一种控制轧辊粗糙度的方法、系统及设备技术方案

本发明专利技术公开了一种控制轧辊粗糙度的方法、系统及设备，其包括粗磨、中磨、第一精磨、第二精磨、第三精磨和测量辊形及圆度；基于预设磨削参数，当磨出的轧辊粗糙度会大于目标粗糙度时；在进行中磨时，磨削第一预设数量的道次；执行一个精磨道次返回中磨执行磨削剩下的道次；在第三精磨步骤执行第二预设数量的道次时，根据测量的粗糙度基于预设策略调整精磨磨削道次。建立参考磨削参数，基于参考磨削参数进行调整，实现了在不产生缺陷的情况下，提高磨削效率。效率。效率。

【技术实现步骤摘要】
一种控制轧辊粗糙度的方法、系统及设备


[0001]本专利技术涉及轧辊磨削的
，尤其涉及一种控制轧辊粗糙度的方法、系统及设备。

技术介绍

[0002]磨削连退、罩退平整机的轧辊0.4um粗糙度磨削过程中，主要使用的是5SG120型号砂轮，其有效使用直径范围为480～750mm，轧辊辊形为CVC曲线，轧辊的有效直径为400～450mm，另外其磨削程序主要分为粗磨、中磨、第一精磨、第二精磨、第三精磨、测辊形及圆度这几个步骤。现有技术中的磨削时只是通过理论的降低或者增加砂轮转速，或者改变磨削道次和磨削压力来降低或者提高粗糙度；但是现有的磨削方法一方面精确控制粗糙度的效果不明显，容易产生刀纹、振纹、斜纹等其他缺陷；另一方面磨削参数的调整没有标准数据作为参照会出现反复重磨，极大的影响磨削效率。由此急需一种控制轧辊粗糙度的方法、系统及设备。

