一种芯片测试系统技术方案

本实用新型专利技术涉及芯片测试技术领域，提供一种芯片测试系统，包括：与待测芯片连接的测试电路；与所述测试电路、待测芯片连接且为所述待测芯片提供脉冲信号的脉冲信号发生电路；与所述测试电路连接，读取所述待测芯片输出电压值的电压读取电路，从而在没有专门的脉冲信号发生设备的情况下，实现LED芯片的功能测试，为用户提供便利，节省成本。节省成本。节省成本。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试系统


[0001]本技术属于LED芯片测试
，尤其涉及一种芯片测试系统。

技术介绍

[0002]作为电子元器件，发光二极管（LightEmittingDiode，LED）已出现40多年，但长久以来，受到发光效率和亮度的限制，仅为指示灯所采用，直到上世纪末突破了技术瓶颈，生产出高亮度高效率的LED和蓝光LED，使其应用范围扩展到信号灯、城市夜景工程、全彩屏等，提供了作为照明光源的可能性。随着LED应用范围的加大，提高LED可靠性具有更加重要的意义。LED具有高可靠性和长寿命的优点，在实际生产研发过程中，需要通过寿命试验对LED芯片的可靠性水平进行评价，并通过质量反馈来提高LED芯片的可靠性水平，以保证LED芯片质量，为此在实现全色系LED产业化的同时，开发了LED芯片可靠性试验的条件、方法、手段和装置等，以提高可靠性试验的科学性和结果的准确性。
[0003]在LED芯片的测试过程中，需要脉冲信号才能实现测试，但是脉冲信号需要专门的信号发生器，给测试带来较多不便。

技术实现思路

[0004]针对现有技术中的缺陷本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试系统，其特征在于，所述芯片测试系统包括：与待测芯片连接的测试电路；与所述测试电路、待测芯片连接且为所述待测芯片提供脉冲信号的脉冲信号发生电路；与所述测试电路连接，读取所述待测芯片输出电压值的电压读取电路。2.根据权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述测试电路包括三极管Q1，所述三极管Q1的发射极接地，所述三极管Q1的集电极引出的线路与待测芯片U1的引脚2连接；所述三极管Q1的发射极与接地端之间的线路上设有第一电路节点，所述第一电路节点引出的线路与所述待测芯片U1的引脚3连接，所述待测芯片U1的引脚3与所述第一电路节点之间的线路上设有第二电路节点，所述第二电路节点引出的线路与所述电压读取电路连接。3.根据权利要求2所述的芯片测试系统，其特征在于，所述第二电路节点与所述第一电路节点之间的线路上串接有电阻R1。4.根据权利要求2所述的芯片测试系统，其特征在于，所述脉冲信号发生电路包括供电单元、继电器控制单元、脉冲信号产生单...

【专利技术属性】
技术研发人员：李明志，赵泽源，肖海莲，李彦东，
申请(专利权)人：山东贞明半导体技术有限公司，
类型：新型
国别省市：