一种微型芯片高精度测试机构制造技术

本实用新型专利技术公开了一种微型芯片高精度测试机构，包括测试箱和辅助缓冲机构，所述测试箱的内壁上固定连接有固定块，所述固定块的上端面开设有凹槽，所述凹槽中滑动连接有放置板，所述放置板的下端面对称固定连接有两个连接块，每个所述连接块的下端均固定连接有第一斜块。本实用新型专利技术，通过竖杆、滑板和滑块的配合设置，可以拉伸第一弹簧，第一弹簧对放置板具有缓冲的作用；通过第一斜块、第二斜块和第二弹簧的配合设置，可以对放置板起到缓冲的作用，第二斜块通过推杆、推板和第三弹簧的配合设置，可以进一步对放置板起到缓冲的作用，防止探针与芯片本体发生刚性挤压导致芯片本体损坏，进而降低了芯片本体的报废率。进而降低了芯片本体的报废率。进而降低了芯片本体的报废率。

【技术实现步骤摘要】
一种微型芯片高精度测试机构


[0001]本技术涉及芯片测试
，尤其涉及一种微型芯片高精度测试机构。

技术介绍

[0002]随着移动互联网技术、物联网技术、5G技术的迅速发展，使得电子产品不断的向高度集成化、微型化方向发展。芯片类电子元器件的尺寸在不断的变小，质量在不断的提升。因此对芯片类元器件在测试过程中的定位，PAD点(简称焊盘，是产品上用来传递信号的对外接触点)下针等都提出了更高的要求，现有的测试结构定位方式和PAD点下针方式已经不能满足需求，目前的芯片测试结构常用的定位方式是探针在XY方向位置是固定的，产品移动到测试位置后，探针下压与产品PAD点接触。此种方式的缺点是探针与PAD点定位精度低，产品PAD点尺寸要比较大，只能测试一些PAD点尺寸比较大的芯片。
[0003]为了解决上述问题，公开号为CN212540447U的现有专利公开了一种结构简单紧凑、设计合理、定位精度高且能够适用于PAD点尺寸较小的产品的微型芯片高精度测试结构。本技术包括XYZ自动滑台，所述XYZ自动滑台上设置有针卡安装组件，所述针卡安装组件上设置有针卡，所述XYZ自动滑台的一侧设置有工业相机，在使用时通过工业相机获取探针以及产品PAD点的位置，从而确定探针与产品PAD点的坐标，XYZ自动滑台移动补偿探针与产品PAD点的坐标差异，完成对位并下压接触；可见，整体结构简单紧凑、设计合理；工业相机获取位置信息精确，定位精度高；面对各种尺寸的PAD点都能够精准定位，能够适用于PAD点尺寸较小的芯片。
[0004]但是现有的技术中测试装置没有缓冲机构，探针都是直接抵在芯片上，与芯片发生刚性挤压，很容易破坏芯片上的电路导致芯片无法正常使用，进而提高芯片的报废率。
[0005]针对上述问题，我们提出一种微型芯片高精度测试机构。

