当理解，本文使用的“系统”、“装置”、“单元”和/或“模块”是用于区分不同级别的不同组件、元件、部件、部分或装配的一种方法。然而，如果其他词语可实现相同的目的，则可通过其他表达来替换所述词语。
[0017]本说明书中使用了流程图用来说明根据本说明书的实施例的系统所执行的操作。应当理解的是，前面或后面操作不一定按照顺序来精确地执行。相反，可以按照倒序或同时处理各个步骤。同时，也可以将其他操作添加到这些过程中，或从这些过程移除某一步或数
步操作。
[0018]电路板在出厂前，需进行老化测试，以在早期及时剔除不合格的电路板产品。现有技术中，对于电路板的老化测试，往往简单地对一批次的电路板进行统一的老化测试，效率较低，且有时会破坏电路器件，无法有针对性地进行老化测试。CN115436781A在老化测试前，对电路板进行预检测，但是其预检测内容比较简单，有时并不能准确反映电路板存在的问题及缺陷(比如焊接缺陷)。
[0019]有鉴于此，本说明一些实施例中，可以在前期光学检测和X射线检测等的基础上，对电路板进行针对性地老化测试，提高测试效率，降低成本。
[0020]图1是根据本说明书一些实施例所示的电路板智能测试系统的示例性示意图。如图1所示，电路板智能测试系统100包括预检装置110、老化测试装置120、测试台装置130、传送装置140和处理器150。
[0021]在一些实施例中，电路板智能测试系统100可以应用于电路板测试的各种场合，例如，根据使用场合不同，分为研发类电路板测试、电路板标准产品测试、自动化系统产品测试等。在一些实施例中，电路板智能测试系统100可以应用于家电产品、汽车电子、航空电子设备等电路板的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电路板智能测试系统，其特征在于，所述电路板智能测试系统包括：预检装置、老化测试装置、测试台装置、传送装置和处理器；所述预检装置至少包括光学检测装置和X射线检测装置，所述预检装置用于对待检测电路板进行预检；所述老化测试装置与所述测试台装置连接，所述老化测试装置包括温度湿度控制系统、振动系统和局部加热系统中的至少一种，所述老化测试装置用于基于所述温度湿度控制系统、所述振动系统和所述局部加热系统中的至少一种，对预检后的电路板进行老化测试；所述测试台装置和所述预检装置通过所述传送装置连接，所述传送装置用于将所述预检后的电路板输送至所述测试台装置；所述处理器与所述预检装置、所述老化测试装置和所述测试台装置通信连接，所述处理器用于：控制所述电路板智能测试系统运行；发出控制指令，实现以下至少一种控制：控制所述预检装置对所述待检测电路板进行预检、控制所述老化测试装置对所述预检后的电路板进行老化测试、控制所述测试台装置满足测试环境要求、控制所述传送装置；接收所述预检装置、所述老化测试装置和所述测试台装置传输的至少一组反馈数据，并基于所述至少一组反馈数据调整所述控制指令。2.根据权利要求1所述的电路板智能测试系统，其特征在于，所述预检装置还包括标记装置，所述标记装置用于对所述预检后的电路板进行标记处理，所述处理器还用于：基于所述预检装置传输的预检数据，确定预检评分；发出所述控制指令，控制所述标记装置基于所述预检评分，对所述预检后的电路板进行标记处理。3.根据权利要求1所述的电路板智能测试系统，其特征在于，所述处理器还用于：基于所述控制指令，控制所述测试台装置和所述传送装置，对所述预检后的电路板进行分类堆放，得到至少一种分类后的电路板；确定至少一组老化测试参数，并控制所述传送装置将所述至少一种分类后的电路板输送至所述老化测试装置；控制所述老化测试装置基于所述至少一组老化测试参数，对所述至少一种分类后的电路板进行老化测试。4.根据权利要求1所述的电路板智能测试系统，其特征在于，所述电路板智能测试系统还包括复检装置，所述复检装置、所述预检装置和所述测试台装置通过所述传送装置连接，所述处理器与所述复检装置通信连接，所述复检装置包括外观检测装置和电参数检测装置中的至少一种，所述处理器还用于：发出所述控制指令，控制所述复检装置，对老化测试后的电路板进行复检操作；接收所述复检装置传输的复检结果，并基于所述复检结果调整所述控制指令。5.一种电路板智能测试方法，其特征在于，所述电路板智能测试方法由电路板智能测试系统中的处理器执行，所述电路板智能测试系统包括：预检装置、老化测试装置、测试台装置、传送装置和所述处理器；
所述预检装置至少包括光学检测装置和X射线检测装置，所述预检装置用于对待检测电路板进行预检；所述老化测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：黎育民，王红娣，黄林秀，
申请(专利权)人：赣州市超跃科技有限公司，
类型：发明
国别省市：