数据错误检查纠正方法及闪存技术

本申请公开了一种数据错误检查纠正方法及闪存，该数据错误检查纠正方法通过构造每个非标志纠错码的计算公式均包括偶数个校验因子，当待校验数据中各数据位均为1即擦除正确的情况下，使得各纠错码所表示的校验结果均为0，意味着待校验数据的擦除没有错误，这提高了Nor Flash中擦除后的检验结果的准确性。Flash中擦除后的检验结果的准确性。

【技术实现步骤摘要】
数据错误检查纠正方法及闪存


[0001]本申请涉及数据处理
，具体涉及一种数据错误检查纠正方法及闪存。

技术介绍

[0002]在校验数据的过程中，校验数据的校验技术例如可以为ECC(Error Correcting Code，错误检查和纠正)技术，由于配置各ECC的计算公式的过程中存在差异，在应用到Nor Flash中擦除后的检验结果容易出现错误。

技术实现思路

[0003]本申请提供一种数据错误检查纠正方法及闪存，以缓解Nor Flash中擦除后的检验结果容易出现错误的技术问题。
[0004]第一方面，本申请提供一种数据错误检查纠正方法，该数据错误检查纠正方法包括：配置纠错码包括非标志纠错码；构造每个非标志纠错码的计算公式均包括偶数个校验因子，每一校验因子为一数据位、一校验位或者一虚拟位。
[0005]第二方面，本申请提供一种数据错误检查纠正方法，该数据错误检查纠正方法包括：配置纠错码包括非标志纠错码；构造每个非标志纠错码的计算公式均包括相同数量的校验因子，每一校验因子为一数据位、一校验位或者一虚拟位。
[0006]第三方面，本申请提供一种数据错误检查纠正方法，该数据错误检查纠正方法包括：根据待校验数据中数据位的位宽，确定与待校验数据对应的校验位的数量、纠错码的数量；基于纠错码的排列结果的权重增序，确定排列结果与校验位、数据位之间的映射关系；基于编码位置、映射关系确定纠错码的计算公式；根据纠错码的计算结果得到待校验数据的校验结果。
[0007]在其中一些实施方式中，基于纠错码的排列结果的权重增序，确定排列结果与校验位、数据位之间的映射关系的步骤包括：获取各排列结果中1的数量；根据各排列结果中1的数量得到每一排列结果对应的权重系数，每一排列结果中1的数量越多，权重系数越高；根据多个权重系数由低到高的排序得到权重增序。
[0008]在其中一些实施方式中，基于纠错码的排列结果的权重增序，确定排列结果与校验位、数据位之间的映射关系的步骤还包括：构造每一校验位与一包含一个1的排列结果一一对应；构造每一数据位按照编码增序与一包含多个1的排列结果一一对应，编码增序为排列结果由小到大的排列次序。
[0009]在其中一些实施方式中，构造每一校验位与一包含一个1的排列结果一一对应的步骤包括：配置校验位包括最低校验位至最高校验位；配置最低校验位至最高校验位依次分别按照编码增序与一排列结果一一对应。
[0010]在其中一些实施方式中，构造每一数据位按照编码增序与一包含多个1的排列结果一一对应，编码增序为排列结果由小到大的排列次序的步骤包括：配置数据位包括最低数据位至最高数据位；最低数据位至最高数据位依次分别按照编码增序与一排列结果一一
对应。
[0011]在其中一些实施方式中，基于编码位置、映射关系确定纠错码的计算公式的步骤包括：配置纠错码包括一标志纠错码和多个非标志纠错码；构造每个非标志纠错码的计算公式均包括偶数个相同数量的校验因子，每一校验因子为一数据位、一校验位或者一虚拟位。
[0012]在其中一些实施方式中，构造每个非标志纠错码的计算公式均包括偶数个相同数量的校验因子，每一校验因子为一数据位、一校验位或者一虚拟位的步骤包括：配置不同的非标志纠错码的计算公式中均包括1个校验位、偶数个虚拟位以及互不相同的奇数个数据位；基于每一非标志纠错码的计算公式的中间计算数据、计算结果，确定标志纠错码的计算公式。
[0013]在其中一些实施方式中，基于编码位置、映射关系确定纠错码的计算公式的步骤还包括：根据纠错码的排列结果由小到大的排列次序得到编码增序；根据编码增序确定校验位、数据位的编码位置。