技术实现思路

[0006]本技术的目的是为了解决现有技术中“但是现有的技术中测试装置没有缓冲机构，探针都是直接抵在芯片上，与芯片发生刚性挤压，很容易破坏芯片上的电路导致芯片无法正常使用，进而提高芯片的报废率”的缺陷，从而提出一种微型芯片高精度测试机构。
[0007]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：
[0008]一种微型芯片高精度测试机构，包括测试箱和辅助缓冲机构，所述测试箱的内壁上固定连接有固定块，所述固定块的上端面开设有凹槽，所述凹槽中滑动连接有放置板，所述放置板的下端面对称固定连接有两个连接块，每个所述连接块的下端均固定连接有第一斜块，所述固定块内对称开设有两个第一空腔，每个所述第一空腔中均滑动连接有推板，两个所述推板相背的一侧均固定连接有第三弹簧，每个所述第三弹簧的另一端均固定连接在第一空腔的内壁上，两个所述推板相对的一侧均固定连接有推杆，每个所述推杆的另一端均贯穿第一空腔并固定连接有第二斜块，两个所述第二斜块分别与两个所述第一斜块之间滑动连接，每个所述推杆上均套接有第二弹簧，所述测试箱的内壁固定连接有电动伸缩杆，
所述电动伸缩杆的伸缩端上固定连接有连接板，所述连接板的下端面固定连接有探针。
[0009]优选的，所述辅助缓冲机构包括固定筒，所述固定筒的下端面固定连接在凹槽的内壁上，所述放置板的下端面固定连接有竖杆，所述竖杆的下端贯穿固定筒的上端面并固定连接有滑板，所述竖杆滑动连接在固定筒的内壁中，所述滑板滑动连接在固定筒的内壁上，所述固定块内开设有第二空腔，所述固定筒通过连通管与第二空腔相连通，所述第二空腔中对称滑动连接有两个滑块，两个所述滑块之间固定连接有第一弹簧。
[0010]优选的，所述放置板的上端面开设有放置槽，所述放置槽中设置有芯片本体，所述探针的下端抵在芯片本体的上端面上。
[0011]优选的，所述电动伸缩杆伸缩端的侧壁上固定连接有支撑板，所述支撑板的下端面固定连接有摄像头。
[0012]优选的，两个所述推杆均滑动连接在固定块的内壁中，两个所述第二弹簧的两端分别固定连接在凹槽的内壁上和第二斜块的侧壁上。
[0013]优选的，所述测试箱的侧壁上设置有开关门，所述开关门上固定连接有把柄。
[0014]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0015]通过竖杆、滑板和滑块的配合设置，可以拉伸第一弹簧，第一弹簧对放置板具有缓冲的作用；通过第一斜块、第二斜块和第二弹簧的配合设置，可以对放置板起到缓冲的作用，第二斜块通过推杆、推板和第三弹簧的配合设置，可以进一步对放置板起到缓冲的作用，防止探针与芯片本体发生刚性挤压导致芯片本体损坏，进而降低了芯片本体的报废率。
附图说明
[0016]图1为本技术提出的一种微型芯片高精度测试机构中辅助缓冲机构的立体结构示意图；
[0017]图2为本技术提出的一种微型芯片高精度测试机构的正面剖视结构示意图；
[0018]图3为本技术提出的图2中A处的放大结构示意图。
[0019]图中：1测试箱、2固定块、3放置板、4芯片本体、5竖杆、6固定筒、7滑板、8滑块、9第一弹簧、10连接块、11第一斜块、12第二斜块、13推杆、14第二弹簧、15推板、16第三弹簧、17电动伸缩杆、18摄像头、19探针。
具体实施方式
[0020]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0021]在本技术的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0022]参照图1
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3，一种微型芯片高精度测试机构，包括测试箱1和辅助缓冲机构，测试箱1的内壁上固定连接有固定块2，固定块2的上端面开设有凹槽，凹槽中滑动连接有放置板3，放置板3的下端面对称固定连接有两个连接块10，每个连接块10的下端均固定连接有第一
斜块11，固定块2内对称开设有两个第一空腔，每个第一空腔中均滑动连接有推板15，两个推板15相背的一侧均固定连接有第三弹簧16，每个第三弹簧16的另一端均固定连接在第一空腔的内壁上，两个推板15相对的一侧均固定连接有推杆13，每个推杆13的另一端均贯穿第一空腔并固定连接有第二斜块12，两个第二斜块12分别与两个第一斜块11之间滑动连接，每个推杆13上均套接有第二弹簧14，测试箱1的内壁固定连接有电动伸缩杆17，电动伸缩杆17的伸缩端上固定连接有连接板，连接板的下端面固定连接有探针19，通过第一斜块11、第二斜块12和第二弹簧14的配合设置，可以对放置板3起到缓冲的作用，第二斜块12通过推杆13、推板15和第三弹簧16的配合设置，可以进一步对放置板3起到缓冲的作用，防止探针19与芯片本体4发生刚性挤压导致芯片本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种微型芯片高精度测试机构，包括测试箱(1)和辅助缓冲机构，其特征在于，所述测试箱(1)的内壁上固定连接有固定块(2)，所述固定块(2)的上端面开设有凹槽，所述凹槽中滑动连接有放置板(3)，所述放置板(3)的下端面对称固定连接有两个连接块(10)，每个所述连接块(10)的下端均固定连接有第一斜块(11)，所述固定块(2)内对称开设有两个第一空腔，每个所述第一空腔中均滑动连接有推板(15)，两个所述推板(15)相背的一侧均固定连接有第三弹簧(16)，每个所述第三弹簧(16)的另一端均固定连接在第一空腔的内壁上，两个所述推板(15)相对的一侧均固定连接有推杆(13)，每个所述推杆(13)的另一端均贯穿第一空腔并固定连接有第二斜块(12)，两个所述第二斜块(12)分别与两个所述第一斜块(11)之间滑动连接，每个所述推杆(13)上均套接有第二弹簧(14)，所述测试箱(1)的内壁固定连接有电动伸缩杆(17)，所述电动伸缩杆(17)的伸缩端上固定连接有连接板，所述连接板的下端面固定连接有探针(19)。2.根据权利要求1所述的一种微型芯片高精度测试机构，其特征在于，所述辅助缓冲机构包括固定筒(6)，所述固定筒(6)的下端面固定连接在凹槽的内壁上，所述放置板...

【专利技术属性】
技术研发人员：孔祺荣，
申请(专利权)人：苏州市惠海精密科技有限公司，
类型：新型
国别省市：