分子数测定装置及分子数测定方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种分子数测定装置及分子数测定方法，其可以通过将光量的测量值与单个分子的理论光量进行比较，计算试样中的分子数。基于与分子数有相关性的光量而定量地测定试样的分子数。该分子数测定方法具有：计算单个分子的理论光量的步骤；使用摄像系统测量试样的光量的步骤；以及基于测量出的试样的光量和计算出的理论光量之比，计算试样的分子数的步骤。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种基于与分子数有相关性的光量而定量地测定试 样的分子数的分子数测定方法及分子数测定装置。
技术介绍
作为读取DNA微阵列(microarray)的装置，己知有微阵列扫 描仪。通过使用微阵列扫描仪扫描并读取DNA微阵列的图像，可以 将目标分子的荧光光量分布作为2维图像进行测定。专利文献l:特开2004—191232号公报
技术实现思路
但是，在上述微阵列扫描仪中，由于荧光光量是使用PMT (光 电倍增管Photomultiplier)在电流放大的同时进行测定的，所以难 以使其与照射在试样上的激励光量具有相关性。因此，荧光强度通常以任意单位表示。另外，由于不具有激励光等测定条件的校正单元， 所以虽然可以在1个画面内进行相对测定，但多次测定或设备之间的 数据无法直接比较。另一方面，激励光等光量均匀的光量可以由光电二极管等以可 溯源(traceable)至国家标准的方式进行测定，但得到的并不是图像， 而仅是零维的点的数据。与此相对，在特开2004—191232号公报中，公开了一种将照相 机的亮度值校正为国家标准中的光功率(W)的方法。由此，可以对 应于拍摄到的图像的每个像素而得本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种分子数测定方法，其基于与试样的分子数有相关性的光量，对上述分子数定量地进行测定，　其特征在于，具有：　计算单个分子的理论光量的步骤；　使用摄像系统测量上述试样的光量的步骤；以及　基于测量出的上述试样的光量和计算出 的上述理论光量之比，计算上述试样的分子数的步骤。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员：田名网健雄，青木秀年，佐藤纱绫，杉山由美子，
申请(专利权)人：横河电机株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]