本公开提供了一种光电参数的异常检测方法和装置，属于光电子技术领域。该异常检测方法包括：获取晶圆上各个发光二极管的光电参数的测试值和回测值；确定同一颗发光二极管的测试值和回测值的对比值，所述对比值用于指示测试值和回测值之间的变化幅度；将相邻两个发光二极管的所述对比值之差确定为跳动值；若所述跳动值超出设定幅度，则确定所述晶圆的测试值存在异常。本公开能提升晶圆上发光二极管的测试值异常的检测效率，降低人工工作强度，提升发光二极管的生产效率。发光二极管的生产效率。发光二极管的生产效率。
【技术实现步骤摘要】
光电参数的异常检测方法和装置
[0001]本公开涉及光电子
，特别涉及一种光电参数的异常检测方法和装置。
技术介绍
[0002]在采用测试机测试发光二极管的光电参数的过程中，受到测试机的测试探针状态变化的影响，光电参数(发光二极管的亮度和电压)的测试值也容易发生变化，使光电参数的测试值偏离真实值。
[0003]相关技术中，需要通过人工校对的方式确定光电参数的测试值是否存在偏差异常。然而，晶圆上通常有大量的发光二极管，逐个校对的方式会耗费许多人力，影响发光二极管的生产效率。
技术实现思路
[0004]本公开实施例提供了一种光电参数的异常检测方法和装置，能提升晶圆上发光二极管的测试值异常的检测效率，降低人工工作强度，提升发光二极管的生产效率。所述技术方案如下：
[0005]本公开实施例提供了一种光电参数的异常检测方法，所述异常检测方法包括：获取晶圆上各个发光二极管的光电参数的测试值和回测值，所述测试值和所述回测值为采用不同测试机分别测试得到的数据；确定同一颗发光二极管的测试值和回测值的对比值，所述对比值用于指示测试值和回测值之间的变化幅度；将相邻两个发光二极管的所述对比值之差确定为跳动值；若所述跳动值超出设定幅度，则确定所述晶圆的测试值存在异常。
[0006]在本公开实施例的一种实现方式中，所述光电参数为发光二极管的亮度值时，所述对比值为所述测试值与所述回测值之差与所述回测值的比值。
[0007]在本公开实施例的另一种实现方式中，所述光电参数为发光二极管的电压时，所述对比值为所述测试值与所述回测值之差。
[0008]在本公开实施例提供的另一种实现方式中，所述将相邻两个发光二极管的所述对比值之差确定为跳动值包括：将所述晶圆上同一列或同一行中相邻的两个发光二极管的所述对比值之差确定为跳动值。
[0009]在本公开实施例的另一种实现方式中，所述光电参数还包括发光二极管发出的光的波长，所述获取晶圆上各个发光二极管的光电参数的测试值和回测值之后，还包括：确定各发光二极管的波长差值，所述波长差值为所述测试值中的波长与所述回测值中的波长之差；若所述波长差值在设定范围外，则重新获取晶圆上各个发光二极管的光电参数的测试值和回测值。
[0010]本公开实施例提供了一种光电参数的异常检测装置，所述异常检测装置包括：获取模块，用于获取晶圆上各个发光二极管的光电参数的测试值和回测值，所述测试值和所述回测值为采用不同测试机分别测试得到的数据；第一确定模块，用于确定同一颗发光二极管的测试值和回测值的对比值，所述对比值用于指示测试值和回测值之间的变化幅度；
第二确定模块，用于将相邻两个发光二极管的所述对比值之差确定为跳动值；判定模块，用于若所述跳动值超出设定幅度，则确定所述晶圆的测试值存在异常。
[0011]在本公开实施例的另一种实现方式中，所述光电参数为发光二极管的亮度值时，所述对比值为所述测试值与所述回测值之差与所述回测值的比值。
[0012]在本公开实施例的另一种实现方式中，所述光电参数为发光二极管的电压时，所述对比值为所述测试值与所述回测值之差。
[0013]在本公开实施例的另一种实现方式中，所述第二确定模块还用于将所述晶圆上同一列或同一行中相邻的两个发光二极管的所述对比值之差确定为跳动值。
[0014]在本公开实施例的另一种实现方式中，所述光电参数还包括发光二极管发出的光的波长，所述异常检测装置还包括第三确定模块，所述第三确定模块用于确定各发光二极管的波长差值，所述波长差值为所述测试值中的波长与所述回测值中的波长之差；所述获取模块还用于若所述波长差值在设定范围外，则重新获取晶圆上各个发光二极管的光电参数的测试值和回测值。
[0015]本公开实施例提供的技术方案带来的有益效果至少包括：
[0016]本公开实施例提供的异常检测方法，先获取晶圆上所有发光二极管的测试值和回测值，然后，确定同一颗发光二极管光电参数的对比值，对比值是用于指示测试值和回测值之间的变化幅度的数据，接着，确定相邻的两个发光二极管的跳动值，跳动值则是用于指示相邻两个发光二极管的对比值的变化幅度。通常情况下测试探针测试的测试值没有异常或错误时，相邻发光二极管的对比值的波动幅度也不大。因此，当相邻发光二极管的跳动值超出设定幅度时，表明相邻发光二极管的对比值的波动幅度较大，因而可以判断出晶圆的测试值存在异常。这样通过机器对数据进行自动识别判断测试值是否异常的方式，能有效降低人工工作强度，提升晶圆上发光二极管的测试值异常的检测效率，提升发光二极管的生产效率。
