浮高检测装置制造方法及图纸

技术编号:37725519 阅读:10 留言:0更新日期:2023-06-02 06:23
本实用新型专利技术公开了一种浮高检测装置,涉及螺丝检测技术领域,其中,浮高检测装置包括基座和检测组件;检测组件弹性连接于基座并能相对基座滑动,检测组件包括位移传感器和基准件,位移传感器包括壳体和活动安装在壳体的接触杆,基准件相对壳体固定并套设在接触杆的外侧,接触杆的端部伸出基准件。本实用新型专利技术能够实现基准件与工件的弹性接触,保护了位移传感器。器。器。

【技术实现步骤摘要】
浮高检测装置


[0001]本技术涉及螺丝检测
,特别涉及一种浮高检测装置。

技术介绍

[0002]目前,螺丝为常见的工业必需品,其广泛用在电子、机械、五金等制造行业。随着人们生活水平的提高,人们对产品的要求也日渐提高,在产品组装的过程中,需要对产品进行锁螺丝工序,但在锁螺丝的过程中,很容易出现浮高现象。相关技术中,通常采用传感器检测螺丝的浮高,但是传感器的基准面容易与工件硬接触,造成传感器的破坏,从而降低传感器的使用寿命。

技术实现思路

[0003]本技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此,本技术提出一种浮高检测装置,能够延长传感器的使用寿命。
[0004]根据本技术实施例的浮高检测装置,包括:
[0005]基座;
[0006]检测组件,弹性连接于所述基座并能相对所述基座滑动,所述检测组件包括位移传感器和基准件,所述位移传感器包括壳体和活动安装在所述壳体的接触杆,所述基准件相对所述壳体固定并套设在所述接触杆的外侧,所述接触杆的端部伸出所述基准件。
[0007]根据本技术实施例的浮高检测装置,至少具有以下有益效果:
[0008]接触杆伸出基准件,进行螺丝检测时,首先与螺丝接触的是接触杆,接触杆受压向壳体回缩,直至基准件与工件表面发生接触,由于检测组件滑动安装在基座并与基座弹性连接,基准件与工件接触时,检测组件会在基座滑动,实现基准件与工件的弹性接触,保护了位移传感器,从而提高使用寿命。
[0009]根据本技术的一些实施例,所述基座包括直导轨,所述检测组件还包括滑动安装在所述直导轨的安装组件,所述壳体和所述基准件固定安装在所述安装组件。
[0010]根据本技术的一些实施例,所述基座还包括连接于所述直导轨的顶端的上限位块,所述安装组件弹性连接在所述上限位块。
[0011]根据本技术的一些实施例,所述安装组件包括第一连接块,所述第一连接块的一端通过第一弹簧与所述上限位块连接。
[0012]根据本技术的一些实施例,所述基座还包括连接于所述直导轨的底端的下限位块,所述第一连接块位于所述上限位块和所述下限位块之间。
[0013]根据本技术的一些实施例,所述安装组件还包括导向块,所述导向块滑动设置在所述直导轨,所述第一连接块连接所述导向块。
[0014]根据本技术的一些实施例,所述安装组件还包括安装在所述第一连接块的第二连接块,所述壳体和所述基准件均安装在所述第二连接块。
[0015]根据本技术的一些实施例,所述安装组件还包括安装在所述第二连接块的垫
块,所述基准件安装在所述垫块。
[0016]根据本技术的一些实施例,所述位移传感器还包括用于固定在所述壳体的安装支座。
[0017]根据本技术的一些实施例,所述壳体设置有通孔,所述接触杆穿设于所述通孔,所述壳体设置有基板,所述接触杆设置有限位部和滑动设置在所述基板的电刷架,所述限位部限制所述接触杆伸出所述通孔的距离,所述接触杆还设有第二弹簧,所述第二弹簧的一端抵接于所述壳体,所述第二弹簧的另一端抵接于所述电刷架。
附图说明
[0018]本技术的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解,其中:
[0019]图1是本技术浮高检测装置的结构示意图;
[0020]图2是本技术浮高检测装置的另一结构示意图;
[0021]图3是本技术浮高检测装置的另一结构示意图;
[0022]图4是图1中的位移传感器的结构示意图;
[0023]图5是图4中的接触杆的结构示意图。
[0024]附图标识:
[0025]基座100,上限位块110,下限位块120,直导轨130;
[0026]位移传感器200,壳体210,安装支座211,通孔212,接触杆220,限位部221,电刷架222,第二弹簧223;
[0027]基准件300;
