磨床及其检测组件制造技术

本实用新型专利技术涉及磨床技术领域，具体提供了一种磨床及其检测组件，旨在提供一种能够与提高上料精度的上料组件相适配的检测组件。为此目的，本实用新型专利技术的磨床包括沿待加工件的进给方向设置的粗磨砂轮和精磨砂轮，所述检测组件包括：基板；以及滑板，其上设置有探针组，所述滑板能够相对所述基板移动从而使得滑板以及设置于所述滑板上的探针组相对所述基板靠近/远离待加工件；其中，所述检测组件位于所述磨床上所述粗磨砂轮靠近所述精磨砂轮的位置、所述精磨砂轮靠近所述粗磨砂轮的位置或者所述粗磨砂轮和所述精磨砂轮之间。通过这样的构成，给出了一种能够与提高上料精度的上料组件相适配的、配置于粗磨砂轮的检测组件的构成方式。式。式。

【技术实现步骤摘要】
磨床及其检测组件


[0001]本技术涉及磨床
，具体提供一种磨床及其检测组件。

技术介绍

[0002]磨床是对硬脆材料进行磨削加工的设备。如磨床通常包括上料组件、进给组件以及磨削组件。以硬脆材料的件为硅棒为例，如首先将开方后的硅棒固定至上料组件，对其所处的位置和姿态进行后一定的初步调节后，将硅棒送达至进给组件的两个夹头之间，如两个夹头可以均为动夹头或者一个夹头为动夹头一个夹头为定夹头。通过的硅棒轴向运动，将硅棒送达磨削组件从而对第一组待磨削面进行包括粗磨和精磨在内的磨削加工。之后，通过使硅棒的旋转，从而转动至第二组待磨削面，在此基础上，对该第二组待磨削面进行包括粗磨和精磨在内的磨削加工。如此重复，直至硅棒所有的待磨削面按照设定的磨削标准被磨削。
[0003]仍以硬脆材料的件为硅棒为例，由于硅棒的规格不同且同种规格的硅棒的外形尺寸也有区别，因此，在将硅棒放在上料平台上的情形下，硅棒的轴线与两个夹头的轴线之间通常存在一定的位置偏差。此外，由于磨削前的硅棒表面本身存在不平整的现象，硅棒的轴线与两个夹头的轴线之间还存在一定的角度偏差。显然，位置偏差和角度偏差的存在均会对两根轴线的同轴度产生影响，而两根轴线之间的同轴度在磨床上则表现为硅棒的上料精度。上述位置偏差和角度偏差中的任一环节的不达标将会影响硅棒的上料精度，上料精度的降低通常会表现为不同程度的硅棒磨削量的增加、硅损提高，从而导致磨床的加工效率降低、硅棒的表面质量降低。在通过上料组件保证了硅棒的上料精度的情形下，需要基于检测组件的检测结果，确定粗磨砂轮和精磨砂轮的磨削量。在检测结果表明上料精度不达标的情形下，需要重新调整硅棒的位置和姿态，故而需要对目前的检测组件作出与上料组件相适配的改进。

