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本公开提供了一种光电参数的异常检测方法和装置，属于光电子技术领域。该异常检测方法包括：获取晶圆上各个发光二极管的光电参数的测试值和回测值；确定同一颗发光二极管的测试值和回测值的对比值，所述对比值用于指示测试值和回测值之间的变化幅度；将相邻两...
该专利属于华灿光电（苏州）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过华灿光电（苏州）有限公司授权不得商用。

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