检测芯片及其制备方法、检测方法技术

一种检测芯片及其制备方法、检测方法，该检测芯片包括衬底基板(10)和检测层(20)，检测层(20)设置在衬底基板(10)上，包括多个检测孔(21)，多个检测孔(21)中的至少部分检测孔(21)的孔壁(21A)具有亲水性，且接触角在30度以内。该检测芯片可以通过简单的半导体制备工艺获得，并且注入其中的检测溶液更容易在检测孔(21)内聚集，相邻的检测孔(21)之间不容易形成串扰，从而可以提高检测准确性。从而可以提高检测准确性。从而可以提高检测准确性。从而可以提高检测准确性。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：高厚乾，赵子健，丁丁，罗欣莹，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：