本发明专利技术是一种微发光二极管显示面板及其整合机器。该微发光二极管显示面板，包含微发光二极管，设于显示区域，其分割为多个区块；驱动器，分别设于区块；及探针垫，设于每一区块内，该探针垫借由相应导线而连接至相应微发光二极管。探针垫与导线设于相应区块的区域内，局限于相应区块，且不连接至相应区块外面。且不连接至相应区块外面。且不连接至相应区块外面。
【技术实现步骤摘要】
微发光二极管显示面板及其整合机器
[0001]本专利技术是有关一种微发光二极管(microLED)显示面板，特别是关于一种具有区域(local)探针垫的微发光二极管显示面板及其整合机器。
技术介绍
[0002]微发光二极管(microLED、mLED或μLED)显示面板为平板显示器(flat panel display)的一种，其是由尺寸等级为1～100微米的个别精微(microscopic)发光二极管所组成。相较于传统液晶显示面板，微发光二极管显示面板具有较大对比度及较快反应时间，且消耗较少功率。微发光二极管与有机发光二极管(OLED)虽然同样具有低功耗的特性，但是，微发光二极管因为使用三
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五族二极管技术(例如氮化镓)，因此相较于有机发光二极管具有较高的亮度(brightness)、较高的发光效能及较长的寿命。
[0003]由于微发光二极管须经传送再接合(bond)于(或植入)玻璃基板上，以形成显示面板，有时候会发生缺陷而需要进行修补。因此，在制造微发光二极管显示面板时，(缺陷)检测是必需的步骤之一。
[0004]探针垫(probe pad，或称扎针垫)通常设于显示面板的周边区域(periphery area)，用以检测经接合的微发光二极管。然而，由于阻抗会随着导线的距离而增加，使得微发光二极管在检测时会有过度驱动(overdrive)或不足驱动(under drive)的情形发生。此外，由于电性连接的微发光二极管的数目很大，因此通常很难确认发生异常的位置。
[0005]因此亟需提出一种新颖机制，用以克服传统微发光二极管显示面板于检测时的缺失。
技术实现思路
[0006]鉴于上述，本专利技术实施例的目的之一在于提出一种具有区域探针垫的微发光二极管显示面板，促进区域的独立检测，有效增进检测与修补的效能。
[0007]根据本专利技术实施例，微发光二极管显示面板包含微发光二极管、驱动器及探针垫。微发光二极管设于显示区域，其分割为多个区块。驱动器分别设于区块。探针垫设于每一区块内，该探针垫借由相应导线而连接至相应微发光二极管。探针垫与导线设于相应区块的区域内，局限于相应区块，且不连接至相应区块外面。
[0008]一种微发光二极管显示面板，包含：多个微发光二极管，设于显示区域，其分割为多个区块；多个驱动器，分别设于该多个区块；及多个探针垫，设于每一区块内，该探针垫借由相应导线而连接至相应微发光二极管；其中该探针垫与该导线设于相应区块的区域内，局限于该相应区块，且不连接至该相应区块外面。
[0009]较佳地，该多个微发光二极管包含红色微发光二极管、绿色微发光二极管及蓝色微发光二极管。
[0010]较佳地，该多个微发光二极管包含多个单色微发光二极管，掺杂有荧光粉或量子点。
[0011]较佳地，该相应区块完成检测后，将该相应区块的该探针垫与该微发光二极管之间的连接永久断开。
[0012]较佳地，该连接使用激光断开。
[0013]较佳地，该探针垫设于该相应区块内的边缘。
[0014]较佳地，该相应区块内相同行的相同颜色的接合垫电性连接在一起，且每一行接合垫电性连接至该相应区块的相应探针垫。
[0015]较佳地，该相应区块内相同行的相同颜色的接合垫电性连接在一起，每一行接合垫电性连接至该相应区块的相应汇集线，且该汇集线电性连接至该相应区块的相应探针垫。
[0016]较佳地，该探针垫设于该驱动器的边缘。
[0017]较佳地，该相应区块内相同行的相同颜色的接合垫电性连接在一起，每一行接合垫电性连接至该相应区块的相应汇集线，且该汇集线电性连接至该相应区块的相应探针垫。
[0018]一种整合机器，包含且整合微发光二极管植晶系统、微发光二极管检测系统及微发光二极管修补系统其中的至少二个系统，适用于微发光二极管显示面板，其特征在于，其包含：多个微发光二极管，设于显示区域，其分割为多个区块；多个驱动器，分别设于该多个区块；及多个探针垫，设于每一区块内，该探针垫借由相应导线而连接至相应微发光二极管；其中该探针垫与该导线设于相应区块的区域内，局限于该相应区块，且不连接至该相应区块外面。
[0019]较佳地，该多个微发光二极管包含红色微发光二极管、绿色微发光二极管及蓝色微发光二极管。
[0020]较佳地，该多个微发光二极管包含多个单色微发光二极管，掺杂有荧光粉或量子点。
