本发明专利技术的目的在于，提供一种能够形成不易从基材剥离的底涂层的底涂层用组合物、由该底涂层用组合物形成的底涂层、以及具备该底涂层的废气净化用催化剂和废气净化装置，为了实现该目的，提供一种底涂层用组合物、由该底涂层用组合物形成的底涂层、以及具备该底涂层的废气净化用催化剂和废气净化装置，其中，所述底涂层用组合物是一种含有氧化锡微颗粒和氧化锡纳米颗粒的底涂层用组合物，以所述氧化锡微颗粒和所述氧化锡纳米颗粒的总含量为基准计，所述氧化锡纳米颗粒的含量为8质量％以上且30质量％以下。质量％以下。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】底涂层用组合物、底涂层、以及具备底涂层的废气净化用催化剂和废气净化装置
[0001]本专利技术涉及底涂层用组合物、由该底涂层用组合物形成的底涂层、以及具备该底涂层的废气净化用催化剂和废气净化装置。
技术介绍
[0002]汽车、摩托车、锅炉、加热炉、燃气发动机、燃气轮机等排出的废气中包含烃(HC)、一氧化碳(CO)、氮氧化物(NOx)等有害成分。作为对这些有害成分进行净化而使其无害化的废气净化用催化剂，使用了具有将HC和CO氧化而转化成水和二氧化碳且将NOx还原而转化成氮的催化活性的三元催化剂。
[0003]三元催化剂有时无法有效地作用于废气中的甲烷。因此，开发了甲烷氧化催化剂。例如，专利文献1中记载了一种在氧化锡上负载铂和铱而得到的甲烷氧化催化剂。专利文献1中所述的甲烷氧化催化剂在低温区域(500℃以下，特别是350～450℃)中能够有效地氧化除去甲烷。
[0004]现有技术文献
[0005]专利文献
[0006]专利文献1：日本特开2006
‑
272079号公报
技术实现思路
[0007]专利技术要解决的问题
[0008]废气净化用催化剂具备基材、和设置于基材上的催化剂层。基材具有由多个单元构成的蜂窝结构时，形成在单元的角部(从基材的轴向俯视基材时的单元的角部)上的催化剂层与废气的接触效率低，有时无法充分发挥催化性能。为了防止这种情况的发生，可以在基材上形成底涂层，并在底涂层上形成催化剂层。
[0009]但是，根据底涂层的组成的不同，有时底涂层容易从基材剥离。
[0010]为此，本专利技术的目的在于，提供一种能够形成不易从基材剥离的底涂层的底涂层用组合物、由该底涂层用组合物形成的底涂层、以及具备该底涂层的废气净化用催化剂和废气净化装置。
[0011]用于解决问题的方案
[0012]为了解决上述技术问题，本专利技术提供下述专利技术。
[0013][1]一种底涂层用组合物，其含有氧化锡微颗粒和氧化锡纳米颗粒，以所述氧化锡微颗粒和所述氧化锡纳米颗粒的总含量为基准计，所述氧化锡纳米颗粒的含量为8质量％以上且30质量％以下。
[0014][2]一种底涂层，其是通过上述[1]所述的底涂层用组合物形成的。
[0015][3]一种废气净化用催化剂，其具备：基材、形成在该基材上的上述[2]所述的底涂层以及形成在该底涂层上的催化剂层。
[0016][4]一种废气净化装置，其具备上述[3]所述的废气净化用催化剂。
[0017]专利技术的效果
[0018]根据本专利技术，可以提供一种能够形成不易从基材剥离的底涂层的底涂层用组合物、由该底涂层用组合物形成的底涂层、以及具备该底涂层的废气净化用催化剂和废气净化装置。
附图说明
[0019]图1是本专利技术的一个实施方式涉及的废气净化装置的部分截面图。
[0020]图2是图1的A
‑
A线截面图。
具体实施方式
[0021]下面，对本专利技术进行详细说明。
[0022]《底涂层用组合物》
[0023]本专利技术的底涂层用组合物含有氧化锡微颗粒和氧化锡纳米颗粒。
[0024]氧化锡微颗粒是基质成分，氧化锡纳米颗粒是粘合剂成分。即，使用本专利技术的底涂层用组合物在基材上形成底涂层时，氧化锡微颗粒构成底涂层的母材，氧化锡纳米颗粒使基材与氧化锡微颗粒结合的同时，使氧化锡微颗粒彼此结合。
[0025]氧化锡颗粒含有氧化锡。作为氧化锡，例如，可列举出氧化锡(II)(SnO)、氧化锡(III)(Sn2O3)、氧化锡(IV)(SnO2)、氧化锡(VI)(SnO3)等，其中，优选氧化锡(IV)(SnO2)。氧化锡颗粒可以含有1种氧化锡，也可以含有2种以上的氧化锡。
