液晶面板侧边封胶的AOI检测方法、装置及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种液晶面板侧边封胶的AOI检测方法、装置及存储介质，该方法包括：S1，利用相机在侧边封胶的过程中拍照，根据照片确定拍照时封胶的边缘、封胶的边缘与液晶面板基材的位置关系，并从而获得拍照时封胶的胶宽和/或胶厚；S2，判断所获取的胶宽和/或胶厚是否满足预先设定的胶宽和/或胶厚要求；如是，则确定封胶的胶宽和/或胶厚合格；否则，确定封胶的胶宽和/或胶厚不合格，并报警。利用上述技术方案，实现了在生产线上对液晶面板的封胶过程质量进行实时检测，检测结果更加精准，可快速及时发现异常不良产品，及时剔除处理，提高了生产产品的良率，减少了返修和报废的成本，提高了经济效益。了经济效益。了经济效益。

【技术实现步骤摘要】
液晶面板侧边封胶的AOI检测方法、装置及存储介质


[0001]本专利技术涉及液晶面板封胶
，特别是涉及一种液晶面板侧边封胶的检测方法、装置及存储介质。

技术介绍

[0002]液晶面板生产时，侧边需要封胶以防止光线外漏。封胶的质量效果会影响液晶面板的合格性。目前生产现场的封胶检测是采用人工定期抽检，将产品基材上的封胶用刀片工具切割下来，然后再用游标卡尺或千分尺测量封胶的厚度和宽度。这种人工定期抽检的缺陷在于：游标卡尺和千分尺在直接测量封胶这种弹性体的过程中，测量人员对测量工具操作力道的把握不同，测量结果差异很大，不能准确反映封胶的质量效果；封胶在切割过程中无法全部剥落下来，造成剥落下来的这部分封胶完整性缺失，导致测量结果偏小；经过切割后，封胶已被从物理结构上破坏，需要进行返修甚至直接报废。

