【技术实现步骤摘要】
一种具有齿状侧墙的可重构场效应晶体管
[0001]本专利技术属于半导体器件中的场效应晶体管领域,具体涉及一种具有齿状侧墙的可重构场效应晶体管。
技术介绍
[0002]半导体技术的发展依赖着器件尺寸的不断缩小。随着工艺节点的演进,传统平面器件的短沟道效应和泄漏电流越来越不可忽视,摩尔定律的演变也受制于经济成本和制造工艺技术。在此情况下许多新型器件结构被相继提出。其中鳍式场效应晶体管(Fin Field
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Effect Transistor)、纳米片环栅场效应晶体管(Nanosheet Gate
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All
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Around Field
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Effect Transistor)与纳米线环栅场效应晶体管(Nanowire Gate
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All
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Around Field
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Effect Transistor)由于具备出色的栅控能力,成为7纳米及以下节点极具吸引力的结构之一。采用鳍式沟道、垂直排列纳米片或纳米线沟道的 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种具有齿状侧墙的可重构场效应晶体管,其特征在于,它包括:数条水平排列的沟道(1);设于数条沟道(1)左端的源(2),每条沟道(1)伸入源(2)内1/14沟道长度;设于数条沟道(1)右端的漏(3),每条沟道(1)伸入漏(3)内1/14沟道长度;包裹在各沟道(1)外侧的栅极氧化物(4);对称设置且包裹在栅极氧化物(4)外侧的控制栅极(5)和极性栅极(6);包裹在栅极氧化物(4)外侧、位于控制栅极(5)与极性栅极(6)之间的栅极隔离(7);设置于控制栅极(5)和源(2)之间的齿状源侧墙(8),沟道(1)与齿状源侧墙(8)直接接触,每条沟道(1)两侧的源侧墙(8)厚度不同,齿状源侧墙(8)的厚薄交替变化,形成齿状的凹凸,凹凸的厚度差等于沟道(1)伸入源(2)内的长度;设置于极性栅极(6)和漏(3)之间的齿状漏侧墙(9),形状与位置完全与源侧墙(8)对称;设于上述结构底部的衬底(10)。2.根据权利要求1所述的具有齿状侧墙的可重构场效应晶体管,其特征在于,所述沟道(1...
【专利技术属性】
技术研发人员:孙亚宾,汪超,石艳玲,李小进,
申请(专利权)人:华东师范大学,
类型:发明
国别省市:
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