一种COF成品翘曲度量测治具制造技术

本实用新型专利技术公开了半导体制造领域内的一种COF成品翘曲度量测治具，包括基座，所述基座包括量测平台和承载平台，对应所述承载平台上设置有可移动的压块，所述量测平台上设置有可移动的量规，所述量规的前侧面从上至下依次设置有若干刻度线，对应所述刻度线设置有刻度值。本实用新型专利技术能够方便人员快速确认产品翘曲度，及时发现异常并作出改善，避免产品不合格现象，降低了成品报废率。降低了成品报废率。降低了成品报废率。

【技术实现步骤摘要】
一种COF成品翘曲度量测治具


[0001]本技术属于半导体制造
，特别涉及一种COF成品翘曲度量测治具。

技术介绍

[0002]现有技术中COF常称覆晶薄膜，是将集成电路（IC）固定在柔性线路板上的晶粒软膜构装技术，运用软质附加电路板作为封装芯片载体将芯片与软性基板电路结合，或者单指未封装芯片的软质附加电路板，包括卷带式封装生产、软板连接芯片组件、软质IC载板封装。
[0003]COF成品在出货前存在翘曲现象，其不足之处在于：人员目测无法确认产品翘曲度，异常成品产出至客户端可能会造成客户抱怨；客户端抱怨后无法确认产品翘曲度是否超规格；当产品出现翘曲度异常时人员无法及时发现，导致未及时改善，增加了成品报废率。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是提供一种COF成品翘曲度量测治具，方便人员快速确认产品翘曲度，及时发现异常并作出改善，避免产品不合格现象，降低了成品报废率。
[0005]本技术的目的是这样实现的：一种COF成品翘曲度量测治具，其特征在于，包括基座，所述基座包括量测平台和承载平台，对应所述承载平台上设置有可移动的压块，所述量测平台上设置有可移动的量规，所述量规的前侧面从上至下依次设置有若干刻度线，对应所述刻度线设置有刻度值。
[0006]本技术使用时，将产品放置在承载平台上方，用压块压住卷带的尾部，使用量规量测处于下垂或上翘状态的卷带头部，量测值为MD（Machine Direction，纵向），量测数值在客户规范内即为合规，超出客户规范需进行重工或改善；将卷带平放在量测平台上，使卷带的侧边与量规对齐，使用量规量测卷带翘曲最严重的地方，量测值为TD（Transverse Direction，横向），量测数值在客户规范内即为合规，超出客户规范需进行重工或改善。与现有技术相比，本技术的有益效果在于：人员通过治具可以快速确认产品翘曲度是否超规；能够及时发现异常，避免产品异常现象；治具操作简单，可循环使用。
[0007]作为本技术的进一步改进，所述刻度线的数量为5，相邻两个所述刻度线之间的距离为10mm，所述刻度值从上至下依次为20，10，0，
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10，
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20，所述“0”刻度值对应的刻度线与所述承载平台上表面处于同一水平线。
[0008]作为本技术的进一步改进，所述刻度线的上下侧均设置有等间隔从上至下依次排列的9条毫米线，相邻两个所述毫米线之间的距离为1mm。
[0009]作为本技术的进一步改进，所述量测平台和承载平台均为矩形结构，所述承载平台的长边与量测平台的左边对齐设置。
[0010]作为本技术的进一步改进，所述压块为矩形结构，所述压块长和宽的尺寸与承载平台长和宽的尺寸一致。
[0011]作为本技术的进一步改进，所述量规还包括支撑板，所述支撑板垂直设置在量规的后侧。
[0012]作为本技术的进一步改进，所述治具由不锈钢材料制成。
附图说明
[0013]图1为本技术量测MD值时的立体结构示意图。
[0014]图2为本技术量测TD值时的正视图。
[0015]图3为本技术量测TD值时的俯视图。
[0016]图4为本技术的右视图。
[0017]其中，1基座，101量测平台，102承载平台，2压块，3量规，301刻度线，302刻度值，303毫米线，304支撑板，4卷带，5 IC。
具体实施方式
[0018]如图1
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4所示，为一种COF成品翘曲度量测治具，包括基座1，基座1包括矩形量测平台101和矩形承载平台102，承载平台102的长边与量测平台101的左边对齐设置；对应承载平台102上设置有可移动的压块2，压块2优选为矩形结构，压块2长和宽的尺寸与承载平台102长和宽的尺寸一致；在压块2与承载平台102之间设置有卷带4，若干IC等间隔依次设置在卷带4上；量测平台101上设置有可移动的量规3，量规3的前侧面从上至下依次设置有5条刻度线301，相邻两个所述刻度线301之间的距离为10mm，每条刻度线301的上下侧均设置有等间隔从上至下依次排列的9条毫米线303，相邻两个所述毫米线303之间的距离为1mm，对应每条刻度线301均设置有刻度值302，刻度值302从上至下依次为20，10，0，
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10，
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20，其中“0”刻度值302对应的刻度线301与承载平台102上表面处于同一水平线，量规3还包括支撑板304，支撑板304垂直设置在量规3的后侧可防止量规3在使用过程中倾倒；优选的，治具由耐磨损性较好且易于清洁的不锈钢材料制成，能够提高治具的使用寿命。
[0019]本技术在使用时，在将产品放置在承载平台102上方，用压块2压住卷带4的尾部，使用量规3量测处于下垂或上翘状态的卷带4头部，量测值为MD（Machine Direction，纵向），量测数值在客户规范内即为合规，超出客户规范需进行重工或改善；将卷带4平放在量测平台101上，使卷带4的侧边与量规3处于同一方向，使用量规3量测卷带4翘曲最严重的地方，量测值为TD（Transverse Direction，横向），量测数值在客户规范内即为合规，超出客户规范需进行重工或改善。本技术的优点在于：人员通过治具可以快速确认产品翘曲度是否超规；能够及时发现异常，避免产品不合格现象，降低了成品报废率；治具操作简单，可循环使用。
[0020]本技术并不局限于上述实施例，在本技术公开的技术方案的基础上，本领域的技术人员根据所公开的
技术实现思路
，不需要创造性的劳动就可以对其中的一些技术特征作出一些替换和变形，这些替换和变形均在本技术的保护范围内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种COF成品翘曲度量测治具，其特征在于，包括基座，所述基座包括量测平台和承载平台，对应所述承载平台上设置有可移动的压块，所述量测平台上设置有可移动的量规，所述量规的前侧面从上至下依次设置有若干刻度线，对应所述刻度线设置有刻度值。2.根据权利要求1所述的一种COF成品翘曲度量测治具，其特征在于，所述刻度线的数量为5，相邻两个所述刻度线之间的距离为10mm，所述刻度值从上至下依次为20，10，0，
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20，所述“0”刻度值对应的刻度线与所述承载平台上表面处于同一水平线。3.根据权利要求2所述的一种COF成品翘曲度量测治具，其特征在于，所述刻度线的上下侧均...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨爱平，韩慧，韦进，
申请(专利权)人：江苏汇成光电有限公司，
类型：新型
国别省市：