技术实现思路

[0004]本技术旨在提供一种与能够提高上料精度的上料组件相适配的检测组件。
[0005]在第一方面，本技术提供了一种磨床的检测组件，该磨床包括沿待加工件的进给方向设置的粗磨砂轮和精磨砂轮，所述检测组件包括：基板；以及滑板，其上设置有探针组，所述滑板能够相对所述基板移动从而：使得滑板以及设置于所述滑板上的探针组相对所述基板靠近/远离待加工件；其中，所述检测组件位于所述磨床上所述粗磨砂轮靠近所述精磨砂轮的位置、所述精磨砂轮靠近所述粗磨砂轮的位置或者所述粗磨砂轮和所述精磨砂轮之间。
[0006]通过这样的构成，给出了的检测组件在磨床上的配置方式。
[0007]可以理解的是，本领域技术人员可以根据实际需求确定检测组件在磨床上的具体设置方式，以检测组件位于粗磨砂轮和精磨砂轮之间为例，如可以是：粗磨砂轮和精磨砂轮共用一个安装支架，将检测组件设置于安装支架中部的位置；在粗磨砂轮和精磨砂轮之间
增设一个独立的支架，将检测组件固定在该独立的支架上；等。
[0008]可以理解的是，通过滑板的设置，检测构件的内部可以产生位移，具体而言，伴随于滑动相对基板的滑动，滑板上的探针组能够相对基板产生靠近/远离待加工件的位移。可以理解的是，本领域技术人员可以根据实际需求确定滑动的产生所依赖的具体的驱动(传动)机构，如气缸直接驱动、电机与丝杠螺母机构组合而成的驱动传动机构等。
[0009]对于上述磨床的检测组件，在一种可能的实施方式中，所述磨床包括底座，所述基板相对所述底座移动，从而使得所述基板以及所述探针组靠近/远离待加工件。
[0010]通过这样的构成，给出了检测构件外部(整体)相对磨床的底座产生位移的具体方式。
[0011]可以理解的是，与前述的检测构件的内部可以产生位移类似，本领域技术人员可以根据实际需求确定外部产生位移所依赖的具体的驱动传动机构。示例地，为检测构件单独配置一套驱动传动系统或者借力于磨床现有的驱动传动系统。
[0012]对于上述磨床的检测组件，在一种可能的实施方式中，所述磨床包括第一驱动部件，所述第一驱动部件一方面与所述粗磨砂轮或者所述精磨砂轮驱动连接，另一方面与所述检测组件驱动连接。
[0013]通过这样的构成，能够谋求通过同一套驱动部件来实现粗/精磨砂轮和检测组件(外部)沿磨削方向的移动。
[0014]可以理解的是，本领域技术人员可以根据实际情况灵活地设置两种驱动连接的实现方式。如可以是：第一驱动部件与粗/精磨砂轮与检测组件分别直接连接；第一驱动部件与中间部件直接连接；粗/精磨砂轮和第一驱动部件固定设置于中间部件上；等。
[0015]对于上述磨床的检测组件，在一种可能的实施方式中，所述第一驱动部件为电机，所述电机通过滚珠丝杠驱动所述粗磨砂轮或者所述精磨砂轮靠近/远离待加工件
[0016]对于上述磨床的检测组件，在一种可能的实施方式中，所述磨床包括第一支架，所述粗磨砂轮和所述精磨砂轮中的一个设置于所述第一支架，所述第一驱动部件与所述第一支架驱动连接，所述检测组件设置于：所述第一支架；并且或者与所述第一支架相对应的所述粗磨砂轮或者所述精磨砂轮。
[0017]通过这样的构成，给出了第一驱动部件同时驱动粗/精磨砂轮和检测组件的一种具体的实现方式。
[0018]可以理解的是，本领域技术人员可以根据实际需求确定第一支架具体形式以及检测组件固定于第一支架和/或“粗/精磨砂轮”的具体方式，如检测组件可以通过与第一支架和/或“粗/精磨砂轮”直接连接或者间接连接的方式实现其的固定，并且可以固定至任意合理的位置。
[0019]对于上述磨床的检测组件，在一种可能的实施方式中，所述检测组件包括基座，所述基板设置于所述基座，所述基座固定至所述第一支架。
[0020]对于上述磨床的检测组件，在一种可能的实施方式中，所述基座包括底座部分以及设置于所述底座部分上的支撑部分，所述底座部分与所述第一支架固定连接，所述支撑部分与所述基板固定连接或者一体成型。
[0021]通过这样的构成，给出了基座的一种具体的形式。
[0022]对于上述磨床的检测组件，在一种可能的实施方式中，所述磨床包括第二支架，所
述粗磨砂轮和所述精磨砂轮的另一个设置于所述第二支架，其中，所述第一支架和所述第二支架以分置的方式设置于所述磨床。
[0023]通过这样的构成，给出了粗磨砂轮和精磨砂轮在磨床上的配置方式。
[0024]可以理解的是，与第一支架对应于粗/精磨砂轮的运动类似，第二支架也应当配置相应的驱动部件以实现精/粗磨砂轮靠近/远离待加工件的运动。如可以配置于前述的第一驱动部件相同或者不同的部件。
[0025]对于上述磨床的检测组件，在一种可能的实施方式中，所述检测组件包括第二驱动部件，所述第二驱动部件与所述滑板驱动连接。
[0026]通过这样的构成，给出了检测组件的一种可能的结构形式，如第二驱动部件可以为气缸、电缸、液压缸等可以直接滑板相对基板滑动的形式，也可以是电机等需要通过相应的传动机构来实现滑动相对基板滑动的形式。
[0027]在第二方面，本技术提供了一种磨床，该磨床包括前述任一项所述的磨床的检测组件。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种磨床的检测组件，其特征在于，所述磨床包括沿待加工件的进给方向设置的粗磨砂轮和精磨砂轮，所述检测组件包括：基板；以及滑板，其上设置有探针组，所述滑板能够相对所述基板移动从而：使得滑板以及设置于所述滑板上的探针组相对所述基板靠近/远离待加工件；其中，所述检测组件位于：所述磨床上所述粗磨砂轮靠近所述精磨砂轮的位置；或者所述精磨砂轮靠近所述粗磨砂轮的位置；或者所述粗磨砂轮和所述精磨砂轮之间。2.根据权利要求1所述的磨床的检测组件，其特征在于，所述磨床包括底座，所述基板相对所述底座移动，从而使得所述基板以及所述探针组靠近/远离待加工件。3.根据权利要求1所述的磨床的检测组件，其特征在于，所述磨床包括第一驱动部件，所述第一驱动部件一方面与所述粗磨砂轮或者所述精磨砂轮驱动连接，另一方面与所述检测组件驱动连接。4.根据权利要求3所述的磨床的检测组件，其特征在于，所述第一驱动部件为电机，所述电机通过滚珠丝杠驱动所述粗磨砂轮或者精磨砂轮靠近/远离待加工件。5.根据权利要求3所述的磨床的检测组件，其特征在于，所述磨床包括第一支架，所述粗磨砂轮和所述精磨砂...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐德军，苏庚，陈明一，薛俊兵，
申请(专利权)人：青岛高测科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：