一种基于机器视觉的电子元器件计数系统技术方案

本发明专利技术属于机器视觉领域，公开了一种基于机器视觉的电子元器件计数系统，包括第一摄像头、第二摄像头、料盘和计数模块；第一摄像头的主光轴与料盘所处的平面平行，第二摄像头的主光轴与料盘所处的平面垂直；第一摄像头用于沿着主光轴的方向对料盘进行拍摄，获得包含电子元器件的第一图像；计数模块用于根据第一图像判断是否出现重叠情况；第二摄像头用于在没有出现重叠情况时，沿着主光轴的方向对料盘进行拍摄，获得包含电子元器件的第二图像；计数模块用于对第二图像进行图像识别，获取电子元器件的数量。本发明专利技术有效地提高了对电子元器件进行计数的效率。行计数的效率。行计数的效率。

【技术实现步骤摘要】
一种基于机器视觉的电子元器件计数系统


[0001]本专利技术涉及机器视觉领域，尤其涉及一种基于机器视觉的电子元器件计数系统。

技术介绍

[0002]随着电子元器件的需求日益增加，电子元器件的筛选量也随之增加，但是微小电子元器件的散料计数能力还处于一般水平；市面上也有各种过数机，主要集中于编带过数、还有一些适用于大体积器件，对于微小器件和轻型器件的过数方式是有待改进的。人工过数，通过人工计数确认数量，效率低且人工成本较高；称重计数方式对于微小元器件不适用；专用编带式半自动过数机，只局限于编带器件，对于散料不适用。
[0003]随着图像识别技术的进步，出现了利用机器视觉来对电子元器件进行计数的技术。主要是将需要进行计数的电子元器件放在料盘上，然后对料盘进行拍摄，接着对获得的图像进行图像识别，从而得到出电子元器件的数量。
[0004]但是现有的基于机器视觉进行电子元器件计数的方式，由于存放在料盘中的电子元器件可能出现重叠的情况，在计数的过程中依然需要人工确定是否出现重叠的电子元器件，因为重叠的电子元器件会导致计数不准确。这就导致计数效率比较低。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于公开一种基于机器视觉的电子元器件计数系统，解决现有的通过机器视觉进行电子元器件的计算过程中存在的依靠人工进行重叠判断，技术效率比较低的问题。
[0006]为了达到上述目的，本专利技术采用如下技术方案：
[0007]一种基于机器视觉的电子元器件计数系统，包括第一摄像头、第二摄像头、料盘和计数模块；
[0008]第一摄像头的主光轴与料盘所处的平面平行，第二摄像头的主光轴与料盘所处的平面垂直；
[0009]第一摄像头用于沿着主光轴的方向对料盘进行拍摄，获得包含电子元器件的第一图像；
[0010]计数模块用于根据第一图像判断是否出现重叠情况，包括：
[0011]根据预设的行数获取第一图像中的重叠识别行；
[0012]对重叠识别行中的像素点进行重叠系数的计算：
[0013][0014]其中，ovrfac表示重叠系数，μ表示权重，maval和mival分别表示重叠识别行中的像素点的像素值的最大值和最小值，ofset表示重叠识别行中除了最后一个像素点之外的
其余的像素点的集合，grad
i
和grad
i,rgt
分别表示ofset中的像素点i和像素点i的右边的像素点的像素值，nof表示ofset中的像素点的数量，migrad表示重叠识别行中相邻的两个像素点的像素值的差值的最大值；
[0015]判断重叠系数是否大于设定的系数阈值，若是，则表示出现重叠情况，若否，则表示没有出现重叠情况；
[0016]第二摄像头用于在没有出现重叠情况时，沿着主光轴的方向对料盘进行拍摄，获得包含电子元器件的第二图像；
[0017]计数模块用于对第二图像进行图像识别，获取电子元器件的数量。
[0018]可选的，料盘用于存放待进行计数的电子元器件。
[0019]可选的，第一摄像头在垂直方向上的投影与料盘在垂直方向上的投影不重叠，
[0020]第一摄像头的主光轴与料盘的中心的垂线相交。
[0021]可选的，第二摄像头的主光轴垂直穿过料盘的中心。
[0022]可选的，对重叠识别行中的像素点进行重叠系数的计算，包括：
[0023]在RGB颜色空间或Lab颜色空间中对重叠识别行中的像素点进行重叠系数的计算。
[0024]可选的，计数模块包括重叠判断单元和计数单元；
[0025]重叠判断单元用于根据第一图像判断是否出现重叠情况；
[0026]计数单元用于对第二图像进行图像识别，获取电子元器件的数量。
