一种透明胶点的胶高自动检测方法技术

本发明专利技术公开了一种透明胶点的胶高自动检测方法，包括三轴运动平台、CCD相机、点距离传感器和球形治具，自动检测方法包括中心点测高模式和基准面测高模式，中心点测高模式：校正点距离传感器和CCD相机的焦点位置；获取胶点的轮廓中心点坐标；在胶点轮廓中心点坐标周围的一定范围内标定多个探测坐标点，并测距，拟合出所述胶点的3D轮廓，计算出胶点表面最高点的坐标，测量与胶点表面最高点和与胶点下表面的距离；计算两者差值，得出胶点高度值；结合CCD相机对胶体的轮廓进行识别，通过在胶点中心一定范围内自动探测，且对胶体3D轮廓形态进行模拟，极大提高了测量精度，通过中心点测高模式和基准面测高模式，以适应各种不同的点胶场景。场景。场景。

【技术实现步骤摘要】
一种透明胶点的胶高自动检测方法


[0001]本专利技术涉及点胶
，尤其涉及的是一种透明胶点的胶高自动检测方法。

技术介绍

[0002]在点胶领域中，一些透明胶点胶工艺对胶点高度和直径的控制要求非常严格，但是对于透明胶水胶高的测量目前仍是行业内的一个难点，目前主要的方式是通过对胶点延直径进行破坏切片后使用二次元测量，这种方法会破坏产品，且精度不高，不适于生产中批量管控；采用高精度的高度规对胶点高度进行接触式测量，因胶水固化前无法直接接触测量、固化后受到挤压也会有一定程序的形变，导致测量精度降低，且也无法在线自动测量，故也不适用于规模化的自动检测；因此，现有技术存在缺陷，需要改进。

