一种荧光粉抗真空紫外劣化性能的测试方法及测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及真空紫外激发领域，尤其涉及等离子显示屏荧光粉抗真空紫外光性能的测试方法，步骤如下１）将荧光粉压在带槽玻璃片上，放置在玻璃放电管中；２）金属电极贴在玻璃放电管外壁上；３）对玻璃放电管抽真空，充入惰性气体后密封；４）将高频交流电压加在金属电极上，调整电压激发惰性气体放电，激发荧光粉发光；５）在玻璃放电管内老化。测试装置，包括，玻璃放电管，金属电极，高频高压电源，在带槽玻璃片的槽中设置有荧光粉，放置在玻璃放电管中，金属电极设置在玻璃放电管的外壁上，电极连接高频高压电源，在玻璃放电管的两端部分别设置有进气管道与排气管道。本发明专利技术可以简单快捷地完成对ＰＤＰ荧光粉的抗真空紫外光劣化性能的测试。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及真空紫外激发领域，尤其涉及等离子显示屏PDP荧光 粉抗真空紫外光劣化情况的测试方法与测试装置。技术背景目前，等离子显示屏(Plasma Display Panel)荧光粉抗真空 紫外光劣化测试方面，大多是使用标准147nm光源灯在真空系统中直 接激发荧光粉，进行抗真空紫外光劣化测试。还有方法是制作一种VUV 灯，其原理是仿照气体放电原理，利用灯管制作工艺，在玻璃放电管 内接入两个对等电极，往管内充入惰性气体，然后封接，给电极两端 加上电压，从而使惰性气体放电，产生短波长的紫外光。在真空系统 中直接激发荧光粉，进行抗真空紫外光劣化测试。以上两种方法都存在很多弊端，第一种方法，由于标准147mn光 源比较昂贵，是好多用户都很难接受，加之长时间的老化，会影响光 源灯的寿命。第二种方法，虽然比较经济容易实现，但是由于从灯管 中所产生的短波长紫外光被玻璃所吸收，使其激发在荧光粉表面的紫 外光能量很弱，达不到荧光粉的老化要求。
技术实现思路
针对现有技术中用于测试等离子显示屏荧光粉的抗真空紫外光 劣化性能的方法成本高，紫外光被玻璃所吸收的技术问题，本专利技术提出一种荧光粉抗真空本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种荧光粉抗真空紫外劣化性能的测试装置，包括，玻璃放电管（１），一对金属电极（６、７），高频高压电源（８），其特征在于：在带槽玻璃片（３）的槽中设置有荧光粉（４），带槽玻璃片（３）上覆盖着玻璃片（５），覆盖着玻璃片（５）的带槽玻璃片（２）及其上的荧光粉（４）设置在玻璃放电管（１）中，一对金属电极（６、７）相对应设置在玻璃放电管（１）的外壁上，电极（６）的一端连接高频高压电源（８）的一端，电极（７）的一端连接高频高压电源（８）的另一端，在玻璃放电管（１）的两端部分别设置有进气管道（９）与排气管道（１０）。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：赵翔，郭涛，
申请(专利权)人：彩虹集团电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：61[中国|陕西]