一种深度及跳动度检测综合量规及其使用方法技术

本发明专利技术公开了一种深度及跳动度检测综合量规及其使用方法，涉及深度及跳动度检测的量规技术领域，包括定位芯轴分总成和量块，定位芯轴分总成包括定位芯轴，被测件套接在定位芯轴的外侧，定位芯轴的顶部与被测件的内侧相配合，定位芯轴的底部设置有用于量块通过的缺口，量块的顶部设置有通规测试阶和止规测试阶。本发明专利技术对于盲孔深度及跳动度的检测非常便捷和准确，可以实现通用量具无法测量的特征检测，其检测精确度高，操作简便，检测效率高。检测效率高。检测效率高。

【技术实现步骤摘要】
一种深度及跳动度检测综合量规及其使用方法


[0001]本专利技术涉及深度及跳动度检测的量规
，具体是一种深度及跳动度检测综合量规及其使用方法。

技术介绍

[0002]对于有清晰检测基准的盲孔的深度及底部跳动度检测，通常情况下是采用深度游标卡尺、百分表等的通用量具进行深度和跳动度检测，而当盲孔为细长孔时，其深度和跳动度采用通用量具就无法进行检测；对于空间定义上的检测基准的盲孔深度及跳动度检测，深度游标卡尺和百分表无法找准检测基准定位点，导致更不能精确检测出盲孔的深度和跳动度。基于此设计一种深度及跳动度检测综合量规及其使用方法，能精确检测出盲孔的深度尺寸和跳动度。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于克服现有技术的不足，被测件为贮液筒组件，由底盖和贮液筒通过焊接组合而成，由于后续生产工序的需要，该焊接必须保证焊接后在贮液筒组件内侧的深度L及底盖圆周上的跳动度0.3mm，基于此提供一种深度及跳动度检测综合量规及其使用方法，用以快速并精确检测被测件是否符合深度L及跳动度0.3mm的标准。
[0004]本专利技术的目的是通过以下技术方案来实现的：一种深度及跳动度检测综合量规，所述量规包括定位芯轴分总成和量块，所述定位芯轴分总成包括定位芯轴，被测件套接在定位芯轴的外侧，所述定位芯轴的顶部与被测件的内侧相配合，所述定位芯轴的底部设置有用于量块通过的缺口，所述量块的顶部设置有通规测试阶和止规测试阶，对被测件进行深度检测和跳动度检测。跳动度包括圆跳动和全跳动，圆跳动是指被测实际表面绕基准轴线作无轴向移动的回转时，在指定方向上指示器测得的最大读数差，全跳动是指被测实际表面绕基准轴线作无轴向移动的回转，同时指示器作平行或垂直于基准轴线的移动，在整个过程中指示器测得的最大读数差。
[0005]作为优选的，所述缺口的横截面积小于定位芯轴的底部面积的1/2。
[0006]作为优选的，所述通规测试阶所处的水平高度比止规测试阶所处的水平高度低，被测件旋转时能够通过通规测试阶，而不能通过止规测试阶，就代表被测件符合产品标准，即符合产品内侧的深度要求和跳动度要求。
[0007]进一步的，所述定位芯轴分总成还包括紧固螺栓和底板，所述定位芯轴的底部与底板之间通过紧固螺栓进行固定。
[0008]一种深度及跳动度检测综合量规的使用方法，包括以下步骤：
[0009]S1、把被测件套在定位芯轴上，所述定位芯轴的顶部形状、定位芯轴的总长度、定位芯轴底部的缺口的高度均根据产品需求进行设计，定位芯轴的总长度为产品内部所需深度L与产品的底部到底板的距离H之和，所述定位芯轴的底部的缺口的高度H1＝H+(2～3)mm。
[0010]S2、量块的顶部设置有通规测试阶和止规测试阶，分别用于对被测件进行通规测试和止规测试，通规测试原则为：当被测件所测内部深度L1的最大值小于(L+0.1
‑
0.011)mm时能通过通规测试阶，若是被测件通过通规测试，可知被测件的设计尺寸T＝[(L+0.1
‑
0.011)
±
0.011]mm，止规测试原则为：当被测件所测内部深度L1的最小值大于(L
‑
0.1+0.011)mm时不能通过止规测试阶，若是被测件不能通过止规测试阶，可知被测件的设计尺寸T＝[(L
‑
0.1+0.011)
±
0.011]mm。
[0011]S3、量块放置在定位芯轴底部的缺口处，通过旋转被测件来进行通规测试和止规测试，检测被测件所测内部深度L1、被测件内侧顶部的圆弧的跳动度是否符合产品的需求。
[0012]本专利技术的有益效果是：
