相位偏差测量电路、检测电路、芯片系统及其应用方法技术方案

本发明专利技术公开了一种相位偏差测量电路、检测电路、芯片系统及其应用方法，其中相位偏差测量电路包括粗粒度延时链、信号源选择器、细粒度延时链和采样单元。本发明专利技术的相位偏差测量电路利用芯片间互连总线信号的相位偏差与信号线寄生电容电阻电感等参数之间的耦合关系，基于粗粒度延时链和细粒度延时链相结合的方法检测不同信号之间相位偏差，具有普遍适用性，可广泛用于各种芯片的互连总线传输防护，能防止关键信息在互连总线传输过程中被探测分析，将芯片数据安全防护的范围从芯片内部拓展到芯片外部，具有安全性好、灵敏度高、适应范围广的优点，能够提升芯片间数据传输的安全性，避免通过总线探测途径泄露敏感数据。免通过总线探测途径泄露敏感数据。免通过总线探测途径泄露敏感数据。

【技术实现步骤摘要】
相位偏差测量电路、检测电路、芯片系统及其应用方法


[0001]本专利技术涉及集成电路设计领域的安全加固电路技术，具体涉及一种相位偏差测量电路、检测电路、芯片系统及其应用方法。

技术介绍

[0002]在电子信息系统中，往往存在多个不同的处理芯片，比如数据处理芯片和数据存储芯片，在不同芯片之间通过数据总线进行数据传输时，存在被恶意攻击者通过探针探测以恢复出传输数据的信息泄露风险。数据总线包括但不限于SPI、QSPI、UART、USART、以及I2C等。常规的示波器或者逻辑分析仪即具备信号线数据探测的能力。一般的，现有芯片对于数据总线上传输并无防泄漏保护措施，往往只负责实现相应的数据传输功能，这就导致芯片之间的数据总线成为可能的敏感信息泄露途径，恶意攻击者只要通过探针对数据信号线进行探测，就可以截获传输内容。如果芯片之间数据总线上传输的数据为明文格式，恶意攻击者可以轻易还原出数据传输的内容。因此，如何规避数据总线传输的信息泄露风险，已成为一项亟待解决的关键技术问题。

技术实现思路

[0003]本专利技术要解决的技术问题：针对现有技术的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种相位偏差测量电路，其特征在于，包括粗粒度延时链、信号源选择器、细粒度延时链和采样单元，所述粗粒度延时链包括N个串联的延时单元C
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DLY，用于将输入的第一检测信号S依次经过N个延时单元C
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DLY得到N路延时信号S1～SN；所述信号源选择器用于在选通信号CSEL的控制下从第一检测信号S以及N路延时信号S1～SN中选择一路检测信号SC作为细粒度延时链的输入；所述细粒度延时链包含M个串联的细粒度延时单元F
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DLY，用于将输入的检测信号SC依次经过M个细粒度延时单元F
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DLY得到M路延时信号F1～FM；所述采样单元包括与细粒度延时单元F
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DLY一一对应的D触发器单元，所述D触发器单元复位信号端RSTN连接使能信号EN、时钟端CK连接第二检测信号T、数据输入端D与对应细粒度延时单元F
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DLY的输出端相连、输出端用于输出第一检测信号S、第二检测信号T之间的相位偏差检测信号。2.一种相位偏差测量电路，其特征在于，包括细粒度延时链和采样单元，所述细粒度延时链包含M个串联的细粒度延时单元F
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DLY，用于将输入的第一检测信号S依次经过M个细粒度延时单元F
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DLY得到M路延时信号F1～FM；所述采样单元包括与细粒度延时单元F
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DLY一一对应的D触发器单元，所述D触发器单元复位信号端RSTN连接使能信号EN、时钟端CK连接第二检测信号T、数据输入端D与对应细粒度延时单元F
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DLY的输出端相连、输出端用于输出第一检测信号S、第二检测信号T之间的相位偏差检测信号。3.一种互连总线信号相位偏差远端检测电路，其特征在于，包括n个远端相位偏差测量电路RTDC1～RTDCn，远端相位偏差测量电路RTDC1～RTDCn为权利要求1或2所述的相位偏差测量电路，任意第i个远端相位偏差测量电路RTDCi用于在对应的选通信号CSEL的控制下检测得到来自远端芯片的第一检测信号RSi、第二检测信号RTi之间的相位偏差Ri。4.一种互连总线信号相位偏差本端检测电路，其特征在于，包括m个本端相位偏差测量电路LTDC1～LTDCm，本端相位偏差测量电路LTDC1～LTDCm为权利要求1或2所述的相位偏差测量电路，任意第i个远端相位偏差测量电路LTDCi用于在对应的选通信号CSEL的控制下检测得到来自本端芯片的第一检测信号LSi、第二检测信号LTi之间的相位偏差Li，且本端芯片的第一检测信号、第二检测信号连接到本端芯片的双向IO焊盘的输入信号。5.一种芯片，包括芯片本体，所述芯片本体中设有权利要求3所述的互连总线信号相位偏差远端检测电路或权利要求4所述的互连总线信号相位偏差本端检测电路。6.一种多芯片电路系统，包括通过互连总线...

【专利技术属性】
技术研发人员：戴葵，
申请(专利权)人：北京智涵芯宇科技有限公司，
类型：发明
国别省市：