最高亮度和寿命获取方法、装置、存储介质及电子设备制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种最高亮度和寿命获取方法、装置、存储介质及电子设备，用于测试显示器件寿命时准确获取最高亮度，相较于传统的方式，发明专利技术人创造性地发现引起测试寿命与实际寿命误差的原因，从而提出高效的解决方案，不仅以相同电流作为参考因素，还考虑到电压的变化可能引起的误差，在保证反推亮度电流值与寿命一致的条件下还考虑电压的一致性，通过两个参数的一致性提高了最高亮度确定的准确性，从而提高显示器件寿命推算的准确度。高显示器件寿命推算的准确度。高显示器件寿命推算的准确度。

【技术实现步骤摘要】
最高亮度和寿命获取方法、装置、存储介质及电子设备


[0001]本申请属于显示器件测试领域，尤其涉及一种最高亮度和寿命获取方法、装置、存储介质及电子设备。

技术介绍

[0002]近年来，随着人们对照明和显示的要求越来越高，各种性能优秀的显示器件进入研发人员的视野，在对显示器件的研发过程中，需要对显示器件的材料进行寿命测试评估。例如材料寿命T95的计算，是从显示材料从最高亮度衰减至95％亮度时，通过消耗的时间推测显示材料的寿命。目前的寿命测试实验中，获取得到的材料寿命往往与材料实际寿命存在一定的差距，测试结果并不准确。

