本实用新型专利技术提供的一种固定结构及电流测量装置，固定结构包括支架本体、第一连接组件和第二连接组件，固定结构适于连接于电流检测件与待检测件之间，第一连接组件与支架本体连接，第一连接组件适于与待检测件上的第一适配部连接，第二连接组件与支架本体连接，第二连接组件适于与电流检测件上的第二适配部连接，以连接电流检测件与待检测件，在对电流检测件进行单次大规模的测试与修调时，先将不装固定结构的待检测件穿过多个电流检测件进行测试与修调，这样安装方便，同时也减小了接触电阻，可实现单次大规模的生产测试与修调，本实用新型专利技术能够避免串接的方式会增加接触电阻，进而方便单次大规模的测试与修调。便单次大规模的测试与修调。便单次大规模的测试与修调。
【技术实现步骤摘要】
一种固定结构及电流测量装置
[0001]本技术涉及铜排线的电流测量装置，具体涉及一种固定结构及电流测量装置。
技术介绍
[0002]近年来，新能源汽车、光伏电站、通信基站、储能等电力电子系统正逐步向模块化、集成化、高功率密度、小体积方向发展。铜排由于体积小、过流能力强，铜排型导线的单根通流面积较大因而动稳定性和热稳定性都比电缆好，满足电力电子系统发展需要。由于铜排型导线存在形状特殊、负荷电流较大、感应磁场分布不规律的特点，传统的电流测量装置往往只适用于圆形截面的电流测量，无法对铜排型导线电流准确测量，因此，适用于测量铜排型导线电流的铜排电流测量装置应运而生。
[0003]如附图1所示，由于自动化生产方式需要，铜排电流测量装置通常需要在电流传感器本体a上预装一段铜排b，且电流传感器本体a和铜排b之间采用一体注塑固定，安装时，将预装铜排b与待检测铜排连接，以方便对待检测铜排进行检测。
[0004]但是上述的铜排电流测量装置，在对铜排电流测量装置进行生产测试与修调时，需要通过额外的铜排转接方式把相邻铜排电流测量装置的预设铜排串联起来，但是串接的方式会增加接触电阻，且连接数量越多接触电阻越大，在通入大电流时功耗大，不便于测试，无法实现单次大规模的测试与修调。
技术实现思路
[0005]因此，本技术所要解决的技术问题在于现有技术中的铜排电流测量装置，在对铜排电流测量装置进行生产测试与修调时，需要通过额外的铜排转接方式把相邻铜排电流测量装置的预设铜排串联起来，但是串接的方式会增加接触电阻，且连接数量越多接触电阻越大，在通入大电流时功耗大，不便于测试，无法实现单次大规模的测试与修调。
[0006]为此，本技术提供一种固定结构，适于连接于电流检测件与待检测件之间，还包括：
[0007]支架本体；
[0008]第一连接组件，所述第一连接组件与所述支架本体连接，所述第一连接组件适于与所述待检测件上的第一适配部连接；
[0009]第二连接组件，所述第二连接组件与所述支架本体连接，所述第二连接组件适于与所述电流检测件上的第二适配部连接，以连接所述电流检测件与所述待检测件。
[0010]可选地，所述第一连接组件为设于所述固定结构两端的若干第一支架卡扣，所述待检测件适于设于相邻所述第一支架卡扣之间。
[0011]可选地，所述第一支架卡扣上设有卡接槽，所述卡接槽适于与所述第一适配部卡接，以固定所述待检测件。
[0012]可选地，所述第二连接组件为设于所述支架本体一侧的若干第二支架卡扣，所述
第二适配部设于相邻所述第二支架卡扣之间。
[0013]可选地，相邻所述第二支架卡扣相互靠近一侧设有限位部，相邻所述限位部之间形成有设于放置所述第二适配部的限位腔，以固定所述电流检测件。
[0014]可选地，相邻所述限位部靠近一侧设有第一斜坡面，且沿所述支架本体安装方向，所述第一斜坡面延伸方向与所述安装方向呈锐角设置。
[0015]一种电流测量装置，包括电流检测件、待检测件和固定结构，固定结构连接于电流检测件与待检测件之间，所述固定结构为上述所述的固定结构。
[0016]可选地，所述电流检测件上设有适于穿设所述待检测件的通槽，所述通槽侧壁设有第二适配部。
[0017]可选地，所述第二适配部包括：
[0018]若干间隔设置的抵接件，所述抵接件相互远离一侧设有适于与第一斜坡面适配的第二斜坡面；
[0019]限位筋，设于所述抵接件一侧，第一支架卡扣设于所述限位筋与抵接件之间。
[0020]可选地，沿所述待检测件长度方向，所述待检测件两侧或两侧中的任意一侧设有第一适配部，所述第一适配部包括：
[0021]设于所述待检测件两侧或两侧中的任意一侧的凹槽；
[0022]凸块，与所述凹槽侧壁连接，所述凸块适于与第一支架卡扣上的卡接槽适配。
[0023]本技术提供的技术方案，具有如下优点：