[0014]在其中一些实施方式中，基于编码位置、映射关系确定纠错码的计算公式的步骤还包括：配置校验位包括一标志校验位和多个非标志校验位；基于多个非标志校验位的依次排布、编码位置以及映射关系，确定每一非标志纠错码的计算公式。
[0015]在其中一些实施方式中，基于多个非标志校验位的依次排布、编码位置以及映射关系，确定每一非标志纠错码的计算公式的步骤包括：构造一非标志纠错码的计算公式中的校验因子包括一非标志校验位；构造标志纠错码的计算公式中的校验因子包括标志校验位。
[0016]在其中一些实施方式中，构造每个非标志纠错码的计算公式均包括偶数个相同数量的校验因子，每一校验因子为一数据位、一校验位或者一虚拟位的步骤还包括：编码时构造每一校验位的数据为0；构造每一虚拟位的数据为0。第四方面，本申请提供一种闪存，该闪存在擦除操作后执行上述至少一实施方式中的数据错误检查纠正方法。
[0017]本申请提供的数据错误检查纠正方法及闪存，通过构造每个非标志纠错码的计算公式均包括偶数个校验因子，当待校验数据中各数据位均为1即擦除正确的情况下，使得各纠错码所表示的校验结果均为0，意味着待校验数据的擦除没有错误，这提高了Nor Flash中擦除后的检验结果的准确性。
附图说明
[0018]下面结合附图，通过对本申请的具体实施方式详细描述，将使本申请的技术方案及其它有益效果显而易见。
[0019]图1为相关技术中汉明码的算法示意图。
[0020]图2为相关技术中Hsiao码的算法示意图。
[0021]图3为相关技术中ECC校验的算法示意图。
[0022]图4为本申请实施例提供的数据错误检查纠正方法的流程示意图。
[0023]图5为本申请实施例提供的16位数据错误检查纠正方法的算法示意图。
[0024]图6为本申请实施例提供的纠错码的数量确定的结构示意图。
[0025]图7为本申请实施例提供的纠错码与数据位、校验位之间的映射关系图。
[0026]图8为本申请实施例提供的32位数据错误检查纠正方法的一种算法示意图。
[0027]图9为本申请实施例提供的32位数据错误检查纠正方法的另一种算法示意图。
[0028]图10为图9所示32位数据错误检查纠正方法中E5
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E0的计算公式的电路示意图。
[0029]图11为图10所示32位数据错误检查纠正方法中E5
‑
E0对应电路的封装示意图。
[0030]图12为图9所示32位数据错误检查纠正方法中E6的计算公式的电路示意图。
[0031]图13为图12所示32位数据错误检查纠正方法中E6的计算公式的电路的封装示意图。
具体实施方式
[0032]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0033]在某些应用场合(尤其是车载应用中)中，为了进一步提高可靠性，校验技术/功能(例如ECC)已经成为其一个必备功能。SEC
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DED(Sing本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种数据错误检查纠正方法，其特征在于，所述数据错误检查纠正方法包括：配置纠错码包括非标志纠错码；构造每个所述非标志纠错码的计算公式均包括偶数个校验因子，每一所述校验因子为一所述数据位、一所述校验位或者一虚拟位。2.根据权利要求1所述的数据错误检查纠正方法，其特征在于，所述数据错误检查纠正方法还包括：根据待校验数据中所述数据位的位宽，确定与所述待校验数据对应的所述校验位的数量、所述纠错码的数量；基于所述纠错码的排列结果的权重增序，确定所述排列结果与所述校验位、所述数据位之间的映射关系；基于编码位置、所述映射关系确定所述纠错码的计算公式；根据所述纠错码的计算结果得到所述待校验数据的校验结果。3.