一种微型芯片的测试治具制造技术

本实用新型专利技术涉及芯片测试技术领域，公开了一种微型芯片的测试治具，包括箱体，所述箱体的内侧顶部左右侧均设置有开口槽，所述箱体的左侧固定连接有马达，所述马达的输出端贯穿左侧开口槽并固定连接有双向螺纹杆，所述双向螺纹杆的右端贯穿右侧开口槽并转动连接在右侧开口槽的内部右侧，所述双向螺纹杆的左右侧均螺纹连接有第一活动块。本实用新型专利技术中，通过马达带动双向螺纹杆转动，双向螺纹杆上的活动块会向中间靠拢，不需要更换不同的测试治具，实用性较好，并且通过挤压第一固定板，第一固定板底侧的第一弹簧会带动第一凹槽中的第二活动块向两侧移动，可以减轻探针模组堵对芯片的压力，提高了探针模组的使用寿命。提高了探针模组的使用寿命。提高了探针模组的使用寿命。

【技术实现步骤摘要】
一种微型芯片的测试治具


[0001]本技术涉及芯片测试
，尤其涉及一种微型芯片的测试治具。

技术介绍

[0002]现在电子封装的工艺技术和发展趋势是拥有更高的电性能和热性能，其具有轻、薄、小、批量生产、便于安装与使用的特性需求，器件的小型化高密度封装形式也越来越多，因而需对其进行测试处理，因此需使用到相应的测试治具。
[0003]目前市场上现有的微型芯片测试治具在工作前需要将芯片夹持固定，方便后续的工作，但是只能夹持同种类型的芯片，不能夹持不同大小的芯片，需要更换不同的测试治具，增加了成本，实用性较差，并且现有的微型芯片测试治具在测试时，通过探针模组下压检测芯片，由于没有减压装置，会有可能导致芯片和探针模组损坏，降低了探针模组的使用寿命，不能满足使用者的需求。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种微型芯片的测试治具。
[0005]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：一种微型芯片的测试治具，包括箱体，所述箱体的内侧顶部左右侧均设置有开口槽，所述箱体的左侧固定连接有马达，所述马达的输出端贯穿左侧开口槽并固定连接有双向螺纹杆，所述双向螺纹杆的右端贯穿右侧开口槽并转动连接在右侧开口槽的内部右侧，所述双向螺纹杆的左右侧均螺纹连接有第一活动块，两个所述第一活动块的前后侧均固定连接有第一滑块，两个所述开口槽的内部前后侧均设置有第一滑槽，所述第一滑块分别与对应的第一滑槽滑动连接，所述第一活动块的顶部固定连接有夹板，所述箱体的底部固定连接有第一固定板，所述第一固定板的底部设置有第一凹槽，所述第一凹槽的内部固定连接有第一固定杆，所述第一固定杆的左右侧均转动连接有第二活动块，所述第二活动块的底部固定连接有活动杆，两个所述活动杆通过第一弹簧相连接，两个所述活动杆的底侧设置有第三固定板，所述第三固定板的顶部左右侧均固定连接有第二固定板，两个所述第二固定板通过第二固定杆相连接，所述第二固定杆的左右侧均转动连接有第三滑块，所述第三滑块的相远离一侧均固定连接有第二弹簧，所述第二弹簧的相远离一端分别与对应的第二固定板固定连接，两个所述活动杆分别与对应的第三滑块固定连接。
[0006]作为上述技术方案的进一步描述：
[0007]所述箱体的顶部左侧设置有第二凹槽，所述第二凹槽的内部转动连接有转杆，所述转杆的前后侧均设置有扭力弹簧，所述扭力弹簧的一端与箱盖固定连接，所述扭力弹簧的另一端与第二凹槽的内壁固定连接，所述箱盖的底部固定连接有探针模组。
[0008]作为上述技术方案的进一步描述：
[0009]所述箱体的前侧固定连接有控制器，所述控制器与马达电性连接。
[0010]作为上述技术方案的进一步描述：
[0011]所述箱盖的右侧固定连接有拉手。
[0012]作为上述技术方案的进一步描述：
[0013]所述第一凹槽的内部前后侧均设置有第二滑槽，两个所述第二活动块的前后侧均固定连接有第二滑块。
[0014]作为上述技术方案的进一步描述：
[0015]所述夹板的相邻一侧均固定连接有橡胶垫。
[0016]作为上述技术方案的进一步描述：
[0017]所述箱体和箱盖均采用不锈钢材质。
[0018]作为上述技术方案的进一步描述：
[0019]两个所述夹板之间设置有芯片。
[0020]本技术具有如下有益效果：
[0021]1、本技术中，通过马达带动双向螺纹杆转动，双向螺纹杆上的活动块会向中间靠拢，从而可以夹持固定不同大小的芯片，不需要更换不同的测试治具，减少了成本，实用性较好。
[0022]2、本技术中，通过挤压第一固定板，第一固定板底侧的第一弹簧会带动第一凹槽中的第二活动块向两侧移动，第二固定杆上的第三滑块也会向两侧移动，可以减轻探针模组堵对芯片的压力，提高了探针模组的使用寿命，能够满足使用者的需求。
