一种电路板功能检测用测试电路制造技术

本申请涉及一种电路板功能检测用测试电路，其包括供电模块、MCU控制模块，开关模块、动作模块以及显示驱动模块；供电模块耦接于MCU控制模块、开关模块、动作模块以及显示驱动模块；MCU控制模块用于发出闭合控制信号至开关模块，MCU控制模块用于在发出闭合控制信号后，向显示驱动模块发出驱动控制信号；开关模块接收到闭合控制信号时输出闭合信号至动作模块；动作模块包括直动式电磁阀，当电磁阀接收到闭合信号时，电磁阀的阀体推动开关元器件。本申请具有方便对PCB板上开关元器件进行测试的效果。果。果。

【技术实现步骤摘要】
一种电路板功能检测用测试电路


[0001]本申请涉及自动化测试的
，尤其是涉及一种电路板功能检测用测试电路。

技术介绍

[0002]目前，PCB板在完成上锡贴片、贴装等程序后，需要对PCB板以及PCB板上的元器件的功能进行测试，根据测试结果判断并回收故障PCB板重新加工，以提高PCB板出厂质量。
[0003]关于香薰机的电路板功能测试时，测试电路通过给PCB板施加工作电源和测试信号，以判断PCB板的功能是否正常运行。而测试开关类的元器件时，普遍还采用手动按压、拨动的方式，操作较为繁琐且存在静电干扰，PCB板开关元器件的测试不方便，影响PCB板的测试效率，因此有待改进。

