本申请涉及LED灯测试技术领域，尤其是涉及一种用于检测矩阵灯的测试装置，包括测试板，测试板上形成多个引脚孔，测试板上设置有连接电源的插头，插头与引脚孔电连接，测试板设置有多个连接器，连接器和引脚孔电连接，连接器形成与矩阵灯引脚插接配合的连接孔。在对矩阵灯进行测试时，矩阵灯通过插拔的方式在测试板上进行拆装，无需对矩阵灯进行解焊，测试效率高，提高了矩阵灯在正式产品微电子组件上的装配效率。的装配效率。的装配效率。
【技术实现步骤摘要】
一种用于检测矩阵灯的测试装置
[0001]本申请涉及LED灯测试
，尤其是涉及一种用于检测矩阵灯的测试装置。
技术介绍
[0002]PCBA又称微电子组件，也就是说PCB空板经过SMT上件，或经过DIP插件的整个制程。LED灯，是一种将电能转化成可见光的固态半导体器件，随着LED灯的发展，出现了各种各样的LED灯。矩阵灯是一种较为常见的LED灯，矩阵灯有多个发光源，且多个发光源呈矩阵排列，因此称为矩阵灯。
[0003]相关技术中，矩阵灯需要装配在微电子组件上，矩阵灯上具有多个引脚，矩阵灯的引脚需要插接在微电子组件的引脚孔内，并通过锡焊将矩阵灯的引脚固定于微电子组件上，实现矩阵灯与微电子组件的电连接。矩阵灯锡焊于微电子组件后，需要对矩阵灯进行检测，在测试时需要将微电子组件接入电源，观察矩阵灯的发光源是否都发光，当矩阵灯的部分发光源或者全部发光源不发光时，证明矩阵灯出现损坏，需要对损坏的矩阵灯进行解焊，将损坏的矩阵灯从微电子组件上拆卸。
[0004]针对上述相关技术问题，专利技术人认为当矩阵灯损坏时，需要将对矩阵灯进行解焊，再将新的矩阵灯重新通过锡焊于微电子组件上，需要往复返工，影响矩阵灯在微电子组件上的装配效率。
技术实现思路
[0005]为了提高矩阵灯在正式产品微电子组件上的装配效率，本申请提供一种用于检测矩阵灯的测试装置。
[0006]本申请提供的一种用于检测矩阵灯的测试装置，采用如下的技术方案：
[0007]一种用于检测矩阵灯的测试装置，包括测试板，测试板上形成多个引脚孔，测试板上设置有连接电源的插头，插头与引脚孔电连接，所述测试板设置有多个连接器，所述连接器和所述引脚孔电连接，所述连接器形成与矩阵灯引脚插接配合的连接孔。
[0008]通过采用上述技术方案，在对矩阵灯进行检测时，将多个矩阵灯插接于连接孔内，使得矩阵灯于测试板电连接，并将插头与电源连通，如果矩阵灯的所有发光源均发光，则证明矩阵灯合格，否则矩阵灯不合格。将测试合格后矩阵灯再安装于正式产品的微电子组件上，在测试过程中通过插拔的方式在测试板上进行拆装，无需对矩阵灯进行解焊，测试效率高，也提高了矩阵灯在正式产品微电子组件上的装配效率。
[0009]优选的，所述测试板靠近引脚孔处形成焊盘，所述连接器焊接于焊盘上。
[0010]通过采用上述技术方案，焊盘通过接触连接器实现连接器与测试板的电连接，连接器通过焊接固定于焊盘上，提高了连接器与测试板之间的稳定性。
[0011]优选的，所述连接器与矩阵灯之间设置有辅助拆装板，所述辅助拆装板上形成多个与所述连接孔同轴的插孔，所述辅助拆装板抵接于连接器远离所述测试板的一侧，多个矩阵灯抵接于辅助拆装板远离所述连接器的一侧。
[0012]通过采用上述技术方案，在对矩阵灯测试后，需要将矩阵灯从测试板上拆除，工作人员对辅助拆装板施加远离连接器的作用力，使得辅助拆装板远离测试板移动，在辅助拆装板移动的过程中能够带动多个矩阵灯远离微电子组件移动。一次性能够拆除多个矩阵灯，无需将矩阵灯逐一从测试板上拆卸，提高了矩阵灯的拆卸效率，提高了整体测试效率。
[0013]优选的，所述辅助拆装板靠近所述测试板的一侧设置有定位环，所述连接器卡接于定位环内。
[0014]通过采用上述技术方案，定位环对辅助拆装板与连接器的配合形成定位效果，提高了插孔与连接孔的同轴度，使得矩阵灯的引脚更加容易通过插孔插入至连接孔内。
[0015]优选的，所述辅助拆装板远离所述测试板的一侧设置有安装罩，所述安装罩靠近辅助拆装板的一侧形成安装腔，矩阵灯位于所述安装腔内，所述安装罩抵接于矩阵灯远离所述辅助拆装板的一侧。
[0016]通过采用上述技术方案，将矩阵灯插接于测试板前，预先将多个矩阵灯安装于辅助拆装板上，在将矩阵灯安装于测试板时，将安装罩抵接于矩阵灯，将矩阵灯的引脚与连接器的连接孔对准后，按压安装罩，使得多个矩阵灯能够同时与测试板插接配合。
