自动分析装置制造方法及图纸

自动分析装置(10)具备：测定装置(20)；一个以上的试样盘(30)，试样盘(30)用于载置多个试样容器(40)；搬送装置(50)，其从载置于试样盘(30)上的多个试样容器(40)中选择一个试样容器(40)并搬送到测定装置(20)，在由测定装置(20)进行测定之后使该试样容器(40)返回到原来的试样盘(30)；控制装置，其控制搬送装置(50)的动作；以及退避部(60)，其设置于与测定装置(20)及试样盘(30)不同的位置，用于暂时载置试样容器(40)。控制装置在无法使试样容器(40)从测定装置(20)返回到原来的试样盘(30)的情况下，使该试样容器(40)退避到退避部(60)。(60)。(60)。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】自动分析装置


[0001]本公开涉及一种自动分析装置。

技术介绍

[0002]已知通过对试样进行测定来分析试样的自动分析装置。作为自动分析装置的一种，存在荧光X射线分析装置。荧光X射线分析装置通过向试样照射X射线并对从试样发出的荧光X射线进行测定来对试样的构成元素进行分析。
[0003]国际公开WO2020/044399A1(专利文献1)公开了一种能够在载置多个试样的试样支承部(待机位置)与测定位置之间搬送试样的荧光X射线分析装置。专利文献1所记载的荧光X射线分析装置在使试样从待机位置移动到测定位置并对试样进行测定之后，使试样再次返回到待机位置。
[0004]现有技术文献
[0005]专利文献
[0006]专利文献1：国际公开WO2020/044399A1