技术实现思路

[0004]为了方便对PCB板上开关元器件进行测试，使得PCB板的测试效率更高；本申请提供了一种电路板功能检测用测试电路。
[0005]本申请的上述专利技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种电路板功能检测用测试电路，包括供电模块、MCU控制模块，开关模块、动作模块以及显示驱动模块；所述供电模块耦接于MCU控制模块、开关模块、动作模块以及显示驱动模块以提供模块正常工作的工作电压；所述MCU控制模块用于在得电时发出闭合控制信号至开关模块，所述MCU控制模块用于在发出闭合控制信号后，向显示驱动模块发出驱动控制信号，显示驱动模块接收到驱动控制信号时输出驱动信号以将检测结果显示于LCD屏幕；所述开关模块接收到闭合控制信号时输出闭合信号至动作模块；所述动作模块包括直动式电磁阀，所述电磁阀用于设置在开关元器件的一侧，当所述电磁阀接收到闭合信号时，所述电磁阀的阀体推动开关元器件；当开关模块接收到MCU控制模块发出的关断控制信号时，所述开关模块发出关断信号至电磁阀，电磁阀接收到关断信号时失电且电磁阀的阀体与开关元器件未接触。
[0006]通过采用上述技术方案，进行电路板开关元器件的测试时，供电模块给MCU控制模块、开关模块、动作模块以及显示驱动模块以提供工作电压，给PCB板通电后，MCU控制模块发出闭合控制信号至开关模块，开关模块接收到闭合控制信号后输出闭合信号以控制电磁阀得电，电磁阀得电时阀体推动PCB板上的开关元器件，开关元器件闭合则实现检验该开关是否正常工作，进一步MCU控制模块发出关断控制信号至开关模块，开关模块接收到关断控制信号时发出关断信号至电磁阀，电磁阀的阀体朝远离开关元器件的方向缩回以松开开关元器件，进而实现了对开关元器件的自动测试，同时安全性能较好。
[0007]可选的，所述开关模块包括第一MOS管Q1以及第一继电器K1，所述第一MOS管Q1的
栅极耦接于MCU控制模块的开关控制信号输出端，所述第一MOS管Q1的漏极与继电器K1的线圈串联后耦接于供电模块，所述第一MOS管Q1的源极接地，所述继电器K1包括常开触点开关K1
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1，所述常开触点开关K1
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1串联在电磁阀的供电回路中。
[0008]通过采用上述技术方案，MCU控制模块的开关控制信号输出端输出闭合启动信号至第一MOS管Q1的栅极，使得第一MOS管Q1的源极和漏极导通，第一继电器K1的线圈得电，常开触点开关K1
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1吸合，电磁阀得电；当第一MOS管Q1的栅极接收到关断启动信号时，第一MOS管Q1的漏极和源极断开，K1的线圈失电，常开触点开关K1
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1恢复常开状态，电磁阀失电，实现对电磁阀得失电的控制。
[0009]可选的，还包括雾化片的频率测试模块，所述频率测试模块耦接于MCU控制模块的频率启动信号输出端，当接收到MCU控制模块发出频率启动信号时，所述频率测试模块发出闭合信号以耦合PCB板的雾化片，所述频率测试模块包括第二MOS管Q2、第三MOS管Q3以及第二继电器K2，第二继电器K2包括常开触点开关K2
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1，所述第二MOS管Q2的漏极耦接于MCU控制模块的频率测试端，所述第二MOS管Q2的漏极耦接于供电模块，所述第二MOS管Q2的源极接地，所述第二MOS管Q2的栅极与常开触点开关K2
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1串联后耦接于雾化片，所述第三MOS管Q3的栅极耦接于MCU控制模块的频率启动信号输出端，所述第三MOS管Q3的漏极与第二继电器K2串联后耦接于供电模块，所述第三MOS管Q3的源极接地。
[0010]通过采用上述技术方案，通过MCU控制模块发出频率启动信号，使得第三MOS管Q3的栅极接收到高电平，第三MOS管Q3的源极和漏极导通，第二继电器K2的线圈得电，常开触点开关K2
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1吸合，此时第二MOS管Q2的栅极接收到高电平，第二MOS管Q2导通，此时第二MOS管Q2的漏极发出频率测试信号至MCU控制模块的频率测试端，实现香薰机上雾化片的工作频率的测试。
[0011]可选的，还包括用于检测PCB板上发光元器件的LED测试模块，所述LED测试模块包括色温检测子模块和亮度检测子模块，所述MCU控制模块还包括色温启动信号输出端和亮度启动信号输出端，色温启动信号输出端通过串口连接在色温检测子模块的串行信号输入端，亮度启动信号输出端通过串口连接在亮度转换子模块的串行信号输入端，所述色温检测子模块和亮度检测子模块均耦接于PCB板上发光元器件以接收亮度、色温信号，所述色温检测子模块和亮度检测子模块的串行信号输出端耦接于MCU控制模块的串行数据接收端以输出亮度、色温信号，所述MCU控制模块接收亮度、色温信号并输出至显示驱动模块。
[0012]通过采用上述技术方案，测试电路还包括了对PCB板上LED灯的色温和亮度进行检测，以提高PCB板上发光元器件的合格率，通过MCU控制模块上出色温启动信号输出端和亮度启动信号输出端发出开始检测的信号，色温检测子模块和亮度检测子模块通过串口连接的方式获取电路板上发光元器件的亮度和色温，通过串行数据的方式，将亮度、色温信号通过串行信号输出端输出至MCU控制模块的串行数据接收端，MCU控制模块接收亮度、色温信号并输出至显示驱动模块，将色温结果和亮度结果显示在显示屏以便工作人员辨识发光元器件的色温和亮度是否达标。