[0017]优选的，所述辅助拆装板靠近所述安装罩的一侧开设有环形槽，所述安装罩卡接于所述环形槽。
[0018]通过采用上述技术方案，环形槽提高了安装罩在辅助拆装板上的稳定性。
[0019]优选的，所述安装罩为透光材质。
[0020]通过采用上述技术方案，在测试过程中，便于透过安装罩观察矩阵灯的状态。
[0021]优选的，所述辅助拆装板远离所述测试板的一侧开设有卡接矩阵灯的安装槽。
[0022]通过采用上述技术方案，安装槽提高了矩阵灯与辅助拆装板配合的稳定性。
[0023]综上所述，本申请包括以下至少一种有益技术效果：
[0024]1.在对矩阵灯进行检测时，将多个矩阵灯插接于连接孔内，使得矩阵灯于测试板电连接，并将插头与电源连通，如果矩阵灯的所有发光源均发光，则证明矩阵灯合格，否则矩阵灯不合格。将测试合格后矩阵灯再安装于正式产品的微电子组件上，在测试过程中通过插拔的方式在测试板上进行拆装，无需对矩阵灯进行解焊，测试效率高，也提高了矩阵灯在正式产品微电子组件上的装配效率；
[0025]2.通过设置辅助拆装板，将多个矩阵灯从测试板上拆除时，工作人员对辅助拆装板施加远离连接器的作用力，使得辅助拆装板远离测试板移动，带动多个矩阵灯远离微电子组件移动，一次性能够拆除多个矩阵灯，无需将矩阵灯逐一从测试板上拆卸，提高了矩阵灯的拆卸效率，提高了整体测试效率，间接的提高了矩阵灯在正式产品微电子组件上的装配效率。
附图说明
[0026]图1是实施例1体现整体结构的示意图；
[0027]图2是实施例2体现整体结构的爆炸示意图；
[0028]图3是实施例2体现安装罩和辅助拆装板底部结构的示意图。
[0029]附图标记：1、测试板；2、引脚孔；3、插头；4、焊盘；5、连接器；6、连接孔；7、辅助拆装板；8、插孔；9、定位环；10、安装槽；11、安装罩；12、安装腔；13、环形槽。
具体实施方式
[0030]以下结合附图1
‑
3对本申请作进一步详细说明。
[0031]本申请实施例公开的一种用于检测矩阵灯的测试装置。
[0032]实施例1：
[0033]参照图1，一种用于检测矩阵灯的测试装置，包括方形的测试板1，测试板1上形成多个引脚孔2，测试板1的一侧安装有与电源连通的插头3。测试板1靠近其引脚孔2的侧壁上形成环形的焊盘4。焊盘4处焊接有柱状的连接器5。连接器5通过焊盘4与测试板1电连接。连接器5上形成与矩阵灯引脚插接配合的连接孔6。
[0034]参照图1，测试板1与正式产品所使用的微电子组件结构相近，便于模拟矩阵灯通电时的状态。在对矩阵灯进行检测时，将矩阵灯的引脚插接于连接孔6内，使得矩阵灯与测试板1电连接，测试板1上一次性能够插接多个矩阵灯。将矩阵灯插接于测试板1后，将插头3接通电源，使得测试板1上通电，如果矩阵灯的所有发光源均能够发光，则证明矩阵灯是合格的，如果矩阵灯的部分放光源是不能够发本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于检测矩阵灯的测试装置，包括测试板(1)，测试板(1)上形成多个引脚孔(2)，测试板(1)上设置有连接电源的插头(3)，插头(3)与引脚孔(2)电连接，其特征在于：所述测试板(1)设置有多个连接器(5)，所述连接器(5)和所述引脚孔(2)电连接，所述连接器(5)形成与矩阵灯引脚插接配合的连接孔(6)。2.根据权利要求1所述的一种用于检测矩阵灯的测试装置，其特征在于：所述测试板(1)靠近引脚孔(2)处形成焊盘(4)，所述连接器(5)焊接于焊盘(4)上。3.根据权利要求1所述的一种用于检测矩阵灯的测试装置，其特征在于：所述连接器(5)与矩阵灯之间设置有辅助拆装板(7)，所述辅助拆装板(7)上形成多个与所述连接孔(6)同轴的插孔(8)，所述辅助拆装板(7)抵接于连接器(5)远离所述测试板(1)的一侧，多个矩阵灯抵接于辅助拆装板(7)远离所述连接器(5)的一侧。4.根据权利要求3所述的一种用于检测矩阵灯的测试装置，其特征在...
【专利技术属性】
技术研发人员：邓鑫，肖运桂，陈洪霞，袁杰，
申请(专利权)人：上海快贴电子有限公司，
类型：新型
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。