芯片测试筛选设备制造技术

本实用新型专利技术公开一种芯片测试筛选设备，用于内存芯片，其中，芯片测试筛选设备包括机架、转运机构、至少三组承载机构、视觉检测装置以及内存芯片测试装置。机架形成有沿第一方向间隔设置的上料工位、视觉检测工位、测试工位、良品下料工位及不良品下料工位；视觉检测装置和/或内存芯片测试装置对芯片进行测试后由设于机架的转运机构将芯片传递至良品下料工位或不良品下料工位。本实用新型专利技术技术方案涉及芯片制造技术领域，本申请利用转运机构将待测试芯片在视觉检测装置与内存芯片测试装置之间运转，并在检测后直接分拣至不同工位下料，减少人工参与，降低人力成本，提高生产效率。提高生产效率。提高生产效率。

【技术实现步骤摘要】
芯片测试筛选设备


[0001]本技术涉及芯片制造
，特别涉及一种芯片测试筛选设备。

技术介绍

[0002]随着科技的发展，为使各种电子设备具有更多功能性和操作性，常在电子设备内设置不同形式的内存芯片以用作操作系统或其他正在执行中的程序的临时数据的储存媒介。
[0003]相关技术中，为使内存芯片满足所对应安装的电子设备的功能需求，内存芯片的生产厂家通常会对其性能进行测试并进一步筛选不良品。批量生产的内存芯片采用人工的方式在视觉检测设备和软件测试设备中传递并进行检测，再根据设备的检测结果手动地进行分拣并上下料。
[0004]然而，采用人工进行测试及筛选耗费大量的时间及管理成本，人工筛选也容易在分拣过程中由于测试人员的身体疲劳产生误判，影响筛选后的分拣效果。

技术实现思路

[0005]本技术的主要目的是提供一种芯片测试筛选设备，旨在克服上述现有技术的不足，减少人工参与，将内存芯片的测试与筛选工序结合，提升内存芯片的生产效率。
[0006]为实现上述目的，本技术提出的芯片测试筛选设备包括支撑件、转运机构、至少三本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试筛选设备，用于内存芯片，其特征在于，所述芯片测试筛选设备包括：支撑件，所述支撑件形成有沿第一方向间隔设置的上料工位、视觉检测工位、测试工位、良品下料工位及不良品下料工位；转运机构，所述转运机构设于所述支撑件，所述转运机构用于将所述芯片沿所述第一方向移动传递；至少三组承载机构，三组所述承载机构分别设于所述上料工位、良品下料工位及不良品下料工位；视觉检测装置，所述视觉检测装置设于所述视觉检测工位，用于对所述内存芯片进行外观检测；以及内存芯片测试装置，所述内存芯片测试装置设于所述测试工位，用于对所述内存芯片进行测试。2.如权利要求1所述的芯片测试筛选设备，其特征在于，所述转运机构包括：转运机架，所述转运机架固定连接所述支撑件；转运滑轨，所述转运滑轨设于所述转运机架，所述转运滑轨沿所述第一方向延伸设置；以及取料组件，所述取料组件活动连接于所述滑轨，所述取料组件用于抓取所述芯片并将所述芯片沿第一方向传递。3.如权利要求2所述的芯片测试筛选设备，其特征在于，所述取料组件包括：滑动板，所述滑动板滑动连接于所述转运滑轨；和取料机器手，所述取料机器手设于所述滑动板，所述取料机器手用于抓取所述芯片或释放。4.如权利要求3所述的芯片测试筛选设备，其特征在于，所述取料组件包括至少两个取料机器手，至少两个取料机器手对称设于所述滑动板。5.如权利要求3所述的芯片测试筛选设备，其特征在于，所述取料组件还包括：提升滑轨，所述提升滑轨设于所述滑动板，所述提升滑轨沿高度方向延伸设置；提升滑轨，所述提升滑轨滑动连接于所述提升滑轨；以及提升结构，所述提升结构设于所述提升滑轨，所述取料机器手设于所述提升结构，所述提升结构驱动所述取料机器手升降。6.如权利要求1至5中任一所述的芯片测试筛选设备，其特征在于，所述内存芯片测试装置包括：机架，所述机架设有第一滑轨槽；定位治具，所述定位治具固定连接于所述机架并沿第一方向延伸设置，所述定位治具位于第一方向的一端设有供内存芯片放置的测试空间，所述第一滑轨槽朝向所述定位治具方向延伸设置；压合机构，所述压合机构上设有抵接件，所述压合机构滑动连接于所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈晖，
申请(专利权)人：深圳市嘉合劲威电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：