[0013]1、本专利技术通过通规测试阶和止规测试阶对被测件进行深度检测和跳动度检测，检测被测件是否符合产品需求。
[0014]2、本专利技术通过对于被测件的盲孔深度及跳动度的检测非常便捷和准确，可以实现通用量具无法测量的特征检测，其检测精确度高，操作简便，检测效率高。
附图说明
[0015]图1为本专利技术的结构示意图1；
[0016]图2为产品的结构示意图；
[0017]图3为定位芯轴、紧固螺栓和底板的结构示意图；
[0018]图4为量块的结构示意图；
[0019]图5为图4的俯视结构示意图；
[0020]图6为本专利技术的结构示意图2；
[0021]图中：1
‑
定位芯轴、2
‑
紧固螺栓、3
‑
底板、4
‑
量块、5
‑
通规测试阶、6
‑
止规测试阶。
具体实施方式
[0022]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0023]下面结合附图及具体实施例对本专利技术作进一步阐述。
[0024]实施例1：
[0025]如图1至图6所示，一种深度及跳动度检测综合量规，该量规包括定位芯轴分总成和量块4，定位芯轴分总成包括定位芯轴1，被测件套接在定位芯轴1的外侧，定位芯轴1的顶部与被测件的内侧相配合，定位芯轴1的底部设置有用于量块4通过的缺口，量块4的顶部设置有通规测试阶5和止规测试阶6。根据需求制定产品尺寸，而被测件是根据产品尺寸批量生产出来的待检测品，定位芯轴1的顶部尺寸与产品内侧顶部的尺寸相一致，例如定位芯轴1的顶部宽度D1、斜面角θ等与产品内侧顶部的宽度、斜面角等相一致，定位芯轴1的底部与
被测件的内径进行小间隙配合(间隙在0.05～0.172mm之间)，定位芯轴1的底部的缺口的底平面相对于轴心线垂直度为0.005mm，通规测试阶5、止规测试阶6与定位芯轴1的底面的平行度不大于0.005mm。例如，定位芯轴1的顶部宽度D1根据产品尺寸设置为29mm，公差0.2mm，斜面角θ为118度，公差1度，斜面的跳动度公差不大于0.015mm，旋转被测件，对被测件进行通规测试和止规测试，被测件旋转时能够通过通规测试阶5，而不能通过止规测试阶6，就代表被测件符合产品标准，即符合产品内侧的深度要求和跳动度要求。
[0026]实施例2：
[0027]在实施例1的基础上，本实施例对缺口做出改进，缺口的横截面积小于定位芯轴1的底部面积的1/2。
[0028]实施例3：
[0029]在实施例1的基础上，本实施例对量块4做出改进，通规测试阶5所处的水平高度比止规测试阶6所处的水平高度低。被测件旋转时能够通过通规测试阶5本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种深度及跳动度检测综合量规，其特征在于：包括定位芯轴分总成和量块(4)，所述定位芯轴分总成包括定位芯轴(1)，被测件套接在定位芯轴(1)的外侧，所述定位芯轴(1)的顶部与被测件的内侧相配合，所述定位芯轴(1)的底部设置有用于量块(4)通过的缺口，所述量块(4)的顶部设置有通规测试阶(5)和止规测试阶(6)。2.根据权利要求1所述的一种深度及跳动度检测综合量规，其特征在于：所述缺口的横截面积小于定位芯轴(1)的底部面积的1/2。3.根据权利要求1所述的一种深度及跳动度检测综合量规，其特征在于：所述通规测试阶(5)所处的水平高度比止规测试阶(6)所处的水平高度低。4.根据权利要求1所述的一种深度及跳动度检测综合量规，其特征在于：所述定位芯轴分总成还包括紧固螺栓(2)和底板(3)，所述定位芯轴(1)的底部与底板(3)之间通过紧固螺栓(2)进行固定。5.一种深度及跳动度检测综合量规的使用方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、把被测件套在定位芯轴(1)上，所述定位芯轴(1)的顶部形状、定位芯轴(1)的总长度、定位芯轴(1)底部的缺口的高度均根据产品需求进行设计；S2、量块(4)的顶部设置有通规测试阶(5)和止规测试阶(6)，分别用于对被测件进行通规测试和止规测试；S3、...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹仁会，
申请(专利权)人：隆昌山川机械有限责任公司，
类型：发明
国别省市：