[0013]可选的，还包括用于控制PCB板得失电的PCB板控制模块，所述PCB板控制模块耦接于MCU控制模块，以在接收到MCU控制模块发出的供电控制信号时，导通供电模块与PCB板正负极之间的供电回路，所述PCB板控制模块包括第四MOS管Q4、第五MOS管Q5、第三继电器K3、第四继电器K4，所述第四MOS管Q4的栅极耦接于MCU控制模块以接收供电控制信号，所述第
四MOS管Q4的源极接地，所述第四MOS管Q4的漏极与第三继电器K3串联后耦接于供电模块，所述第三继电器K3包括常开触点开关K3
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1，所述常开触点开关K3
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1串联在供电模块与PCB板的正极之间，所述第五MOS管Q5的栅极耦接于MCU控制模块以接收供电控制信号，所述第五MOS管Q5的源极接地，所述第五MOS管Q5的漏极与第四继电器K4串联后耦接于供电模块，所述第四继电器K4包本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电路板功能检测用测试电路，其特征在于：包括供电模块、MCU控制模块，开关模块、动作模块以及显示驱动模块；所述供电模块耦接于MCU控制模块、开关模块、动作模块以及显示驱动模块以提供模块正常工作的工作电压；所述MCU控制模块用于在得电时发出闭合控制信号至开关模块，所述MCU控制模块用于在发出闭合控制信号后，向显示驱动模块发出驱动控制信号，显示驱动模块接收到驱动控制信号时输出驱动信号以将检测结果显示于LCD屏幕；所述开关模块接收到闭合控制信号时输出闭合信号至动作模块；所述动作模块包括直动式电磁阀，所述电磁阀用于设置在开关元器件的一侧，当所述电磁阀接收到闭合信号时，所述电磁阀的阀体推动开关元器件；当开关模块接收到MCU控制模块发出的关断控制信号时，所述开关模块发出关断信号至电磁阀，电磁阀接收到关断信号时失电且电磁阀的阀体与开关元器件未接触。2.根据权利要求1所述的一种电路板功能检测用测试电路，其特征在于：所述开关模块包括第一MOS管Q1以及第一继电器K1，所述第一MOS管Q1的栅极耦接于MCU控制模块的开关控制信号输出端，所述第一MOS管Q1的漏极与继电器K1的线圈串联后耦接于供电模块，所述第一MOS管Q1的源极接地，所述继电器K1包括常开触点开关K1
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1，所述常开触点开关K1
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1串联在电磁阀的供电回路中。3.根据权利要求1所述的一种电路板功能检测用测试电路，其特征在于：还包括雾化片的频率测试模块，所述频率测试模块耦接于MCU控制模块的频率启动信号输出端，当接收到MCU控制模块发出频率启动信号时，所述频率测试模块发出闭合信号以耦合PCB板的雾化片，所述频率测试模块包括第二MOS管Q2、第三MOS管Q3以及第二继电器K2，第二继电器K2包括常开触点开关K2
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1，所述第二MOS管Q2的漏极耦接于MCU控制模块的频率测试端，所述第二MOS管Q2的漏极耦接于供电模块，所述第二MOS管Q2的源极接地，所述第二MOS管Q2的栅极与常开触点开关K2
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1串联后耦接于雾化片，所述第三MOS管Q3的栅极耦接于MCU控制模块的频率启动信号输出端，所述第三MOS管Q3的漏极与第二继电器K2串联后耦接于供电模块，所述第三MOS管Q3的源极接地。4.根据权利要求1所述的一种电路板功能检测用测试电路，其特征在于：还包括用于检测PCB板上发光元器件的LED测试模块，所述LED测试模块包括色温检测子模块(1)和亮度检测子模块(2)，所述MCU控制模块还包括色温启动信号输出端和亮度启动信号输出端，色温启动信号输出端通过串口连接在色温检测子模块(1)的串行信号输入端，亮度启动信号输出端通过串口连接在亮度转换子模块的串行信号输入端，所述色温检测子模块(1)和亮度检测子模块(2)均耦接于PCB板上发光元器件以接收亮度、色温信号，所述色温检测子模块(1)和亮度检测子模块(2)的串行信号输出端耦接于MCU控制模块的串行数据接收端以输出亮度、色温信号，所述MCU控制模块接收亮度、色温信号并输出至显示驱动模块。5.根据权利要求1所述的一种电路板功能检测用测试电路，其特征在于：还包括用于控制PCB板得失电的PCB板控制模块，所述PCB板控制模块耦接于MCU控制模块，以在接收到MCU控制模块发出的供电控制信号时，导通供电模块与PCB板正负极之间的供电回路，所述PCB板控制模块包括第四MOS管Q4、第五MOS管Q5、第三继电器K3、第四继电器K4，所述第四MOS管Q4的栅极耦接于MCU控制模块以接收供电控制信号，所述第四MOS管Q4的源极接地，所述第
四MOS管Q4的漏极与第三继电器K3串联后耦接于供电模块，所述第三继电器K3包括常开触点开关K3

【专利技术属性】
技术研发人员：华罗明，
申请(专利权)人：瑞玛广州电子科技有限公司，
类型：发明
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