【技术实现步骤摘要】
一种半导体生产系统及其清刷装置
[0001]本技术涉及半导体制造
,特别涉及一种清刷装置,以及一种设置有该清刷装置的半导体生产系统。
技术介绍
[0002]半导体制造过程中,部分工序会制造有机和无机微粒状副产物,这些有机和无机微粒状副产物可能会在进一步的晶圆加工过程中造成污染或交叉污染。因此,清洁这种微粒物质对于提高产品良率及减少与这种微粒状物质相关的缺陷是非常重要的。
[0003]现有技术中,对上述微粒物质的清洁方式各不相同。例如,采用某种液体清洁剂来对半导体器件(例如晶圆)或加工设备上的微粒物质进行清洁;或者,也可以使用机械力清洁方式,例如使用清理刷来对半导体器件或加工设备上的微粒物质进行清洁,该清理刷可以是毛刷或海绵刷。使用清理刷来清理微粒物质的过程中,刷子表面甚至毛刷内部或海绵内部容易吸附微粒物质,从而导致清理刷的使用寿命较低,而且,在进一步的加工过程中容易造成污染或交叉污染,导致产品良率较低。
技术实现思路
[0004]有鉴于此,本技术的目的在于提供一种半导体生产系统及其清刷装置,能够对毛 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种清刷装置,其特征在于,包括:清洗槽(11),设置有允许清理刷(2)进入槽内的开口;喷头(12),与所述清洗槽(11)固定连接,用于向位于所述清洗槽(11)内的所述清理刷(2)喷洒清洗介质。2.根据权利要求1所述的清刷装置,其特征在于,所述清洗介质为液态清洗介质,或气液混合型清洗介质。3.根据权利要求2所述的清刷装置,其特征在于,所述液态清洗介质包括水;或者,所述液态清洗介质包括在水中添加清洁剂获得的混合溶液。4.根据权利要求2所述的清刷装置,其特征在于,所述气液混合型清洗介质中的液体成分包括水,或在水中添加清洁剂获得的混合溶液;所述气液混合型清洗介质中的气体成分包括氮气。5.根据权利要求1所述的清刷装置,其特征在于,所述清洗槽(11)包括环形侧壁,所述环形侧壁安装有多个所述喷头(12),其中:沿所述环形侧壁的轴向,在不同的深度位置分别设置有一个或多个所述喷头(12);和/或,沿所述环形侧壁的周向,在不同的侧面位置分别设置有一个或多个所述喷头(12)。6.根据权利要求5所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:宋林杰,
申请(专利权)人:湖北三维半导体集成创新中心有限责任公司,
类型:新型
国别省市:
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