[0021]较佳地，微发光二极管检测系统完成该相应区块的检测后，将该相应区块的该探针垫与该微发光二极管之间的连接永久断开。
[0022]较佳地，该连接使用激光断开。
[0023]借由上述技术方案，本专利技术至少具有以下优点效果：本专利技术微发光二极管显示面板能够促进区域的独立检测，有效增进检测与修补的效能。
附图说明
[0024]图1显示本专利技术实施例的微发光二极管显示面板的俯视图。
[0025]图2显示本专利技术实施例的微发光二极管显示面板的俯视图与放大区块。
[0026]图3A显示本专利技术第一实施例的区块的简化俯视图。
[0027]图3B显示本专利技术第二实施例的区块的简化俯视图。
[0028]图3C显示本专利技术第三实施例的区块的简化俯视图。
[0029]图4A显示本专利技术实施例的整合机器的方框图，包含微发光二极管植晶系统、微发光二极管检测系统及微发光二极管修补系统。
[0030]图4B显示本专利技术实施例的整合机器的方框图，包含微发光二极管植晶系统与微发光二极管检测系统。
[0031]图4C显示本专利技术实施例的整合机器的方框图，包含微发光二极管检测系统与微发光二极管修补系统。
[0032]图4D显示本专利技术实施例的整合机器的方框图，包含微发光二极管植晶系统与微发光二极管修补系统。
[0033]图5A与图5B分别显示微发光二极管显示面板的俯视图，其未使用本专利技术实施例的特征。
[0034]【主要元件符号说明】
[0035]100：微发光二极管显示面板
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101：显示区域
[0036]11：区块
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12：驱动器
[0037]13：微发光二极管
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13R：红色微发光二极管
[0038]13G：绿色微发光二极管
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13B：蓝色微发光二极管
[0039]14：探针垫
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C,14C：参考探针垫
[0040]R,14R：红色探针垫
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G,14G：绿色探针垫
[0041]B,14B：蓝色探针垫
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15：导线
[0042]15C：参考导线
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种微发光二极管显示面板，其特征在于，包含：多个微发光二极管，设于显示区域，其分割为多个区块；多个驱动器，分别设于该多个区块；及多个探针垫，设于每一区块内，该探针垫借由相应导线而连接至相应微发光二极管；其中该探针垫与该导线设于相应区块的区域内，局限于该相应区块，且不连接至该相应区块外面。2.根据权利要求1所述的微发光二极管显示面板，其特征在于，该多个微发光二极管包含红色微发光二极管、绿色微发光二极管及蓝色微发光二极管。3.根据权利要求1所述的微发光二极管显示面板，其特征在于，该多个微发光二极管包含多个单色微发光二极管，掺杂有荧光粉或量子点。4.根据权利要求1所述的微发光二极管显示面板，其特征在于，该相应区块完成检测后，将该相应区块的该探针垫与该微发光二极管之间的连接永久断开。5.根据权利要求4所述的微发光二极管显示面板，其特征在于，该连接使用激光断开。6.根据权利要求1所述的微发光二极管显示面板，其特征在于，该探针垫设于该相应区块内的边缘。7.根据权利要求6所述的微发光二极管显示面板，其特征在于，该相应区块内相同行的相同颜色的接合垫电性连接在一起，且每一行接合垫电性连接至该相应区块的相应探针垫。8.根据权利要求6所述的微发光二极管显示面板，其特征在于，该相应区块内相同行的相同颜色的接合垫电性连接在一起，每一行接合垫电性连接至该相应区块的相应汇集线，且该汇集线电性连接至该相应区块...
【专利技术属性】
技术研发人员：吴炳昇，李杏樱，
申请(专利权)人：启端光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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