电阻检测结构及待测电阻制造技术

本实用新型专利技术公开一种电阻检测结构及待测电阻，待测电阻具有第一电极和第二电极，电阻检测结构包括：至少一个第一检测针，至少一个第一检测针设置于第一电极上；至少两个第二检测针，至少两个第二检测针设置于第二电极上。本实用新型专利技术技术方案旨在提高电阻检测及修阻的精确度。的精确度。的精确度。

【技术实现步骤摘要】
电阻检测结构及待测电阻


[0001]本技术涉及电阻检测结构领域，特别涉及一种电阻检测结构及待测电阻。

技术介绍

[0002]一般而言，精密电阻是在基板上以多种制作过程形成多个电阻，但各项制作过程变异会造成电阻值产生偏差。所以需要对电阻进行修阻，将待修阻样品置于修阻机台载板上，由一机械修磨电阻或是电射激光切割电阻，以将电阻值调整至目标值，也就是改变(减小)金属本体截面积，从而得到最终的目标阻值。
[0003]但是电射修阻时电压检测是检测一个位置的电压，对单一点位进行电压检测有可能发生待测点位无法代表实际阻值的情况，从而导致修阻出现误差。

技术实现思路

[0004]本技术的主要目的是提出一种电阻检测结构及待测电阻，旨在提高电阻检测的精确度。
[0005]为实现上述目的，本技术提出一种电阻检测结构，应用于待测电阻，所述待测电阻具有第一电极和第二电极，所述电阻检测结构包括：
[0006]至少一个第一检测针，所述至少一个第一检测针设置于第一电极上；
[0007]至少两个第二检测针，所述至少两个第二检测针设置于第二电极上。
[0008]可选地，所述第一电极上设置有一个所述第一检测针，所述第二电极上设置有两个所述第二检测针；所述第一检测针设置于所述第一电极的中心点上，两个所述第二检测针设置与所述第二电极的中心点对称设置。
[0009]可选地，所述第一电极上设置有一个所述第一检测针，所述第二电极上设置有三个所述第二检测针；一个所述第一检测针设置在所述第一电极的中心点上，一个所述第二检测针设置在所述第二电极的中心点上，另两个所述第二检测针与所述第二电极的中心点对称设置。
[0010]可选地，所述第一电极上设置有三个所述第一检测针，所述第二电极上设置有三个所述第二检测针；一所述第一检测针设置于所述第一电极的中心点上，另两个所述第一检测针与所述第一电极的中心点对称设置，三个所述第二检测针与三个所述第一检测针一一对应平行设置。
[0011]可选地，所述第一检测针及所述第二检测针采用导电材料制成。
[0012]可选地，所述第一检测针及所述第二检测针的形状为圆柱形或针形。
[0013]本技术还提出一种待测电阻，所述待测电阻包括第一电极和第二电极，如上所述的电阻检测结构设置于所述第一电极和所述第二电极上；其中，所述电阻检测结构的至少一个第一检测针设置于所述第一电极上，所述电阻检测结构的至少两个第二检测针设置于所述第二电极上。
[0014]可选地，所述第一电极分为至少一个第一电压感应区，所述第一电压感应区的数
量对应所述第一检测针的数量设置，每一所述第一检测针对应设置在一所述第一电压感应区上，所述第二电极分为至少两个第二电压感应区，所述第二电压感应区的数量对应所述第二检测针的数量设置，每一所述第二检测针对应设置在一所述第二电压感应区上。
[0015]本技术技术方案通过至少一个第一检测针和至少两个第二检测针构成电阻检测结构，其中，至少一个第一检测针设置在待测电阻的第一电极上，至少两个第二检测针设置在待测电阻的第二电极上，如此可以检测第一检测针到多个第二检测针之间通路的电阻，得到多个电阻值，从而降低对于电阻阻值测试的误差。本技术旨在提高电阻检测的精确度。
附图说明
[0016]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
[0017]图1为本技术电阻检测结构一实施例的俯视图；
[0018]图2为本技术电阻检测结构另一实施例的俯视图；
[0019]图3为本技术电阻检测结构又一实施例的俯视图；
[0020]图4为本技术电阻检测结构再一实施例的俯视图。
[0021]附图标号说明：
[0022]标号名称标号名称10第一电极a第一检测针20第二电极b第二检测针30金属层c电流检测针
[0023]本技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
[0024]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0025]需要说明，若本技术实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后
……
)，则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
[0026]另外，若本技术实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本技术要求的保护范围之内。
[0027]本技术提出一种电阻检测结构，应用于待测电阻，所述待测电阻具有第一电极10和第二电极20。
[0028]参照图1至图4，在本技术一实施例中，所述电阻检测结构包括：
[0029]至少一个第一检测针a，所述至少一个第一检测针a设置于第一电极10上；
[0030]至少两个第二检测针b，所述至少两个第二检测针b设置于第二电极20上。
[0031]本实施例中，第一检测针a和第二检测针b可以采用圆柱形状或者检测针的一端采用针尖形状，具体形状可以根据实际情况设置；可以将至少一个第一检测针a设置在待测电阻的第一电极10上，将至少两个第二检测针b设置在待测电阻的第二电极20上，如此设置在待测电阻上的第一检测针a到第二检测针b可以形成至少两条电流电压通路；再通过检测设备与第一电极10上的检测针和第二电极20上的检测针电连接，来依次检测至少两条通路的电压值；还可以在第一电极和第二电极上分别设置一个电流检测针，形成电流通路，电流检测针于检测设备电连接，从而检测通路上的电流，为了保证电流检测的准确性，可以将电流检测针设置在电极的边缘，或者将待测电阻的电极与另一电阻相连，将电流检测针设置在另一电阻的电极上，也能检测出待测电阻的电流；再由电压、电流及电阻的关系式可以得到电阻中两条通路的阻值，可以通过计算器对至少两个阻值取平均值的方式来得到与平均值预设阻值的差值，从而可以降低误差值；或者通过比较器本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电阻检测结构，应用于待测电阻，所述待测电阻具有第一电极和第二电极，其特征在于，所述电阻检测结构包括：至少一个第一检测针，所述至少一个第一检测针设置于第一电极上；至少两个第二检测针，所述至少两个第二检测针设置于第二电极上。2.如权利要求1所述的电阻检测结构，其特征在于，所述待测电阻第一电极上设置有一个所述第一检测针，所述待测电阻第二电极上设置有两个所述第二检测针；所述第一检测针设置于所述第一电极的中心点上，两个所述第二检测针设置与所述第二电极的中心点对称设置。3.如权利要求1所述的电阻检测结构，其特征在于，所述待测电阻第一电极上设置有一个所述第一检测针，所述待测电阻第二电极上设置有三个所述第二检测针；一个所述第一检测针设置在所述第一电极的中心点上，一个所述第二检测针设置在所述第二电极的中心点上，另两个所述第二检测针与所述第二电极的中心点对称设置。4.如权利要求1所述的电阻检测结构，其特征在于，所述待测电阻第一电极上设置有三个所述第一检测针，所述待测电阻第二电极上设置有三个所述第二检测针；一所述第一检测针设置于所述第一电极的中心点上...

【专利技术属性】
技术研发人员：江显伟，
申请(专利权)人：钧崴电子科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：