平行测试系统以及平行测试方法技术方案

本发明专利技术是有关于一种平行测试系统以及平行测试方法，特别是有关一种应用于开放式测试系统而实行平行测试的平行测试系统以及平行测试方法。本发明专利技术包含一简单的平行测试巨集指令的平行测试转换装置，而使开放式测试系统可以进行平行测试，而不需使用一复杂的前编译器（ｐｒｅ－ｃｏｍｐｉｌｅｒ），因此，可以降低测试成本以及改善测试效能。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种，特别是涉及一种应用于开放式 测试系统而实行平行测试的。
技术介绍
现行用于半导体测试的测试机台所采用的测试系统与方式一般分为两种，一为使 用图形介面(GUI)的测试系统，其所使用的测试程序已经内建于该系统中，使用者并无法 对其加以修改或是编写，即所谓的封闭式的测试系统；另一种则是开放给使用者进行测试 程序或是测试韧体码(code)编写的系统，再依使用者所编写的测试程序或是测试韧体码 对半导体元件进行测试，即所谓的开放式的测试系统。由于半导体元件普及与多元化，越来越多的种类的半导体元件被发展出来，因 此，测试机台往往需要对各种不同的半导体元件进行测试，而需要对不同的半导体元件使 用不同的测试程序。因此，使用图形介面(GUI)的测试系统此一封闭式系统显然不敷使 用，而开放式的测试系统使用上的比重则日益增加。然而，大多数的开放式的测试系统只 能提供单一半导体元件的测试，在同一时间内仅能对一个半导体元件进行测试，需等前一 个半导体元件为测试完毕之前，才会对下一个半导体元件进行测试，即所谓的循序测试 (Serial Test)，但是并无法在同一时间对多个半导体元件同时进行本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种平行测试系统，用以进行循序测试与平行测试之间，其特征在于其包含：一测试控制装置，用以控制半导体元件测试的流程与运作；一平行测试转换装置，用以进行循序测试与平行测试之间的切换；以及一测试执行装置，用以接受该测试控制装置所提供的测试指令与该平行测试转换装置所提供的测试模式，并根据该测试指令与该测试模式执行测试。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈福泰，
申请(专利权)人：京元电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]