[0028]安装组件400,第一连接块410,第一弹簧420,导向块430,第二连接块440,垫块450。
具体实施方式
[0029]下面详细描述本技术的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,仅用于解释本技术,而不能理解为对本技术的限制。
[0030]在本技术的描述中,需要理解的是,涉及到方位描述,例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本技术的限制。
[0031]在本技术的描述中,若干的含义是一个或者多个,多个的含义是两个以上,大于、小于、超过等理解为不包括本数,以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
[0032]本技术的描述中,除非另有明确的限定,设置、安装、连接等词语应做广义理解,所属
技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本技术
中的具体含义。
[0033]参照图1至图3所示,本技术一种实施例的浮高检测装置,包括基座100和检测组件,检测组件滑动设置在基座100,即检测组件可以在基座100上下滑动,且检测组件弹性连接于基座100,实现检测组件与工件的弹性接触。检测组件包括位移传感器200和基准件300,位移传感器200是将被测位移量的变化转换成电量,如电压、电流、阻抗等的变化。位移传感器200包括壳体210和接触杆220,接触杆220活动安装在壳体210,并穿出壳体210,方便对螺丝的检测。基准件300套设在接触杆220的外侧,需要说明的是,接触杆220的端部伸出基准件300,即基准件300并不完全遮挡接触杆220,便于螺丝的浮高检测。
[0034]具体地,由于接触杆220伸出基准件300,进行螺丝检测时,首先与螺丝接触的是接触杆220,接触杆220受压向壳体210回缩,直至基准件300与工件表面发生接触,由于检测组件弹性连接于基座100并能在基座100滑动,基准件300与工件接触时,检测组件会在基座100滑动,实现基准件300与工件的弹性接触,保护了位移传感器200,从而提高使用寿命。
[0035]需要说明的是,在其中一些实施例中,基准件300可以呈圆柱形,也可以呈方形,可适应于不同工件表面,对工件的精度要求低,容错率高,且匹配性强。基准件300的中部为中空设置,即基准件300的内壁不与接触杆220接触,防止接触杆220与基准件300发生摩擦,导致接触杆220的磨损。
[0036]需要说明的是本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种浮高检测装置,其特征在于,包括:基座(100);检测组件,弹性连接于所述基座(100)并能相对所述基座(100)滑动,所述检测组件包括位移传感器(200)和基准件(300),所述位移传感器(200)包括壳体(210)和活动安装在所述壳体(210)的接触杆(220),所述基准件(300)相对所述壳体(210)固定并套设在所述接触杆(220)的外侧,所述接触杆(220)的端部伸出所述基准件(300)。2.根据权利要求1所述的浮高检测装置,其特征在于,所述基座(100)包括直导轨(130),所述检测组件还包括滑动安装在所述直导轨(130)的安装组件(400),所述壳体(210)和所述基准件(300)固定安装在所述安装组件(400)。3.根据权利要求2所述的浮高检测装置,其特征在于,所述基座(100)还包括连接于所述直导轨(130)的顶端的上限位块(110),所述安装组件(400)弹性连接在所述上限位块(110)。4.根据权利要求3所述的浮高检测装置,其特征在于,所述安装组件(400)包括第一连接块(410),所述第一连接块(410)的一端通过第一弹簧(420)与所述上限位块(110)连接。5.根据权利要求4所述的浮高检测装置,其特征在于,所述基座(100)还包括连接于所述直导轨(130)的底端的下限位块(120),所述第一连接块(410)位于所述上限位块(110)和所述下限位块(120)...

【专利技术属性】
技术研发人员:张浩赵同志
申请(专利权)人:长园半导体设备珠海有限公司
类型:新型
国别省市:

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