【技术实现步骤摘要】
本专利技术总体上涉及检验系统;特别涉及自动光学检验系统。这样的AOI系统包括相对于PCB前后往复运动的一个相机头。所述相机头包括照明系统和多个相机。例如,可以将照明系统设置成一个或多个发光二极管(LED),提供照明,以便强光照射PCB上的某些表面,并使得PCB上的其他表面变暗,使得所述相机能够捕获适合图象处理分析的图象。典型情况是,所述灯仅在相机头直接在PCB上的要关注的区域上时才正常开闭。因此,照明系统起一个选通灯的作用。用这个选通灯的方法,为了获得图象相机头不必停止。仅在灯打开时,在相机头中的每个相机捕获要关注的特定区域的有用图象。而且,取决于在其上设置相机头的要关注的特定区域,照明系统在特定的照明模式中工作,即,所述照明系统提供从各LED(不是所有的)的特定一些发出的光。选择这个照明模式,强化PCB区域的加强照明和变暗,使得容易进行图象处理分析。因此,照明系统在特定相机能够捕获要关注的特定区域中的图象的一系列照明模式中工作。一般是,被检验的电路板被分成各条。每个条对应一个相机头运行的往复移动路径。每个条被分成各视场(FOV)。因为相机头跨板的各部分往复 ...
【技术保护点】
一种检验对象的光学检验系统,包括: 多个相机,用于将对象成像,每个相机可异步被触发; 照明系统,用于提供多个照明模式,照明多个相机的对象; 帧取样器单元,用于从多个相机向存储器传输图象数据;和 主计算机,用于控制对象的图象采集, 其特征在于,多个相机基于对象的多个视场和在每个视场内的一系列激发位置,获得对象的图象数据,每个激发位置与多个相机的至少一个和照明系统提供的多个照明模式的第一个相关。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:道格拉斯W雷蒙德,理查德D弗莱明,
申请(专利权)人:良瑞科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]
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