[0024]1.本技术提供的固定结构，包括支架本体、第一连接组件和第二连接组件，固定结构适于连接于电流检测件与待检测件之间，所述第一连接组件与所述支架本体连接，所述第一连接组件适于与所述待检测件上的第一适配部连接，所述第二连接组件与所述支架本体连接，所述第二连接组件适于与所述电流检测件上的第二适配部连接，以连接所述电流检测件与所述待检测件。
[0025]此结构的固定结构，通过设置第一连接组件连接支架本体和待检测件上的第一适配部，第二连接组件连接支架本体和电流检测件，从而在对电流检测件进行单次大规模的测试与修调时，先将不装固定结构的待检测件穿过多个电流检测件进行测试与修调，这样安装方便，同时也减小了接触电阻，可实现单次大规模的生产测试与修调，生产测试与修调后，再把装有固定结构的待检测件与电流检测件连接，相对于现有技术中需要通过额外的铜排转接方式把相邻铜排电流测量装置的预设铜排串联起来，本技术能够避免串接的方式会增加接触电阻，进而方便单次大规模的测试与修调。
[0026]2.本技术提供的固定结构，所述第一支架卡扣上设有卡接槽，所述卡接槽适于与所述第一适配部卡接，以固定所述待检测件，所述第二连接组件为设于所述支架本体一侧的若干第二支架卡扣，所述第二适配部设于相邻所述第二支架卡扣之间。
[0027]此结构的固定结构，通过在第一支架卡扣上设有卡接槽，卡接槽适于与所述第一适配部卡接，进而能够方便将支架本体与待检测件连接，通过在支架本体一侧的若干第二支架卡扣，第二适配部设于相邻所述第二支架卡扣之间，能够方便支架本体与电流检测件连接。
[0028]3.本技术提供的固定结构，相邻所述第二支架卡扣相互靠近一侧设有限位部，相邻所述限位部之间形成有设于放置所述第二适配部的限位腔，以固定所述电流检测
件。
[0029]此结构的固定结构，通过设置相邻所述第二支架卡扣相互靠近一侧设有限位部，相邻所述限位部之间形成有设于放置所述第二适配部的限位腔，能够加强对电流检测件的固定。
[0030]4.本技术提供的电流测量装置，包括电流检测件、待检测件和固定结构，固定结构连接于电流检测件与待检测件之间，所述电流检测件上设有适于穿设所述待检测件的通槽，所述通槽侧壁设有第二适配部。
[0031]此结构的电流测量装置，通过设置电流检测件、待检测件和固定结构，能够方便电流检测件与待检测件的连接，相对于现有技术中需要通过额外的铜排转接方式把相邻铜排电流测量装置的预设铜排串联起来，本技术能够避免串接的方式会增加接触电阻，进而方便单次大规模的测试与修调。
附图说明
[0032]为了更清楚地说明本技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0033]图本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种固定结构，适于连接于电流检测件(4)与待检测件(5)之间，其特征在于，还包括：支架本体(1)；第一连接组件，所述第一连接组件与所述支架本体(1)连接，所述第一连接组件适于与所述待检测件(5)上的第一适配部(51)连接；第二连接组件，所述第二连接组件与所述支架本体(1)连接，所述第二连接组件适于与所述电流检测件(4)上的第二适配部(41)连接，以连接所述电流检测件(4)与所述待检测件(5)。2.根据权利要求1所述的固定结构，其特征在于，所述第一连接组件为设于所述固定结构两端的若干第一支架卡扣(2)，所述待检测件(5)适于设于相邻所述第一支架卡扣(2)之间。3.根据权利要求2所述的固定结构，其特征在于，所述第一支架卡扣(2)上设有卡接槽，所述卡接槽适于与所述第一适配部(51)卡接，以固定所述待检测件(5)。4.根据权利要求1
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3中任意一项所述的固定结构，其特征在于，所述第二连接组件为设于所述支架本体(1)一侧的若干第二支架卡扣(3)，所述第二适配部(41)设于相邻所述第二支架卡扣(3)之间。5.根据权利要求4所述的固定结构，其特征在于，相邻所述第二支架卡扣(3)相互靠近一侧设有限位部(31)，相邻所述限位部(31)之间形成有设于放置所述第二适配部(41)的限位腔，以固定所述电流检测件(4)。6.根据权利...
【专利技术属性】
技术研发人员：白建民，姚锡刚，徐晓鹏，谈侃，周冲冲，
申请(专利权)人：蚌埠希磁科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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