[0026]以氧化锡颗粒的质量为基准计，氧化锡颗粒中的氧化锡的含量通常为75质量％以上，优选为80质量％以上，进一步优选为90质量％以上。需要说明的是，氧化锡颗粒含有1种氧化锡时，“氧化锡的含量”是指该1种氧化锡的含量，氧化锡颗粒含有2种以上的氧化锡时，“氧化锡的含量”是指该2种以上的氧化锡的总含量。上限值理论上为100质量％，但考虑到不可避免的杂质的存在，实际上可能小于100质量％(例如99.5质量％以下)。不可避免的杂质例如为制造氧化锡颗粒时不可避免地混入的微量元素。
[0027]氧化锡颗粒含有氧化锡(IV)时，以氧化锡颗粒的质量为基准计，氧化锡颗粒中的氧化锡(IV)的含量优选为75质量％以上，进一步优选为80质量％以上，更进一步优选为90质量％以上。
[0028]氧化锡颗粒中含有的元素的量可以使用电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP
‑
AES)等常规方法测量。
[0029]氧化锡颗粒的形状优选为球形。球形包括正球形、楕圆形等。
[0030]氧化锡微颗粒和氧化锡纳米颗粒分别由多个氧化锡颗粒构成。关于氧化锡颗粒的上述说明适用于构成氧化锡微颗粒的氧化锡颗粒和构成氧化锡纳米颗粒的氧化锡颗粒这两者。
[0031]氧化锡微颗粒和氧化锡纳米颗粒可以分别由具有相同组成的多个氧化锡颗粒构成，也可以由具有不同组成的多个氧化锡颗粒构成。
[0032]氧化锡微颗粒具有微米尺寸的中值粒径D
50
，氧化锡纳米颗粒具有纳米尺寸的中值粒径D
50
。
[0033]氧化锡微颗粒的中值粒径D
50
是指在氧化锡微颗粒的体积基准的粒度分布中，累积体积达到50％时的粒径；氧化锡纳米颗粒的中值粒径D
50
是指在以氧化锡纳米颗粒的体积为基准的粒度分布中，累积体积达到50％时的粒径。
[0034]氧化锡微颗粒的体积基准的粒度分布通过动态光散射法测量。在动态光散射法中，例如，使用粒度分布测量装置MalvernPanalytical公司制造的“Zetasizer Nano ZS”测量氧化锡微颗粒的体积基准的粒度分布。粒度分布通过将氧化锡微颗粒分散于水中来测量。
[0035]氧化锡纳米颗粒的体积基准的粒度分布通过小角X射线散射法测量。小角X射线散射法的优选的实施方式如下。将以任意的比例含有氧化锡纳米颗粒的粉体填充到具有0.2μm深的凹槽的玻璃制样品板中来制备样品。为了获得小角X射线散射图谱，在株式会社理学制造的全自动多功能X射线衍射仪SmartLab中，应用小角X射线散射规格作为光学系统，通过透射法测量样品的小角X射线散射图谱。使用Cu靶作为X射线源，使用闪烁计数器作为检测器。接着，假设颗粒形状为球形，颗粒尺寸的变化由伽马分布函数得到，使用Rigaku Corporation制造的解析软件NANO
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Solver实施样品的小角X射线散射图谱的图谱解析。图谱解析的对象角度范围设为至2θ＝4deg。
[0036]在动态光散射法中，测量表观粒径。即，颗粒以一次颗粒的状态存在时，测量一次粒径，以一次颗粒聚集的二次颗粒的状态存在时，测量二次粒径。但是，在本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种底涂层用组合物，其含有氧化锡微颗粒和氧化锡纳米颗粒，以所述氧化锡微颗粒和所述氧化锡纳米颗粒的总含量为基准计，所述氧化锡纳米颗粒的含量为8质量％以上且30质量％以下。2.根据权利要求1所述的底涂层用组合物，其中，所述氧化锡微颗粒的中值粒径D
50
相对于所述氧化锡纳米颗粒的中值粒径D
50
之比为50以上且100000以下。3.根据权利要求1或2所述的底涂层用组合物，其中，所述氧化锡微颗粒的中值粒径D
50
为1μm以上且100μm以下，所述氧化锡纳米颗粒的中值粒径D
50
为1nm以上且20nm以下。4.根据权利要求1～3中的任一项所述的底涂层用组合物，其中，所述氧化锡微颗粒的比表面积为1m2/g以上且120m2/g以下。5.一种底涂层，其是通过权利要求1～4中的任一项所述的底涂层用组合物形成的。6.根据权利要求5所述的底涂...
【专利技术属性】
技术研发人员：渡边彦睦，松泽雅人，
申请(专利权)人：三井金属矿业株式会社，
类型：发明
国别省市：
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