本申请涉及微电子组件生产领域，公开了一种微电子组件外观检验设备，包括工作台，工作台上设置有检验机构，工作台上滑动设置有滑板，工作台上设置有驱动机构，滑板上设置有用于放置微电子组件的支撑部，支撑部上滑动设置有用于对微电子组件侧边进行抵接限位的限位组件，支撑部上设置有用于对微电子组件下压固定的压紧组件。本申请具有能够通过限位组件和压紧组件对微电子组件进行限位压紧固定，每次微电子组件移动至检验机构下方处时均位于同一位置处，使得检验机构对微电子组件进行检验时不易出现因微电子组件偏移导致的检验不准确，从而提高了微电子组件的检验效率，达到改善因放置微电子组件易出现偏差导致微电子组件检验效率降低的效果。件检验效率降低的效果。件检验效率降低的效果。
【技术实现步骤摘要】
一种微电子组件外观检验设备
[0001]本申请涉及微电子组件生产的领域，尤其是涉及一种微电子组件外观检验设备。
技术介绍
[0002]PCBA也称为线路板组件或电路板组件，也俗称为微电子组件，近年来，信息技术的不断发展使得微电子组件作为信息技术的重要组成部分得到了迅速发展，当微电子组件上的元件经回流焊工艺焊接在微电子组件上后，需要对微电子组件的外观检验，减少出现元件漏接、错接的情况，从而保证输出的微电子组件为合格品。
[0003]目前，在对微电子组件外观进行检测时多使用微电子组件视觉检测装置，微电子组件视觉检测装置包括工作台、工业计算机和多个工业相机，工业计算机和多个工业相机均安装在工作台上，工作人员将微电子组件放置在工作台位于多个工业相机的下方处，多个工业相机对微电子组件的不同区域进行拍摄，再将拍摄的图像传输至工业计算机内，工业计算机将采集的图像与数据库内的标准图像进行比对，从而对微电子组件进行检验。
[0004]针对上述中的相关技术，工作人员将微电子组件放置在工作台上时，难以确保每次放置的微电子组件均位于同一置位处，当微电子组件放置在工作台上出现偏差时，工业相机拍摄采集的图像则会出现偏差，从而对检验结果造成影响，降低了检验效率，专利技术人认为存在有因放置微电子组件易出现偏差导致微电子组件检验效率降低的缺陷。
技术实现思路
[0005]为了改善因放置微电子组件易出现偏差导致微电子组件检验效率降低的问题，本申请提供一种微电子组件外观检验设备。
[0006]本申请提供的一种微电子组件外观检验设备采用如下的技术方案：
[0007]一种微电子组件外观检验设备，包括工作台，工作台上设置有检验机构，所述工作台上位于检验机构下方处滑动设置有滑板，所述工作台上设置有用于驱动滑板朝远离或靠近检验机构进行移动的驱动机构，所述滑板上设置有用于放置微电子组件的支撑部，所述支撑部上滑动设置有多个用于对微电子组件侧边进行抵接限位的限位组件，所述支撑部上设置有用于对微电子组件下压固定的压紧组件。
[0008]通过采用上述技术方案，在对微电子组件进行检验时，将微电子组件放置在支撑部上，滑动限位组件对支撑部上的微电子组件进行限位，再使用压紧组件对微电子组件进行下压，从而将微电子组件固定在支撑部上，驱动机构再通过滑板带动支撑部移动至检验机构下方，支撑部带动微电子组件移动至检验机构下方处，检验机构对微电子组件进行拍摄检验。如此设置，使用限位组件和压紧组件对微电子组件进行限位压紧固定，每次微电子组件移动至检验机构下方处时均位于同一位置处，使得检验机构对微电子组件进行检验时不易出现因微电子组件偏移导致的检验不准确，从而提高了微电子组件的检验效率。
[0009]优选的，所述支撑部包括第一支撑杆和第一支撑杆，所述第一支撑杆和第一支撑杆均设置在滑板上，所述第一支撑杆和第二支撑杆相互靠近的侧壁上均开设有用于放置微
电子组件的安装槽。
[0010]通过采用上述技术方案，将微电子组件放置在第一支撑杆和第二支撑杆的安装槽内，安装槽对微电子组件进行限位，使得微电子组件不易发生偏移。
[0011]优选的，所述限位组件设置有四个，两个所述限位组件滑动设置在第一支撑杆上，两个所述限位组件滑动设置在第二支撑杆上。
[0012]通过采用上述技术方案，微电子组件放置在第一支撑杆和第二支撑杆上后，先滑动第一支撑杆上的两个限位组件，两个限位组件对微电子组件位于第一支撑杆上的一端进行限位，再滑动第二支撑杆上的两个限位组件，两个限位组件对微电子组件位于第二支撑杆上的一端进行限位，从而进一步对微电子组件进行限位。
[0013]优选的，所述限位组件包括限位滑块和第一锁紧件，所述限位滑块滑动设置在第一支撑杆或第二支撑杆上，所述第一锁紧件设置在限位滑块上并用于将限位滑块固定在第一支撑杆或第二支撑杆上。
[0014]通过采用上述技术方案，在使用限位组件对微电子组件进行限位时，在第一支撑杆或第二支撑杆上移动限位滑块，限位滑块移动并抵接微电子组件后，使用第一锁紧件对限位滑块进行固定，从而完成对微电子组件的限位。