附图说明
[0017]为了更清楚地说明本公开实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0018]图1是本公开实施例提供的一种光电参数的异常检测方法的流程图；
[0019]图2是本公开实施例提供的另一种光电参数的异常检测方法的流程图；
[0020]图3是本公开实施例提供的一种光电参数的异常检测装置；
[0021]图4是本公开实施例提供的一种计算机设备的结构框图。
具体实施方式
[0022]为使本公开的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本公开实施方式作进一步地详细描述。
[0023]除非另作定义，此处使用的技术术语或者科学术语应当为本公开所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开专利申请说明书以及权利要求书中使用的“第
一”、“第二”、“第三”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。同样，“一个”或者“一”等类似词语也不表示数量限制，而是表示存在至少一个。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现在“包括”或者“包含”前面的元件或者物件涵盖出现在“包括”或者“包含”后面列举的元件或者物件及其等同，并不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”、“顶”、“底”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则所述相对位置关系也可能相应地改变。
[0024]图1是本公开实施例提供的一种光电参数的异常检测方法的流程图。如图1所示，该异常检测方法通过上位机执行，包括：
[0025]步骤101：获取晶圆上各个发光二极管的光电参数的测试值和回测值。
[0026]其中，光电参数可以包括光的波长、发光二极管的亮度值和电压。测试值和回测值为采用不同测试机分别测试得到的数据。
[0027]步骤102：确定同一颗发光二极管的测试值和回测值的对比值。
[0028]其中，对比值用于指示测试值和回测值之间的变化幅度。
[0029]例如，当光电参数为电压时，对比值就是测试值中的电压本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种光电参数的异常检测方法，其特征在于，所述异常检测方法包括：获取晶圆上各个发光二极管的光电参数的测试值和回测值，所述测试值和所述回测值为采用不同测试机分别测试得到的数据；确定同一颗发光二极管的测试值和回测值的对比值，所述对比值用于指示测试值和回测值之间的变化幅度；将相邻两个发光二极管的所述对比值之差确定为跳动值；若所述跳动值超出设定幅度，则确定所述晶圆的测试值存在异常。2.根据权利要求1所述的异常检测方法，其特征在于，所述光电参数为发光二极管的亮度值时，所述对比值为所述测试值与所述回测值之差与所述回测值的比值。3.根据权利要求1所述的异常检测方法，其特征在于，所述光电参数为发光二极管的电压时，所述对比值为所述测试值与所述回测值之差。4.根据权利要求1至3任一项所述的异常检测方法，其特征在于，所述将相邻两个发光二极管的所述对比值之差确定为跳动值包括：将所述晶圆上同一列或同一行中相邻的两个发光二极管的所述对比值之差确定为跳动值。5.根据权利要求1至3任一项所述的异常检测方法，其特征在于，所述光电参数还包括发光二极管发出的光的波长，所述获取晶圆上各个发光二极管的光电参数的测试值和回测值之后，还包括：确定各发光二极管的波长差值，所述波长差值为所述测试值中的波长与所述回测值中的波长之差；若所述波长差值在设定范围外，则重新获取晶圆上各个发光二极管的光电参数的测试值和回测值。6.一种光电参数的异常检测装置，...
【专利技术属性】
技术研发人员：顾新宇，戴溧强，陈建南，刘康，
申请(专利权)人：华灿光电苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：
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