根据权利要求2所述的数据错误检查纠正方法，其特征在于，所述基于所述纠错码的排列结果的权重增序，确定所述排列结果与所述校验位、所述数据位之间的映射关系的步骤，包括：获取各所述排列结果中1的数量；根据各所述排列结果中1的数量得到每一所述排列结果对应的权重系数，每一所述排列结果中1的数量越多，所述权重系数越高；根据多个所述权重系数由低到高的排序得到所述权重增序。4.根据权利要求3所述的数据错误检查纠正方法，其特征在于，所述基于所述纠错码的排列结果的权重增序，确定所述排列结果与所述校验位、所述数据位之间的映射关系的步骤，还包括：构造每一所述校验位与一包含一个1的排列结果一一对应；构造每一所述数据位按照编码增序与一包含多个1的排列结果一一对应，所述编码增序为所述排列结果由小到大的排列次序。5.根据权利要求2所述的数据错误检查纠正方法，其特征在于，所述基于编码位置、所述映射关系确定所述纠错码的计算公式的步骤，还包括：根据所述纠错码的排列结果由小到大的排列次序得到编码增序；根据所述编码增序确定所述校验位、所述数据位的所述编码位置。6.根据权利要求5所述的数据错误检查纠正方法，其特征在于，所述基于编码位置、所述映射关系确定所述纠错码的计算公式的步骤，还包括：配置所述校验位包括一标志校验位和多个非标志校验位；基于所述多个非标志校验位的依次排布、所述编码位置以及所述映射关系，确定每一所述非标志纠错码的计算公式。7.根据权利要求6所述的数据错误检查纠正方法，其特征在于，所述配置纠错码包括非标志纠错码的步骤，包括：配置所述纠错码包括标志纠错码。8.根据权利要求7所述的数据错误检查纠正方法，其特征在于，所述基于所述多个非标志校验位的依次排布、所述编码位置以及所述映射关系，确定每一所述非标志纠错码的计
算公式的步骤，包括：构造一所述非标志纠错码的计算公式中的校验因子包括一所述非标志校验位；构造所述标志纠错码的计算公式中的校验因子包括所述标志校验位。9.一种数据错误检查纠正方法，其特征在于，所述数据错误检查纠正方法包括：配置纠错码包括非标志纠错码；构造每个所述非标志纠错码的计算公式均包括相同数量的校验因子，每一所述校验因子为一所述数据位、一所述校验位或者一虚拟位。10.根据权利要求9所述的数据错误检查纠正方法，其特征在于，所述数据错误检查纠正方法还包括：根据待校验数据中所述数据位的位宽，确定与所述待校验数据对应的所述校验位的数量、所述纠错码的数量；基于所述纠错码的排列结果的权重增序，确定所述排列结果与所述校验位、所述数据位之间的映射关系；基于编码位置、所述映射关系确定所述纠错码的计算公式；根据所述纠错码的计算结果得到所述待校验数据的校验结果。11.根据权利要求10所述的数据错误检查纠正方法，其特征在于，所述基于所述纠错码的排列结果的权重增序，确定所述排列结果与所述校验位、所述数据位之间的映射关系的步骤，包括：获取各所述排列结果中1的数量；根据各所述排列结果中1的数量得到每一所述排列结果对应的权重系数，每一所述排列结果中1的数量越多，所述权重系数越高；根据多个所述权重系数由低到高的排序得到所述权重增序。12.根据权利要求11所述的数据错误检查纠正方法，其特征在于，所述基于所述纠错码的排列结果的权重增序，确定所述排列结果与所述校验位、所述数据位之间的映射关系的步骤，还包括：构造每一所述校验位与一包含一个1的排列结果一一对应；构造每一所述数据位按照编码增序与一包含多个1的排列结果一一对应，所述编码增序为所述排列结果由小到大的排列次序。13.根据权利要求9所述的数据错误检查纠正方法，其特征在于，所述构造每个所述非标志纠错码的计算公式均包括偶数个相同数量的校验因子，每一所述校验因子为一所述数据位、一所述校验位或者一虚拟位的步骤，包括：配置不同的所述非标志纠错码的计算公式中均包括1个校验位、偶数个虚拟位以及互不相同的奇数个数据位；基于每一所述非标志纠错码的计算公式的中间计算数据、计算结果，确定所述标志纠错码的计算公式。14.根据权利要求13所述的数据错误检查纠正方法，其特征在于，所述基于编码位置、所述映射关系确定所述纠错码的计算公式的步骤，还包括：根据所述纠错码的排列结果...

【专利技术属性】
技术研发人员：杜艳强，
申请(专利权)人：武汉新芯集成电路制造有限公司，
类型：发明
国别省市：