[0015]优选的，所述压紧组件设置有两个，一个所述压紧组件设置在第一支撑杆上，另一个所述压紧组件设置在第二支撑杆上。
[0016]通过采用上述技术方案，微电子组件完成限位后，两个压紧组件分别对微电子组件的两端进行下压，从而将微电子组件压紧固定在第一支撑杆和第二支撑杆上。
[0017]优选的，所述压紧组件包括第一驱动件、转动轴和压块，所述第一驱动件固定设置在第一支撑杆或第二支撑杆上，所述转动轴转动设置在第一支撑杆或第二支撑杆上并与第一驱动件的驱动端固定连接，所述压块设置在转动轴上。
[0018]通过采用上述技术方案，驱动件带动转动轴进行转动，转动轴带动压块进行转动，压块转动并抵压在微电子组件上，从而对微电子组件进行下压固定。
[0019]优选的，所述压块滑动套设在转动轴上，且所述压块上设置有用于将压块固定在转动轴上的第二锁紧件。
[0020]通过采用上述技术方案，在转动轴上滑动压块可对压块位置进行调节，调节后使用第二锁紧件对压块进行固定，通过调节压块在转动轴上的位置，使得压块可对不同尺寸的微电子组件进行压紧，从而提高压紧组件的适用范围。
[0021]优选的，所述第二支撑杆沿垂直自身长度方向可调节滑动设置在滑板上。
[0022]通过采用上述技术方案，滑动第二支撑杆可调节第二支撑杆与第一支撑杆之间的位置，使得支撑部可对不同尺寸的微电子组件进行支撑放置，从而提高支撑部的使用范围。
[0023]优选的，所述驱动机构包括第二驱动件、丝杆和移动套，所述第二驱动件固定设置在工作台上，所述丝杆转动设置在工作台上并与第二驱动件的驱动端固定连接，所述移动套固定设置在滑板上，且所述移动套螺纹套设在丝杆上。
[0024]通过采用上述技术方案，当微电子组件限位固定完成后，第二驱动件驱动丝杆进行转动，丝杆转动带动移动套沿丝杆轴线方向进行移动，移动套带动滑板进行移动，从而带动微电子组件移动至检验机构下方处。
[0025]优选的，所述限位滑块的侧壁上开设有用于对微电子组件进行卡接限位的卡槽。
[0026]通过采用上述技术方案，在对微电子组件进行限位时，限位滑块抵接在微电子组件上，此时微电子组件位于限位滑块的卡槽内，限位滑块的卡槽对微电子组件进行卡接固定并取代压紧组件的下压固定，使得限位滑块对微电子组件进行限位的同时还能够对线路板进行固定，从而更加便于对微电子组件进行限位固定。
[0027]综上所述，本申请包括以下至少一种有益技术效果：
[0028]1.通过采用限位组件和压紧组件对微电子组件进行限位压紧固定，每次微电子组件移动至检验机构下方处时均位于同一位置处，使得检验机构对微电子组件进行检验时不易出现因微电子组件偏移导致的检验不准确，从而提高了微电子组件的检验效率；
[0029]2.通过采用第二支撑杆可滑动调节安装在滑板上，滑动第二本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种微电子组件外观检验设备，包括工作台(1)，工作台(1)上设置有检验机构(2)，其特征在于：所述工作台(1)上位于检验机构(2)下方处滑动设置有滑板(3)，所述工作台(1)上设置有用于驱动滑板(3)朝远离或靠近检验机构(2)进行移动的驱动机构(4)，所述滑板(3)上设置有用于放置微电子组件的支撑部(5)，所述支撑部(5)上滑动设置有多个用于对微电子组件侧边进行抵接限位的限位组件(6)，所述支撑部(5)上设置有用于对微电子组件下压固定的压紧组件(7)。2.根据权利要求1所述的一种微电子组件外观检验设备，其特征在于：所述支撑部(5)包括第一支撑杆(51)和第一支撑杆(51)，所述第一支撑杆(51)和第一支撑杆(51)均设置在滑板(3)上，所述第一支撑杆(51)和第二支撑杆(52)相互靠近的侧壁上均开设有用于放置微电子组件的安装槽(8)。3.根据权利要求2所述的一种微电子组件外观检验设备，其特征在于：所述限位组件(6)设置有四个，两个所述限位组件(6)滑动设置在第一支撑杆(51)上，两个所述限位组件(6)滑动设置在第二支撑杆(52)上。4.根据权利要求3所述的一种微电子组件外观检验设备，其特征在于：所述限位组件(6)包括限位滑块(61)和第一锁紧件(62)，所述限位滑块(61)滑动设置在第一支撑杆(51)或第二支撑杆(52)上，所述第一锁紧件(62)设置在限位滑块(61)上并用于将限位滑块(61)固定在第一支撑杆(51)或第二支撑杆(52)上。5.根据权利要求2所述的一种微电子组件外观检验设备，其特征在于：所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：袁杰，姚欣毅，邓鑫，
申请(专利权)人：上海快贴电子有限公司，
类型：新型
国别省市：
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