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本实用新型涉及芯片测试技术领域，提供一种芯片测试系统，包括：与待测芯片连接的测试电路；与所述测试电路、待测芯片连接且为所述待测芯片提供脉冲信号的脉冲信号发生电路；与所述测试电路连接，读取所述待测芯片输出电压值的电压读取电路，从而在没有专门的...
该专利属于山东贞明半导体技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过山东贞明半导体技术有限公司授权不得商用。

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