附图说明
[0023]图1为本技术提出的一种微型芯片的测试治具的正视图；
[0024]图2为本技术提出的一种微型芯片的测试治具的结构拆分图；
[0025]图3为本技术提出的一种微型芯片的测试治具的局部结构拆分图。
[0026]图例说明：
[0027]1、箱体；2、马达；3、双向螺纹杆；4、第一活动块；5、开口槽；6、第一滑块；7、第一滑槽；8、夹板；9、第一固定板；10、第一凹槽；11、第二滑槽；12、第一固定杆；13、第二活动块；14、第二滑块；15、活动杆；16、第一弹簧；17、第二固定板；18、第二固定杆；19、第二弹簧；20、第三滑块；21、第三固定板；22、第二凹槽；23、转杆；24、扭力弹簧；25、箱盖；26、探针模组；27、芯片；28、橡胶垫；29、控制器；30、拉手。
具体实施方式
[0028]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0029]参照图1
‑
3，本技术提供的一种实施例：一种微型芯片的测试治具，包括箱体(1)，所述箱体(1)的内侧顶部左右侧均设置有开口槽(5)，所述箱体(1)的左侧固定连接有马达(2)，所述马达(2)的输出端贯穿左侧开口槽(5)并固定连接有双向螺纹杆(3)，所述双向螺纹杆(3)的右端贯穿右侧开口槽(5)并转动连接在右侧开口槽(5)的内部右侧，所述双
向螺纹杆(3)的左右侧均螺纹连接有第一活动块(4)，两个所述第一活动块(4)的前后侧均固定连接有第一滑块(6)，两个所述开口槽(5)的内部前后侧均设置有第一滑槽(7)，所述第一滑块(6)分别与对应的第一滑槽(7)滑动连接，所述第一活动块(4)的顶部固定连接有夹板(8)，从而可以夹持固定不同大小的芯片27，不需要更换不同的测试治具，减少了成本，实用性较好，所述箱体(1)的底部固定连接有第一固定板(9)，所述第一固定板(9)的底部设置有第一凹槽(10)，所述第一凹槽(10)的内部固定连接有第一固定杆(12)，所述第一固定杆(12)的左右侧均转动连接有第二活动块(13)，所述第二活动块(13)的底部固定连接有活动杆(15)，两个所述活动杆(15)通过第一弹簧(16)相连接，两个所述活动杆(15)的底侧设置有第三固定板(21)，所述第三固定板(21)的顶部左右侧均固定连接有第二固定板(17)，两个所述第二固定板(17)通过第二固定杆(18)相连接，所述第二固定杆(18)的左右侧均转动连接有第三滑块(20)，所述第三滑块(20)的相远离一侧均固定连接有第二弹簧(19)，所述第二弹簧(19)的相远离一端分别与对应的第二固定板(17)固定连接，两个所述活动杆(15)分别与对应的第三滑块(20)固定连接，提高了探针模组26的使用本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种微型芯片的测试治具，包括箱体(1)，其特征在于：所述箱体(1)的内侧顶部左右侧均设置有开口槽(5)，所述箱体(1)的左侧固定连接有马达(2)，所述马达(2)的输出端贯穿左侧开口槽(5)并固定连接有双向螺纹杆(3)，所述双向螺纹杆(3)的右端贯穿右侧开口槽(5)并转动连接在右侧开口槽(5)的内部右侧，所述双向螺纹杆(3)的左右侧均螺纹连接有第一活动块(4)，两个所述第一活动块(4)的前后侧均固定连接有第一滑块(6)，两个所述开口槽(5)的内部前后侧均设置有第一滑槽(7)，所述第一滑块(6)分别与对应的第一滑槽(7)滑动连接，所述第一活动块(4)的顶部固定连接有夹板(8)，所述箱体(1)的底部固定连接有第一固定板(9)，所述第一固定板(9)的底部设置有第一凹槽(10)，所述第一凹槽(10)的内部固定连接有第一固定杆(12)，所述第一固定杆(12)的左右侧均转动连接有第二活动块(13)，所述第二活动块(13)的底部固定连接有活动杆(15)，两个所述活动杆(15)通过第一弹簧(16)相连接，两个所述活动杆(15)的底侧设置有第三固定板(21)，所述第三固定板(21)的顶部左右侧均固定连接有第二固定板(17)，两个所述第二固定板(17)通过第二固定杆(18)相连接，所述第二固定杆(18)的左右侧均转动连接有第三滑块(20)，所述第三滑块(20)的相远离一侧均固定连接有第二弹簧(19)，所述第二弹簧(19)的相远离一端分...

【专利技术属性】
技术研发人员：孔祺荣，
申请(专利权)人：苏州市惠海精密科技有限公司，
类型：新型
国别省市：