技术实现思路

[0003]本申请实施例提供一种显示器件最高亮度获取方法、装置、设备及系统，可以提高显示器件寿命测试的准确性。
[0004]第一方面，本申请实施例提供一种显示器件最高亮度获取方法，该方法包括：向显示器件提供恒定的预设电压；获取显示器件在恒定的预设电压下随时间变化的第一亮度变化关系和电流变化关系；向显示器件提供预设初始电压和预设截止电压，获取显示器件由预设初始电压至预设截止电压下，显示器件的亮度随电压、电流变化的第二亮度变化关系；在第二亮度变化关系中，获取预设电压对应的第一电流值和第一亮度值；通过第一电流值和第一亮度值确定第一亮度变化关系中显示器件的最高亮度值。
[0005]进一步地，通过第一电流值和第一亮度值确定第一亮度变化关系中显示器件的最高亮度值，包括：获取电流变化关系中与第一电流值相同的第一电流点；通过第一电流点获取同一时间点第一亮度变化关系的第一亮度点；将第一亮度值确定为第一亮度点的亮度值；通过第一亮度点的亮度值获取第一亮度变化关系上最高亮度点对应的亮度值，即得到显示器件的最高亮度值。
[0006]进一步地，第一亮度变化关系中的初始亮度点为赋予的虚拟初始亮度值，第一亮度变化关系为根据虚拟初始亮度值得到的虚拟亮度值与时间的关系曲线；通过第一亮度点的亮度值获取第一亮度变化关系上最高亮度点对应的亮度值，包括：获取第一亮度变化关系上第一亮度点的虚拟亮度值以及最高亮度点的虚拟亮度值；根据第一亮度值、第一亮度点的虚拟亮度值、最高亮度点的虚拟亮度值获取最高亮度点对应的亮度值。
[0007]进一步地，根据第一亮度值、第一亮度点的虚拟亮度值、最高亮度点的虚拟亮度获取最高亮度点对应的亮度值，包括：获取第一亮度值与第一亮度点的虚拟亮度值的比值；获取最高亮度点的虚拟亮度值与比值的乘积，即得到最高亮度点对应的亮度值。
[0008]进一步地，根据第一亮度值、第一亮度点的虚拟亮度值、最高亮度点的虚拟亮度获取最高亮度点对应的亮度值，包括：获取最高亮度点的虚拟亮度值与第一亮度点的虚拟亮度值的比值，获取第一亮度值与比值的乘积，即得到最高亮度点对应的亮度值。
[0009]第二方面，本专利技术实施例提供一种显示器件最高亮度获取装置，该装置包括：测试模块，被配置为获取显示器件在恒定的预设电压下随时间变化的第一亮度变化关系和电流变化关系，以及获取显示器件由预设初始电压至预设截止电压下，显示器件的亮度随电压、电流变化的第二亮度变化关系；参数获取模块，被配置为获取第二亮度变化关系中与预设电压对应的第一电流值和第一亮度值；计算模块，被配置为通过第一电流值和第一亮度值确定第一亮度变化关系中显示器件的最高亮度值。
[0010]进一步地，该装置还包括参数确定模块，被配置为根据第一电流值和第一亮度值确定电流变化关系中与第一电流值相同的第一电流点以及根据第一电流点确定同一时间点第一亮度变化关系的第一亮度点，将第一亮度值确定为第一亮度点的亮度值；计算模块，被配置为通过第一亮度点的亮度值获取第一亮度变化关系上最高亮度点对应的亮度值，即得到显示器件的最高亮度值。
[0011]第三方面，本专利技术实施例提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，当计算机程序在计算机上执行时，使得计算机执行如本专利技术实施例第一方面提供的方法。
[0012]第四方面，本专利技术实施例提供一种电子设备，包括存储器和处理器，处理器通过调用存储器中存储的计算机程序，以执行如专利技术实施例第一方面提供的方法。
[0013]第五方面，本专利技术实施例提供一种显示器件寿命获取方法，包括：获取本专利技术实施例第一方面提供的方法获取的显示器件的最高亮度值；获取第一亮度变化关系中显示器件从最高亮度值衰减到预设亮度值的衰减时间；通过衰减时间得到显示器件的寿命。
[0014]本申请相较于传统的方式，专利技术人创造性地发现引起测试寿命与实际寿命误差的原因，从而提出高效的解决方案，不仅以相同电流作为参考因素，还考虑到电压的变化可能引起的误差，在保证反推亮度电流值与寿命一致的条件下还考虑电压的一致性，通过两个参数的一致性提高了最高亮度确定的准确性，从而提高显示器件寿命推算的准确度。
附图说明
[0015]下面结合附图，通过对本申请的具体实施方式详细描述，将使本申请的技术方案及其有益效果显而易见。
[0016]图1是本专利技术实施例提供的显示器件在寿命测试过程中亮度和电流随时间变化的曲线示意图。
[0017]图2是本专利技术实施例提供的显示器件在亮度测试过程中亮度和电流随电压变化的曲线示意图。
[0018]图3是本专利技术实施例提供的电子设备的架构示意图。
[0019]图4是本专利技术实施例提供的显示器件最高亮度获取方法的流程图。
[0020]图5是本专利技术实施例提供的显示器件最高亮度获取装置的功能模块架构示意图。
[0021]图标：电子设备
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10；显示器件最高亮度获取装置
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11；测试模块
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111；参数获取模块
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112；参数确定模块
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113；计算模块
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114；存储器
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12；处理器
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13。
具体实施方式
[0022]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是
本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
[0023]目前对材料的寿命测试评估中，常用恒压测试的方式，该测试方式的过程是先进行寿命测试，再进行亮度测试，将亮度测试中测得的对应亮度值带入寿命测试中对应的点进行换算，进而得到寿命测试过程中显示器件的最高亮度，通过最高亮度和测试时间即可推算得到显示器件的寿命。当然，作为另一种测试方式，可以先进行亮度测试，再进行寿命测试，然后将亮度测试中测得的对应亮度值带入寿命测试中对应的点进行换算。两相比较，先寿命测试，后亮度测试，显示器件的电性能相对更稳定，获取的数据误差更小。
[0024]具体的，对于寿命测试，是在恒定的电压下，测试显示器件从测试开始到测试结束之间电流和亮度的变化，其中，测试结束点的选择通过人为设定，例如显示器件的亮度下降到初本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示器件最高亮度获取方法，其特征在于，所述方法包括：获取显示器件在恒定的预设电压下随时间变化的第一亮度变化关系和电流变化关系；获取所述显示器件由预设初始电压至预设截止电压下，所述显示器件的亮度随电压、电流变化的第二亮度变化关系；在所述第二亮度变化关系中，获取所述预设电压对应的第一电流值和第一亮度值；通过所述第一电流值和所述第一亮度值确定所述第一亮度变化关系中所述显示器件的最高亮度值。2.根据权利要求1所述的最高亮度获取方法，其特征在于，所述通过所述第一电流值和所述第一亮度值确定所述第一亮度变化关系中所述显示器件的最高亮度值，包括：获取所述电流变化关系中与所述第一电流值相同的第一电流点；通过所述第一电流点获取同一时间点所述第一亮度变化关系的第一亮度点；将所述第一亮度值确定为所述第一亮度点的亮度值；通过所述第一亮度点的亮度值获取所述第一亮度变化关系上最高亮度点对应的亮度值，即得到所述显示器件的最高亮度值。3.根据权利要求2所述的最高亮度获取方法，其特征在于，所述第一亮度变化关系中的初始亮度点为赋予的虚拟初始亮度值，所述第一亮度变化关系为根据所述虚拟初始亮度值得到的虚拟亮度值与时间的关系曲线；所述通过所述第一亮度点的亮度值获取所述第一亮度变化关系上所述最高亮度点对应的亮度值，包括：获取所述第一亮度变化关系上所述第一亮度点的虚拟亮度值以及所述最高亮度点的虚拟亮度值；根据所述第一亮度值、第一亮度点的虚拟亮度值、最高亮度点的虚拟亮度值获取所述最高亮度点对应的亮度值。4.根据权利要求3所述的最高亮度获取方法，其特征在于，所述根据所述第一亮度值、第一亮度点的虚拟亮度值、最高亮度点的虚拟亮度获取所述最高亮度点对应的亮度值，包括：获取所述第一亮度值与所述第一亮度点的虚拟亮度值的比值；获取所述最高亮度点的虚拟亮度值与所述比值的乘积，即得到所述最高亮度点对应的亮度值。5.根据权利要求3所述的最高亮度获取方法，其特征在于，所述根据所述第一亮度值、...

【专利技术属性】
技术研发人员：权利要求书二页说明书八页附图三页，
申请(专利权)人：TCL科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：