【技术实现步骤摘要】
一种vcsel芯片及其制备方法
[0001]本专利技术涉及半导体
,特别涉及一种vcsel芯片及其制备方法。
技术介绍
[0002]垂直腔面发射激光器(简称VCSEL)是半导体激光器的一种,其内部蚀刻有圆形的发光台面,其中,现有的发光台面由湿法氧化技术制备而成,具体的,现有技术沿发光台面的边缘向内形成一个环形的氧化层,该氧化层包围的区域为发光区,更具体的,相对于圆形的发光台面,湿法氧化在发光台面四周向内部氧化的速度是相同的,使得在湿法氧化之后形成的发光区的形状一般为圆形或者近似圆形。
[0003]其中,发光区上方的p形半导体层可以实现电流的扩展注入,但是p形半导体层的方块电阻一般在几十到几百欧姆,使得其电流扩展能力有限,因此现有的圆台形vcsel的发光台面的直径在15
‑
70μm的范围,并且氧化后形成的发光区的直径在5
‑
50μm的范围,以便实现均匀的电流注入。进一步的,现有技术为了提高vcsel芯片的发光功率,会在单颗vcsel芯片上制作出多个圆台,以形成对应的阵列,并且圆 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种vcsel芯片,其特征在于:包括衬底以及设于所述衬底上的一体式刻蚀台面,所述一体式刻蚀台面设置为规则形状,所述一体式刻蚀台面中设有一体式发光区,所述一体式发光区的面积小于所述一体式刻蚀台面的面积,所述一体式发光区设置为规则形状或者不规则形状,所述一体式发光区的长度为宽度的4至2000倍。2.根据权利要求1所述的vcsel芯片,其特征在于:所述衬底上依次层叠设有n型半导体层、有源层以及p型半导体层,所述一体式刻蚀台面由所述n型半导体层、所述有源层以及所述p型半导体层刻蚀而成。3.根据权利要求2所述的vcsel芯片,其特征在于:所述n型半导体层包括若干对Al
x
Ga1‑
x
AsDBR,其中,0≤x≤1。4.根据权利要求2所述的vcsel芯片,其特征在于:所述p型半导体层包括多对Al
x
Ga1‑
x
AsDBR和一个或者多个高Al组分的Al
y
Ga1‑
y
As层,其中,0≤x≤1,0.9≤y≤1,x<y。5.根据权利要求1所述的vcsel芯片,其特征在于:所述一体式发光区的长度为20
‑
10000μm,所述一体式发光区的宽度为5
‑
70μm。6.一种应用于如权利要求1
‑
5中任意一项所述的vcsel芯片的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括以下步骤:提供一衬底,并在所述衬底上依次制作n型...
【专利技术属性】
技术研发人员:徐化勇,
申请(专利权)人:江西德瑞光电技术有限责任公司,
类型:发明
国别省市:
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