一种芯片测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供的一种芯片测试装置，包括支架组件、测试组件、驱动组件和磁体，其中，测试组件与所述支架组件连接，所述测试组件适于与待测芯片连接，驱动组件与所述支架组件连接，磁体设于所述待测芯片一侧，所述磁体与所述驱动组件连接且受所述驱动组件驱动而相对所述待测芯片转动，以对待测芯片施加旋转式磁场，进而引起待测芯片的输出变化，通过将待测芯片与测试组件连接，通过采集、分析及判别输出的变化，获得待测芯片的输出与外部磁场之间的关系曲线，通过此关系曲线可以得到待测芯片的基本特性，比如其灵敏度、零磁场输出、精度等，通过这些参数判断产品的优良。通过设置支架组件以将测试组件、驱动组件和磁体进行固定。驱动组件和磁体进行固定。驱动组件和磁体进行固定。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试装置


[0001]本专利技术涉及传感器的测试工装
，具体涉及一种芯片测试装置。

技术介绍

[0002]磁阻效应传感器是根据磁性材料的磁阻效应制成的，在对芯片测试过程中，对其施加可旋转式磁场，被检测角度传感器芯片的电阻，随磁场旋转角度的变化而变化，进而引起角度传感器芯片的输出变化，通过采集、分析及判别输出的变化，获得角度传感器的输出与外部磁场之间的关系曲线，通过此关系曲线可以得到角度传感器的基本特性，比如其灵敏度、零磁场输出、精度等，通过这些参数可以判断产品的优良。
[0003]但是在传统的测试工装中，往往无法给待测试的角度传感器芯片提供外部旋转磁场，从而无法检测角度传感器芯片在外部磁场变化下的输出情况，即无法得到角度传感器芯片的输出与外部磁场之间的关系曲线，无法满足对角度传感器芯片灵敏度、精度等性能的测试要求，从而影响判断角度传感器的性能优良判断。

技术实现思路

[0004]因此，本专利技术所要解决的技术问题在于现有技术中的测试工装中，往往无法给待测试的角度传感器芯片提供外部旋转磁场，从而无法检测角度传本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试装置，其特征在于，包括：支架组件(1)；测试组件(2)，与所述支架组件(1)连接，所述测试组件(2)适于与待测芯片(3)连接；驱动组件(4)，与所述支架组件(1)连接；磁体(5)，设于所述待测芯片(3)一侧，所述磁体(5)与所述驱动组件(4)连接且受所述驱动组件(4)驱动而相对所述待测芯片(3)转动，以对待测芯片(3)施加旋转式磁场。2.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，磁体(5)中心线位于所述待测芯片(3)内若干磁电阻构成的磁感应区域内。3.根据权利要求1或2所述的芯片测试装置，其特征在于，所述测试组件(2)包括：固定块(21)，与所述支架组件(1)连接，所述固定块(21)内设有适于放置所述磁体(5)的第一放置腔(211)；芯片测试座(22)，与所述固定块(21)连接，所述芯片测试座(22)上设有适于放置所述待测芯片(3)的第二放置腔；测试件(23)，设于所述固定块(21)与所述芯片测试座(22)之间，且所述测试件(23)与所述待测芯片(3)电性连接，以测试所述待测芯片(3)。4.根据权利要求3所述的芯片测试装置，其特征在于，所述测试组件(2)还包括若干测试探针(24)，任一所述测试探针(24)一端与所述测试件(23)电性连接，所述测试探针(24)另一端贯穿所述芯片测试座(22)适于与所述待测芯片(3)电性连接。5.根据权利要求4所述的芯片测试装置，其特征在于，所述测试件(23)包括电压输入端和电流输入端，所述电压输入端和/或电流输入端连接电...

【专利技术属性】
技术研发人员：白建民，朱跃强，高慧欣，于升辉，姚锡刚，白俊，朱海华，
申请(专利权)人：蚌埠希磁科技有限公司，
类型：发明
国别省市：