[0027]可选的，基于机器视觉的电子元器件计数系统还包括振动装置；
[0028]料盘与振动装置的上方连接；
[0029]在将电子元器件放入到料盘中之后，对料盘进行振动。
[0030]可选的，振动装置还用于在出现重叠情况时，对料盘进行振动。
[0031]本专利技术通过设置的主光轴与料盘所处的平面平行的第一摄像头来拍摄用于重叠判断的第一图像，并对第一图像进行识别，实现了对电子元器件是否重叠的判断，本专利技术不需要人工判断是否重叠，有效地提高了对电子元器件进行计数的效率。
附图说明
[0032]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0033]图1为本专利技术一种基于机器视觉的电子元器件计数系统的一种示意图。
[0034]图2为本专利技术计数模块的一种示意图。
具体实施方式
[0035]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0036]如图1所示的一种实施例，本专利技术提供了一种基于机器视觉的电子元器件计数系
统，包括第一摄像头101、第二摄像头201、料盘301和计数模块401；
[0037]第一摄像头101的主光轴与料盘301所处的平面平行，第二摄像头201的主光轴501与料盘301所处的平面垂直；
[0038]第一摄像头101用于沿着主光轴的方向对料盘301进行拍摄，获得包含电子元器件的第一图像；
[0039]计数模块401用于根据第一图像判断是否出现重叠情况，包括：
[0040]根据预设的行数获取第一图像中的重叠识别行；
[0041]对重叠识别行中的像素点进行重叠系数的计算：
[0042][0043]其中，ovrfac表示重叠系数，μ表示权重，maval和mival分别表示重叠识别行中的像素点的像素值的最大值和最小值，ofset表示重叠识别行中除了最后一个像素点之外的其余的像素点的集合，grad
i
和grad
i,rgt
分别表示ofset中的像素点i和像素点i的右边的像素点的像素值，nof表示ofset中的像素点的数量，migrad表示重叠识别行中相邻的两个像素点的像素值的差值的最大值；
[0044]判断重叠系数是否大于设定的系数阈值，若是，则表示出现重叠情况，若否，则表示没有出现重叠情况；
[0045]第二摄像头201用于在没有出现重叠情况时，沿着主光轴的方向对料盘301进行拍摄，获得包含电子元器件的第二图像；
[0046]计数模块401用于对第二图像进行图像识别，获取电子元器件的数量。
[0047]在本专利技术中，预设的行数根据电子元器件的高度进行确定。第一摄像头101用于的主光轴与料盘3本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于机器视觉的电子元器件计数系统，其特征在于，包括第一摄像头、第二摄像头、料盘和计数模块；第一摄像头的主光轴与料盘所处的平面平行，第二摄像头的主光轴与料盘所处的平面垂直；第一摄像头用于沿着主光轴的方向对料盘进行拍摄，获得包含电子元器件的第一图像；计数模块用于根据第一图像判断是否出现重叠情况，包括：根据预设的行数获取第一图像中的重叠识别行；对重叠识别行中的像素点进行重叠系数的计算：其中，ovrfac表示重叠系数，μ表示权重，maval和mival分别表示重叠识别行中的像素点的像素值的最大值和最小值，ofset表示重叠识别行中除了最后一个像素点之外的其余的像素点的集合，grad
i
和grad
i,rgt
分别表示ofset中的像素点i和像素点i的右边的像素点的像素值，nof表示ofset中的像素点的数量，migrad表示重叠识别行中相邻的两个像素点的像素值的差值的最大值；判断重叠系数是否大于设定的系数阈值，若是，则表示出现重叠情况，若否，则表示没有出现重叠情况；第二摄像头用于在没有出现重叠情况时，沿着主光轴的方向对料盘进行拍摄，获得包含电子元器件的第二图像；计数模块用于对第二图像进行图像识别，获取电子元器件的数量。2.根据权利要求1所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄兰兰，孙艳丽，李彦青，丁洁，
申请(专利权)人：北京京瀚禹电子工程技术有限公司，
类型：发明
国别省市：