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本发明公开了一种相位偏差测量电路、检测电路、芯片系统及其应用方法，其中相位偏差测量电路包括粗粒度延时链、信号源选择器、细粒度延时链和采样单元。本发明的相位偏差测量电路利用芯片间互连总线信号的相位偏差与信号线寄生电容电阻电感等参数之间的耦合关...
该专利属于北京智涵芯宇科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京智涵芯宇科技有限公司授权不得商用。

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