一种高频测试探针模组制造技术

本实用新型专利技术涉及集成电路生产技术领域，尤其是一种高频测试探针模组，包括箱体和探针口，所述箱体内部对称设有探针固定装置，所述探针固定装置包括转盘和丝杠，所述丝杠一端与推动板转动相连，所述推动板与箱体内表面滑动卡接，所述丝杠另一端贯穿箱体与转盘固定相连，所述丝杠与箱体表面螺纹相连，所述转盘表面与短轴固定相连，所述短轴与握柄固定相连，该高频测试探针模组，通过探针固定装置和箱体的配合，操作工人转动两侧的握柄，两侧的握柄运动可以带动短轴运动，方便操作工人对芯片进行检测,通过橡胶板表面多组的凹槽对探针进行固定，同时橡胶板对探针进行夹持，不会使探针被夹持变形的风险，不会影响对芯片检测的效率。率。率。

【技术实现步骤摘要】
一种高频测试探针模组


[0001]本技术涉及集成电路
，具体为一种高频测试探针模组。

技术介绍

[0002]由于目前微组装工艺的发展，同时航空航天设备对体积重量的严格要求，射频微组装电路因为体积小重量轻而得到广泛使用。
[0003]例如授权公告号“CN217034055U”名为高频测试探针模组，避免键合机后续的除去金丝的步骤，提高了生产效率，降低了成本的浪费、人员浪费，也降低了除去金丝时所产生的质量风险。但该装置的安装块上端开设的探针孔数量有限，通过少量的探针孔安装探针对芯片进行检测，会大大影响工作效率，同时该装置为金属工件对探针进行夹持对芯片的检测，金属工件对探针进行夹持有可能会有探针被夹持变形的风险，当探针被夹持变形后，会大大影响对芯片检测的效率。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是为了解决该装置会损坏探针影响工作效率的问题，而提出的一种高频测试探针模组。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：
[0006]设计一种高频测试探针模组，包括箱体和探针口，所述箱体内部对称设有探针固定装置，所述探针固定装置包括转盘和丝杠，所述丝杠一端与推动板转动相连，所述推动板与箱体内表面滑动卡接，所述丝杠另一端贯穿箱体与转盘固定相连，所述丝杠与箱体表面螺纹相连，所述转盘表面与短轴固定相连，所述短轴与握柄固定相连。
[0007]优选的，所述箱体表面开设有探针口。
[0008]优选的，所述箱体内表面固定相连有滑动座。
[0009]优选的，所述滑动座与多组滑动块滑动卡接，所述滑动块表面固定相连有橡胶板。
[0010]优选的，所述橡胶板表面开设有凹槽。
[0011]本技术提出的一种高频测试探针模组，有益效果在于：通过探针固定装置和箱体的配合，操作工人转动两侧的握柄，两侧的握柄运动可以带动短轴运动，短轴运动可以带动转盘转动，两侧的推动板运动将多组橡胶板运动，多组橡胶板向一起运动时，多组橡胶板运动带动多组滑动块运动，操作工人将探针放入橡胶板内部的凹槽内部，通过多组的凹槽将探针调整为不同的模组，方便操作工人对芯片进行检测,通过橡胶板表面多组的凹槽对探针进行固定，使大量的探针孔安装探针对芯片进行检测，会大大增加工作效率，同时橡胶板对探针进行夹持，不会使探针被夹持变形的风险，不会影响对芯片检测的效率。
附图说明
[0012]图1为本技术结构示意图；
[0013]图2为图1的正视剖视图；
[0014]图3为图1的俯视图；
[0015]图4为图1的侧视图；
[0016]图5为图1的局部俯视剖视图。
[0017]图中：1、箱体，2、探针固定装置，201、握柄，202、短轴，203、转盘，204、丝杠，205、推动板，3、探针口，4、滑动座，5、滑动块，6、橡胶板。
具体实施方式
[0018]下面结合附图对本技术作进一步说明：
[0019]参照附图1
‑
5：本实施例中，一种高频测试探针模组，包括箱体1和探针口3，箱体1内部对称设有探针固定装置2，探针固定装置2包括转盘203和丝杠204，丝杠204一端与推动板205转动相连，丝杠204转动可以向前运动，使推动板205可以运动，推动板205与箱体1内表面滑动卡接，可以固定推动板205的运动轨道，丝杠204另一端贯穿箱体1与转盘203固定相连，转盘203转动可以带动丝杠204转动，使推动板205运动，对橡胶板6进行固定，丝杠204与箱体1表面螺纹相连，转盘203表面与短轴202固定相连，固定短轴202的位置，短轴202与握柄201固定相连，固定握柄201的位置，使操作工人转动转盘203时更加方便。
[0020]参照附图1
‑
2：箱体1表面开设有探针口3，可以使内部多组橡胶板6表面开设的凹槽内夹持的探针可以从探针口3中伸出，箱体1内表面固定相连有多组滑动座4，使箱体1内部的滑动座4可以固定滑动块5的运动轨道，滑动座4与滑动块5滑动卡接，滑动块5表面固定相连有橡胶板6，橡胶板6可以将探针夹紧，同时不会被损坏，橡胶板6表面开设有凹槽，可以固定探针的位置。
[0021]工作原理：
[0022]当对探针进行固定时，操作工人转动两侧的握柄201，两侧的握柄201运动可以带动短轴202运动，短轴202运动可以带动转盘203转动，两侧的转盘203可以带动两侧的丝杠203转动，两侧的丝杠203转动带动两侧的推动板205运动，两侧的推动板205运动将多组橡胶板6运动，多组橡胶板6向一起运动时，多组橡胶板6运动带动多组滑动块5运动，操作工人将探针放入橡胶板6内部的凹槽内部，通过多组的凹槽将探针调整为不同的模组，方便操作工人对芯片进行检测。
[0023]虽然本技术已通过参考优选的实施例进行了图示和描述，但是，本专业普通技术人员应当了解，在权利要求书的范围内，可作形式和细节上的各种各样变化。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高频测试探针模组，包括箱体(1)和探针口(3)，其特征在于：所述箱体(1)内部对称设有探针固定装置(2)，所述探针固定装置(2)包括转盘(203)和丝杠(204)，所述丝杠(204)一端与推动板(205)转动相连，所述推动板(205)与箱体(1)内表面滑动卡接，所述丝杠(204)另一端贯穿箱体(1)与转盘(203)固定相连，所述丝杠(204)与箱体(1)表面螺纹相连，所述转盘(203)表面与短轴(202)固定相连，所述短轴(202)与握柄(201...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹维，
申请(专利权)人：苏州工业园区凯众通微电子技术有限公司，
类型：新型
国别省市：