技术实现思路

[0007]专利技术要解决的问题
[0008]在能够在待机位置与测定位置之间搬送试样的自动分析装置中，有时待机位置具备被放置于架子的试样盘。能够在试样盘载置多个试样容器。用户在将试样盘从架子拉出并将试样容器载置于试样盘之后，将试样盘放置于架子。在进行测定时，从载置于试样盘上的多个试样容器中选择作为测定对象的一个试样容器(下面也称为“对象容器”)，将该试样容器搬送到测定装置。在测定对象容器的试样之后，使对象容器返回到原来的试样盘，将下一个作为测定对象的试样容器搬送到测定室。由于试样盘在试样的测定过程中也能够被抽出装入，因此在测定结束后要使试样容器返回到原来的试样盘的时机，可能会发生试样盘没有被放置于架子这样的状况。另外，在要使结束了测定的试样容器返回到原来的试样盘的时机，可能会发生在要使试样容器返回的位置(下面也称为“原来的位置”)载置有其它试样容器这样的状况。在试样盘没有被放置于架子的情况下，若使试样容器返回，则试样容器会掉落而破损。另外，在原来的位置载置有其它试样容器的情况下，若使试样容器返回，则试样容器会由于与其它试样容器接触而破损。
[0009]本公开是鉴于上述实际情况而完成的，目的之一在于提供一种能够消除对多个试样依次进行测定的装置的弊端的自动分析装置。
[0010]用于解决问题的方案
[0011]本公开的对试样进行分析的自动分析装置具备：测定装置，其进行试样的测定；一个以上的试样盘，上述试样盘设置于测定装置的外部，用于载置多个试样容器；搬送装置，其从载置于试样盘上的多个试样容器中选择一个试样容器并搬送到测定装置，在由测定装置进行测定之后使该试样容器返回到原来的试样盘；控制装置，其控制搬送装置的动作；以
及退避部，其设置于与测定装置及试样盘不同的位置，用于暂时载置试样容器。控制装置在无法使试样容器从测定装置返回到原来的试样盘的情况下，使该试样容器退避到退避部。
[0012]专利技术的效果
[0013]根据本公开，在无法使试样容器从测定装置返回到原来的试样盘的情况下，使测定后的试样容器退避到退避部。由此，能够防止试样容器因掉落或接触而破损，因此能够消除对多个试样依次进行测定的装置的弊端。
附图说明
[0014]图1是示出根据实施方式1的荧光X射线分析装置的内部的图。
[0015]图2是示出根据实施方式1的荧光X射线分析装置的控制结构的图。
[0016]图3是示出根据实施方式1的测定装置的结构例的图。
[0017]图4是示出根据实施方式1的试样容器的搬送处理的流程图。
[0018]图5是示出根据实施方式1的试样容器的搬送处理的流程图。
[0019]图6是示出根据实施方式2的荧光X射线分析装置的控制结构的图。
具体实施方式
[0020]下面参照附图来详细说明各实施方式。此外，对图中的相同或相当的部分标注相同的附图标记，并且不重复其说明。下面，作为自动分析装置，列举荧光X射线分析装置为例来进行说明。
[0021][实施方式1][0022]<荧光X射线分析装置的整体结构>
[0023]参照图1及图2来说明根据实施方式1的荧光X射线分析装置的整体结构。图1是示出根据实施方式1的荧光X射线分析装置10的内部的图。图2是示出根据实施方式1的荧光X射线分析装置10的控制结构的图。荧光X射线分析装置10通过向试样照射X射线并对从试样发出的荧光X射线进行测定来对试样的构成元素进行分析。荧光X射线分析装置10具备测定装置20、试样盘30、架子31、架子传感器32、搬送装置50、退避部60、输入装置70、显示装置75以及控制装置80。
[0024]测定装置20是测定试样中包含的元素的浓度的能量色散型(Energy Dispersive X
‑
ray Fluorescence Spectrometer；EDX)的荧光X射线分析装置。测定装置20按照来自控制装置80的指示，向试样照射X射线，对试样中包含的元素的浓度进行测定。测定装置20由试样室106和测定室114构成。测定装置20被壳体和开闭盖覆盖，在内部形成密闭的空间。
[0025]试样盘30是能够由用户抽出装入的盘，设置于测定装置20的外部。试样盘30在试样的测定过程中也能够被抽出装入。在荧光X射线分析装置10内设置有一个以上的试样盘30。在该例子中，在荧光X射线分析装置10内设置有4个试样盘30。在各试样盘30载置多个试样容器40。在该例子中，在各试样盘30最多能够载置12个试样容器。
[0026]试样容器40是收容试样的容器，例如是在被照射X射线的分析面设置有透明膜的乳白色的容器。试样容器40的上部打开，试样容器40内是非密闭空间。试样容器40能够收容多种试样，除了能够收容固体试样以外还能够收容粉状试样、液体试样。
[0027]试样盘30放置在被设置于测定装置20的外部的架子31。在要将试样容器40载置于
试样盘30的情况下，用户在将试样盘30从架子31拉出并将试样容器40载置于试样盘30之后，将试样盘30插入架子31。在架子31设置有架子传感器32(相当于“第一传感器”)。架子传感器32对试样盘30被放置于架子31这一情况进行探测。在用于放置试样盘30的每个位置设置有架子传感器32，使得能够对试样盘30被放置于架子31的哪个位置进行探测。架子传感器32将探测结果发送到控制装置80。具体地说，在架子31放置有试样盘30的情况下，架子传感器32将在架子31放置有试样盘30这一情况以及被放置于架子31的试样盘30的标识符发送到控制装置80。在架子31没有放置试样盘30的情况下，架子传感器32将在架子31没有放置试样盘30这一情况发送到控制装置80。由此，控制装置80能够对被放置于架子31的试样盘30进行识别。此外，在不能识别被放置于架子31的试样盘30也可以的情况下，架子传感器32仅将在架子31是否放置有试样盘30发送到控制装置80。另外，架子传感器32也可以不按用于放置试样盘30的每个位置探测是否放置有试样盘30，而是探测是否在所有架子31放置有试样盘30。
[0028]搬本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种自动分析装置，对试样进行分析，具备：测定装置，其进行所述试样的测定；一个以上的试样盘，所述试样盘设置于所述测定装置的外部，用于载置多个试样容器；搬送装置，其从载置于所述试样盘上的多个所述试样容器中选择一个所述试样容器并搬送到所述测定装置，在由所述测定装置进行测定之后使该试样容器返回到原来的所述试样盘；控制装置，其控制所述搬送装置的动作；以及退避部，其设置于与所述测定装置及所述试样盘不同的位置，用于暂时载置所述试样容器，其中，所述控制装置在无法使所述试样容器从所述测定装置返回到原来的所述试样盘的情况下，使该试样容器退避到所述退避部。2.根据权利要求1所述的自动分析装置，其中，还具备：架子，其用于放置所述试样盘；以及第一传感器，其对所述试样盘被放置于所述架子这一情况进行探测，所述控制装置在所述第一传感器无法探测出所述试样盘被放置于所述架子的情况下，判定为无法使所述试样容器从所述测定装置返回到原来的所述试样盘。3.根据权利要求2所述的自动分析装置，其中，所述搬送装置具有用于把持所述试样容器的把持部，利用所述把持部把持所述试样容器来对该试样容器进行搬送，所述控制装置进行以下处理：在所述第一传感器能够探测出所述试样盘被放置于所述架子的情况下，使所述搬送装置在要使测定后的所述试样容器返回的位置进行把持所述试样容器的动作，基于伴随该动作而产生的所述把持部的状态，判定在要使测定后的所述试样容器返回的位置是否载置有其它试样容器，在要使测定后的所述试样容器...

【专利技术属性】
技术研发人员：冈田幸二，
申请(专利权)人：株式会社岛津制作所，
类型：发明
国别省市：