技术实现思路

[0003]本申请实施例通过提供一种控制轧辊粗糙度的方法、系统及设备，至少部分解决了现有技术中磨削参数的调整没有参考数据出现反复重磨，极大的影响磨削效率的技术问题，实现了在不产生缺陷的情况下，提高磨削效率的技术效果。
[0004]第一方面，为解决上述技术问题，本专利技术的实施例提供了如下技术方案：
[0005]一种控制轧辊粗糙度的方法，包括粗磨、中磨、第一精磨、第二精磨、第三精磨和测量辊形及圆度，上述方法还包括：
[0006]基于预设磨削参数，当磨出的轧辊粗糙度会大于目标粗糙度时；
[0007]在进行上述中磨时，磨削第一预设数量的道次；
[0008]执行一个精磨道次返回上述中磨执行磨削剩下的道次；
[0009]在上述第三精磨步骤执行第二预设数量的道次时，根据测量的粗糙度基于预设策略调整精磨磨削道次。
[0010]可选的，上述方法还包括：
[0011]基于预设磨削参数，当磨出的轧辊粗糙度会小于目标粗糙度时；
[0012]将横移速度提高预设百分比对砂轮进行修整；
[0013]在粗磨时，根据砂轮直径和磨削压力的对应关系调整磨削压力；
[0014]在上述精磨中，提高恒电流增益值至预设范围；
[0015]在上述第三精磨步骤执行第三预设数量的道次时，根据测量的粗糙度基于预设策略调整精磨磨削道次。
[0016]可选的，上述根据砂轮直径和磨削压力的对应关系调整磨削压力的步骤，还包括：
[0017]在上述粗磨时，按先后顺序对位于前面的第四预设数量道次的磨削压力，按砂轮直径和磨削压力的对应关系进行调整；
[0018]将剩下磨削道次的磨削压力调整到正常值，增加预设横移速度和砂轮进给量。
[0019]可选的，在上述增加预设横移速度和砂轮进给量之后，还包括：
[0020]在进行上述中磨时，增加预设砂轮进给量和磨削道次。
[0021]可选的，上述提高恒电流增益值至预设范围的步骤还包括：
[0022]根据砂轮消耗量对恒电流增益在预设范围内进行调整。
[0023]可选的，上述方法还包括：
[0024]当检测到砂轮表面颜色为黑色时，对横移速度、砂轮转速和进给量进行调整。
[0025]可选的，上述方法还包括：
[0026]当检测到轧辊辊型不符合预设条件时；
[0027]实时跟踪检测上述中磨过程中的电流和辊型数据；
[0028]调整恒电流增益值和横移速度增益值，直至辊型达到预设要求，并将电流增益值和横移速度增益值恢复至正常值。
[0029]第二方面，提供一种控制轧辊粗糙度的系统，包括粗磨、中磨、第一精磨、第二精磨、第三精磨和测量辊形及圆度，上述系统还包括：
[0030]中磨模块，基于预设磨削参数，当磨出的轧辊粗糙度会大于目标粗糙度时；在进行上述中磨时，磨削第一预设数量的道次；
[0031]PC值调整模块，用于执行一个精磨道次返回上述中磨执行磨削剩下的道次；
[0032]第一精磨模块，用于在上述第三精磨步骤执行第二预设数量的道次时，根据测量的粗糙度基于预设策略调整精磨磨削道次。
[0033]可选的，上述系统还包括：
[0034]修整模块，基于预设磨削参数，当磨出的轧辊粗糙度会小于目标粗糙度时；将横移速度提高预设百分比对砂轮进行修整；
[0035]粗磨模块，用于在粗磨时，根据砂轮直径和磨削压力的对应关系调整磨削压力；
[0036]电流调整模块，用于在上述精磨中，提高恒电流增益值至预设范围；
[0037]第二精磨模块，用于在上述第三精磨步骤执行第三预设数量的道次时，根据测量的粗糙度基于预设策略调整精磨磨削道次。
[0038]第三方面，提供一种电子设备，上述电子设备包括：存储器、处理器及存储在上述存储器上并可在上述处理器上运行的计算机程序，上述处理器执行上述计算机程序时实现如第一方面上述方法对应的步骤。
[0039]本申请实施例中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：
[0040]利用日常磨削的参数等历史数据，采用大数据统计分析出不同砂轮直径范围既能够保证磨削质量又能保证接近目标粗糙度的磨削参数，从而对精确控制粗糙度有个前提保证，不至于产生刀纹、振纹、斜纹等其他缺陷。然后就是针对于不同材质的轧辊的磨削特性，分别在现有的磨削方法上，针对性的设置调整参数或工艺顺序，从而提高磨削效率。
附图说明
[0041]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的
附图。
[0042]图1为本申请提供的一种控制轧辊粗糙度的方法的流程图；
[0043]图2为本申请提供的一种控制轧辊粗糙度的方法另一种流程图；
[0044]图3为本申请提供的一种控制轧辊粗糙度的系统的结构示意图；
[0045]图4为本申请提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0046]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
[0047]因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0048]应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
[0049]应当理解本专利技术实施例以及实施例中的具体特征是对本申请技术本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种控制轧辊粗糙度的方法，包括粗磨、中磨、第一精磨、第二精磨、第三精磨和测量辊形及圆度，其特征在于，所述方法还包括：基于预设磨削参数，当磨出的轧辊粗糙度会大于目标粗糙度时；在进行所述中磨时，磨削第一预设数量的道次；执行一个精磨道次返回所述中磨执行磨削剩下的道次；在所述第三精磨步骤执行第二预设数量的道次时，根据测量的粗糙度基于预设策略调整精磨磨削道次。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：基于预设磨削参数，当磨出的轧辊粗糙度会小于目标粗糙度时；将横移速度提高预设百分比对砂轮进行修整；在粗磨时，根据砂轮直径和磨削压力的对应关系调整磨削压力；在所述精磨中，提高恒电流增益值至预设范围；在所述第三精磨步骤执行第三预设数量的道次时，根据测量的粗糙度基于预设策略调整精磨磨削道次。3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据砂轮直径和磨削压力的对应关系调整磨削压力的步骤，还包括：在所述粗磨时，按先后顺序对位于前面的第四预设数量道次的磨削压力，按砂轮直径和磨削压力的对应关系进行调整；将剩下磨削道次的磨削压力调整到正常值，增加预设横移速度和砂轮进给量。4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述增加预设横移速度和砂轮进给量之后，还包括：在进行所述中磨时，增加预设砂轮进给量和磨削道次。5.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述提高恒电流增益值至预设范围的步骤还包括：根据砂轮消耗量对恒电流增益在预设范围内进行调整。6.如权利要求1
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5任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：当检测到砂轮表面颜色...

【专利技术属性】
技术研发人员：张延杰，林悦，张文亮，何智邦，李真杰，
申请(专利权)人：首钢京唐钢铁联合有限责任公司，
类型：发明
国别省市：