多阶段模型的工件定位方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种多阶段模型的工件定位方法、装置、电子设备及存储介质，其中，该方法包括：获取包含待定位件的待处理图像；基于第一角点模型，在待处理图像中识别待定位件的角点的第一角点位置，并基于第一角点位置在待处理图像中加工得到角点图像；其中，角点图像为包含角点的局部图像；基于第二角点模型对角点图像进行处理，得到角点的第二角点位置；基于第二角点位置和第一角点位置确定角点的目标角点位置，并基于目标角点位置对待定位件进行加工定位。通过本发明专利技术，能够更加稳定可靠的从待处理图像中定位待定位件在图像中的像素坐标，从而支持机械设备的精细操作。从而支持机械设备的精细操作。从而支持机械设备的精细操作。

【技术实现步骤摘要】
多阶段模型的工件定位方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及图像处理的
，具体而言，涉及一种多阶段模型的工件定位方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]工件定位指待所有加工工件在被加工前要在按加工要求占有一致的正确位置，以实现精确的剪裁、切割、折弯等等加工工艺。
[0003]以对工件进行剪裁为例，工件厂商需要使用激光从工件垛的顶层开始依次向下进行精确加工。此时，工人可以操作工件电磁铁吸附工件垛的顶层工件，并将被吸附的工件放置到激光切割位，从而对工件进行剪裁切割。
[0004]但是，手工操作工件电磁铁进行工件切割的方式，会使工件切割位置不够精确，从而产生一定误差，从而降低良品率。
[0005]于是目前基于机器视觉的工件定位应运而生，大多通常采用滤波使得工件图像分离，随后通过对图像进行特征提取的方式；该类方式需要基于图像的边缘敏感，但是当工件的体积、背景、光照或者姿态等影响，使得在定位时容易发生误检，因此亟需一种更可靠的图像定位模型（方法）。

技术实现思路
<br/>[0006]本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多阶段模型的工件定位方法，其特征在于，包括：获取包含待定位件的待处理图像；基于第一角点模型，在所述待处理图像中识别所述待定位件的角点的第一角点位置，并基于所述第一角点位置在所述待处理图像中加工得到角点图像；其中，所述角点图像为包含所述角点的局部图像；基于第二角点模型对所述角点图像进行处理，得到所述角点的第二角点位置；基于所述第二角点位置和所述第一角点位置确定所述角点的目标角点位置，并基于所述目标角点位置对所述待定位件进行加工定位。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于第一角点模型，在所述待处理图像中识别所述待定位件的角点的第一角点位置，包括：基于所述第一角点模型对所述待处理图像进行语义分割处理，得到角点区域的第一掩码图像；其中，所述角点区域为包含所述角点的局部区域；基于所述第一掩码图像确定第一二值轮廓信息，并基于所述第一二值轮廓信息确定所述角点的第一角点位置。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一掩码图像确定第一二值轮廓信息，包括：识别所述第一掩码图像中的误检区域；其中，所述误检区域为所述待处理图像中不属于角点区域的区域；过滤所述第一掩码图像中的误检区域，得到第二掩码图像；基于所述第二掩码图像确定所述第一二值轮廓信息。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一二值轮廓信息包含轮廓像素点的像素坐标；所述基于所述第一二值轮廓信息确定所述角点的第一角点位置，包括：确定所述轮廓像素点的像素坐标的几何质心；基于所述几何质心确定所述第一角点位置。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于第二角点模型对所述角点图像进行处理，得到所述角点的第二角点位置，包括：基于所述第二角点模型对所述角点图像进行语义分割处理，得到角点区域的第三掩码图像；其中，所述角点区域为包含所述角点的局部区域；对所述第三...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘华林，陈仁，曾雪峰，朱俸泽，蒋开文，张思，唐海国，
申请(专利权)人：北京瓦特曼智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：