技术实现思路

[0003]针对现有技术存在的不足，本专利技术目的是提供一种透明胶点的胶高自动检测方法，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本专利技术所采用了下述的技术方案：
[0004]该透明胶点的胶高自动检测方法，包括三轴运动平台、CCD相机、点距离传感器和球形治具，所述CCD相机和所述点距离传感器均设置于所述三轴运动平台的工作端，所述球形治具设置于所述三轴运动平台工作范围内，所述的自动检测方法包括中心点测高模式和基准面测高模式，所述中心点测高模式包括以下步骤：
[0005]步骤S1、利用所述球形治具校正所述点距离传感器的焦点位置，并校正所述CCD相机的焦点位置；
[0006]步骤S2、计算出所述点距离传感器的焦点位置和所述CCD相机的焦点位置之间的相互位置关系；
[0007]步骤S3、移动所述CCD相机对透明胶点拍照，获取胶点的轮廓中心点坐标；
[0008]步骤S4、在所述胶点轮廓中心点坐标周围的一定范围内标定多个探测坐标点，并使用所述点距离传感器对标定的多个探测坐标点进行测距，根据与多个探测坐标点的距离，拟合出所述胶点的3D轮廓，并计算出胶点表面最高点的坐标。
[0009]步骤S5、移动所述点距离传感器，使其对应所述胶点表面最高点的坐标位置，测量与胶点表面最高点的距离，同时测量与胶点下表面的距离；
[0010]步骤S6、根据与胶点表面最高点的距离和与胶点下表面的距离，计算两者差值，得出胶点高度值。
[0011]优选的，步骤S1包括以下步骤：
[0012]步骤S11、将所述点距离传感器移动至所述球形治具上方，在所述球形治具上分别确定三个坐标点位置，分别为A点、B点、C点；
[0013]步骤S12、根据A点、B点和C点的位置计算出经过A点、B点和C点的圆的圆心位置；
[0014]步骤S13、将所述点距离传感器移动至对应所述圆心位置，测量与所述圆心位置的
距离，并移动所述点距离传感器，使所述点距离传感器的焦点位置与所述圆心位置坐标重合；
[0015]步骤S14、移动所述CCD相机，使所述CCD相机的焦点和所述圆心位置重合。
[0016]优选的，步骤S2包括：
[0017]获取所述点距离传感器焦点位置坐标值和所述CCD相机的焦点位置坐标值，计算出两者之间的差值。
[0018]优选的，所述三轴运动平台包括X轴直线模组、Y轴直线模组和Z轴直线模组，所述Y轴直线模组设置于所述X轴直线模组的工作端，所述Z轴直线模组设置于所述Y轴直线模组的工作端。
[0019]优选的，所述CCD相机和所述点距离传感器分别设置于所述Z轴直线模组的工作端。
[0020]优选的，所述点距离传感器为多波长多工作距离传感器。
[0021]优选的，所述基准面测高模式包括以下步骤：
[0022]步骤S100、设定高度基准点；
[0023]步骤S101、依次运行步骤S1、步骤S2；
[0024]步骤S102、移动所述点距离传感器至高度基准点的位置，测量与高度基准点的距离作为基准值；
[0025]步骤S103、依次运行步骤S3、步骤S4；
[0026]步骤S104、移动点距离传感器至胶点上方，并测量与胶点表面最高点的距离；
[0027]步骤S105、根据与高度基准点的距离和与胶点表面最高点的距离，计算两者差值，得出胶点高度值。
[0028]优选的，还包括抽检模式和全检模式，适用于多个待测胶点，所述抽检模式包括：
[0029]对部分待测胶点进行标记；
[0030]对标记的待测胶点进行路径规划；
[0031]根据规划的路径，使用中心点测高模式或基准面测高模式依次对标记的待测胶点进行测高。
[0032]优选的，所述全检模式包括：
[0033]对所有待测胶点进行路径规划；
[0034]根据规划的路径，使用中心点测高模式或基准面测高模式对每个待测胶点进行测高。
[0035]优选的，所述路径规划包括：
[0036]移动CCD相机对待测胶点进行拍照，获取待测胶点的轮廓中心点坐标；
[0037]计算出对多个待测胶点坐标测高的最优运动路径。
[0038]相对于现有技术的有益效果是，采用上述方案，本专利技术通过三轴运动平台带动点距离传感器运动，以非接触式对透明胶体高度进行精确测量；结合CCD相机对胶体的轮廓进行识别，通过在胶点中心一定范围内自动探测，从而得出最大胶高，且对胶体3D轮廓形态进行模拟，极大提高了测量精度，通过抽检模式和全检模式，对多胶点的探测路径实现自动规划，大大提高胶点检测效率，通过设计中心点测高模式和基准面测高模式，以适应各种不同的点胶场景，从而形成一套完整的透明胶点检测方法，满足不同场景的生产检测需求。
附图说明
[0039]图1为本专利技术的自动检测方法的中心点测高模式流程示意图；
[0040]图2为本专利技术的CCD相机的焦点和点距离传感器的焦点校正流程示意图；
[0041]图3为本专利技术的基准面测高模式流程示意图；
[0042]图4为本专利技术的在球形治具上分别确定三个坐标点的位置示意图；
[0043]图5为本专利技术的不同胶点形态的胶点表面最高点示意图；
[0044]图6为本专利技术的基准面测高模式准确性的多次测试记录；
[0045]图7为本专利技术的对A点、B点、C点重复性和再现性测距的测试记录。
具体实施方式
[0046]为了便于理解本专利技术，下面结合附图和具体实施例，对本专利技术进行更详细的说明。附图中给出了本专利技术的较佳的实施例。但是，本专利技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本说明书所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本专利技术的公开内容的理解更加透彻全面。
[0047]需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本说明书所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”“前”、“后”以及类似的表述只是为了说明的目的。
[0048]除非另有定义，本说明书所使用的所有的技术和科学术语与属于本本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种透明胶点的胶高自动检测方法，其特征在于，包括三轴运动平台、CCD相机、点距离传感器和球形治具，所述CCD相机和所述点距离传感器均设置于所述三轴运动平台的工作端，所述球形治具设置于所述三轴运动平台工作范围内，所述的自动检测方法包括中心点测高模式和基准面测高模式，所述中心点测高模式包括以下步骤：步骤S1、利用所述球形治具校正所述点距离传感器的焦点位置，并校正所述CCD相机的焦点位置；步骤S2、计算出所述点距离传感器的焦点位置和所述CCD相机的焦点位置之间的相互位置关系；步骤S3、移动所述CCD相机对透明胶点拍照，获取胶点的轮廓中心点坐标；步骤S4、在所述胶点轮廓中心点坐标周围的一定范围内标定多个探测坐标点，并使用所述点距离传感器对标定的多个探测坐标点进行测距，根据与多个探测坐标点的距离，拟合出所述胶点的3D轮廓，并计算出胶点表面最高点的坐标。步骤S5、移动所述点距离传感器，使其对应所述胶点表面最高点的坐标位置，测量与胶点表面最高点的距离，同时测量与胶点下表面的距离；步骤S6、根据与胶点表面最高点的距离和与胶点下表面的距离，计算两者差值，得出胶点高度值。2.根据权利要求1所述的一种透明胶点的胶高自动检测方法，其特征在于，步骤S1包括以下步骤：步骤S11、将所述点距离传感器移动至所述球形治具上方，在所述球形治具上分别确定三个坐标点位置，分别为A点、B点、C点；步骤S12、根据A点、B点和C点的位置计算出经过A点、B点和C点的圆的圆心位置；步骤S13、将所述点距离传感器移动至对应所述圆心位置，测量与所述圆心位置的距离，并移动所述点距离传感器，使所述点距离传感器的焦点位置与所述圆心位置坐标重合；步骤S14、移动所述CCD相机，使所述CCD相机的焦点和所述圆心位置重合。3.根据权利要求2所述的一种透明胶点的胶高自动检测方法，其特征在于，步骤S2包括：获取所述点距离传感器焦点位置坐标值和所述CCD相机的焦点位置坐标值，...

【专利技术属性】
技术研发人员：高艺博，刘豫颖，张业，熊钦，
申请(专利权)人：深圳市轴心自控技术有限公司，
类型：发明
国别省市：