技术实现思路

[0003]为解决上述手工检测封胶产生的问题，本专利技术的实施例提供了一种液晶面板侧边封胶的AOI检测方法、装置及存储介质，以提供一种客观、高效、实时的液晶面板侧边封胶检测方法。
[0004]为了实现上述目的，一方面，提供一种液晶面板侧边封胶的AOI检测方法，其特征在于，包括如下步骤：
[0005]S1，利用相机在侧边封胶的过程中拍照，根据照片确定拍照时封胶的边缘、封胶的边缘与液晶面板基材的位置关系，并从而获得拍照时封胶的胶宽和/或胶厚；
[0006]S2，判断所获取的胶宽和/或胶厚是否满足预先设定的胶宽和/或胶厚要求；如是，则确定封胶的胶宽和/或胶厚合格；否则，确定封胶的胶宽和/或胶厚不合格，并报警。
[0007]优选地，所述的AOI检测方法，其中所述步骤S1还包括：根据所述照片获取封胶的上边缘到液晶面板上层保护膜上表面的距离，以确定封胶的位置；所述步骤S2还包括：判断所确定的封胶的位置是否满足预先设定的封胶位置要求；如是，则确定封胶位置合格；否则，确定封胶位置不合格，并报警。
[0008]优选地，所述的AOI检测方法，其中，所述胶宽为封胶的上边缘到封胶的下边缘之间的距离，测量胶宽的相机对准封胶的液晶面板侧面设置，光源对准所述封胶的液晶面板的侧面设置并和测量胶宽的第一相机处于同一轴线上；在侧边封胶的过程中，所述第一相机沿与封胶的侧面平行的方向移动，每移动一区域拍取一张照片，针对每一张照片进行一个封胶胶宽的检测。
[0009]优选地，所述的AOI检测方法，其中，所述胶厚为封胶的内边缘到封胶的外边缘之间的距离，测量胶厚的相机对准液晶面板的正面和/或背面设置，使用2个光源来测量胶厚，2个光源分别对准封胶的正面和封胶的背面设置并和测量胶厚的相机保持在同一个轴线上；在侧边封胶的过程中，所述测量胶厚的相机沿与封胶的侧面平行的方向移动，每移动一
区域拍取一张照片，针对每一张照片进行一个封胶胶厚的检测。
[0010]优选地，所述的AOI检测方法，其中，相机拍照的间隔为0.006mm～0.1mm。
[0011]优选地，所述的AOI检测方法，其中，相机的镜头与所述封胶的液晶面板侧面相距110
±
5mm。
[0012]优选地，所述的AOI检测方法，其中，相机的镜头与所述封胶的正面相距110
±
5mm，设置在所述相机对侧的光源与液晶面板相距30
±
5mm。
[0013]优选地，所述的AOI检测方法，其中，还包括：
[0014]通过相机的移动获得液晶面板侧边整个胶线的胶宽和/或胶厚列表；
[0015]根据所述列表确定所述胶线的胶宽和/或胶厚的最大值、最小值和平均值；
[0016]根据所确定的所述胶线的胶宽和/或胶厚的最大值、最小值和平均值获得所述胶线的胶宽和/或胶厚波浪；
[0017]判断所获得的所述胶线的胶宽和/或胶厚波浪是否满足预先设定的胶宽和/或胶厚波浪要求；如是，则确定所述胶线的胶宽和/或胶厚波浪合格；否则，确定所述胶线的胶宽和/或胶厚波浪不合格。
[0018]另一方面，提供了一种液晶面板侧边封胶的AOI检测装置，包括相机和判断模块，所述相机用于在侧边封胶的过程中拍照，并将照片传输给所述判断模块；所述判断模块包括存储器和处理器，所述存储器存储有至少一段程序，所述至少一段程序由所述处理器执行以根据所述照片实现如上文所描述的任一所述的AOI检测方法。
[0019]又一方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述存储介质中存储有至少一段程序，所述至少一段程序由所述处理器执行以实现上文描述的任一所述的AOI检测方法。
[0020]上述技术方案具有如下技术效果：
[0021]本专利技术实施例的技术方案通过拍照获取图片，根据图片来获取标示封胶质量和/或位置的封胶数据，通过无接触的无损测量方式来检测液晶面板的封胶质量，且检测结果更加精准，例如可以达到0.01mm精确度；实现了在生产线上对液晶面板的封胶过程质量进行实时检测，检测结果更加精准，可快速及时发现异常不良产品，及时剔除处理，提高了生产产品的良率，减少了返修和报废的成本，提高了经济效益。
附图说明
[0022]图1为本专利技术一实施例的液晶面板侧边封胶的AOI检测方法的流程示意图；
[0023]图2为本专利技术一实施例的液晶面板侧边封胶的AOI检测方法中，检测侧边封胶的胶宽时，相机及光源的设置图；
[0024]图3为对应的液晶面板组成的各层示意图；
[0025]图4为一示例性的封胶侧边照片；
[0026]图5为本专利技术一实施例的液晶面板侧边封胶的AOI检测方法中，检测侧边封胶的胶厚时，相机及光源的设置图；
[0027]图6示出了保护膜上表面溢胶的封胶缺陷；
[0028]图7为一示例性的封胶侧边照片；
[0029]图8为本专利技术另一实施例的液晶面板侧边封胶的AOI检测方法中，检测侧边封胶的胶厚时，相机及光源的设置图；
[0030]图9示出了TFT下表面溢胶的封胶缺陷；
[0031]图10为一示例性的拍照图片和转换后的封胶检测图片；
[0032]图11在PC屏幕上显示的三个封胶侧边的胶宽和胶厚情况；
[0033]图12示出了不合格的胶厚和胶宽示例。
具体实施方式
[0034]为进一步说明各实施例，本专利技术提供有附图。这些附图为本专利技术揭露内容的一部分，其主要用以说明实施例，并可配合说明书的相关描述来解释实施例的运作原理。配合参考这些内容，本领域普通技术人员应能理解其他可能的实施方式以及本专利技术的优点。图中的组件并未按比例绘制，而类似的组件符号通常用来表示类似的组件。
[0035]现结合附图和具体实施方式对本专利技术进一步说明。
[0036]实施例一：
[0037]图1为本专利技术一实施例的液晶面板侧边封胶的AOI检测方法的流程示意图。自动光学检测(AOI,Automated Optical Inspection)用于对生产中遇到的常见缺陷进行检测。如图1，在该实施例的液晶面板侧边封胶的AOI检测方法，包括本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种液晶面板侧边封胶的AOI检测方法，其特征在于，包括如下步骤：S1，利用相机在侧边封胶的过程中拍照，根据照片确定拍照时封胶的边缘、封胶的边缘与液晶面板基材的位置关系，并从而获得拍照时封胶的胶宽和/或胶厚；S2，判断所获取的胶宽和/或胶厚是否满足预先设定的胶宽和/或胶厚要求；如是，则确定封胶的胶宽和/或胶厚合格；否则，确定封胶的胶宽和/或胶厚不合格，并报警。2.根据权利要求1所述的AOI检测方法，其特征在于，所述步骤S1还包括：根据所述照片获取封胶的上边缘到液晶面板上层保护膜上表面的距离，以确定封胶的位置；所述步骤S2还包括：判断所确定的封胶的位置是否满足预先设定的封胶位置要求；如是，则确定封胶位置合格；否则，确定封胶位置不合格，并报警。3.根据权利要求1所述的AOI检测方法，其特征在于，所述胶宽为封胶的上边缘到封胶的下边缘之间的距离，测量胶宽的相机对准封胶的液晶面板侧面设置，光源对准所述封胶的液晶面板的侧面设置并和测量胶宽的第一相机处于同一轴线上；在侧边封胶的过程中，所述第一相机沿与封胶的侧面平行的方向移动，每移动一区域拍取一张照片，针对每一张照片进行一个封胶胶宽的检测。4.根据权利要求1所述的AOI检测方法，其特征在于，所述胶厚为封胶的内边缘到封胶的外边缘之间的距离，测量胶厚的相机对准液晶面板的正面和/或背面设置，使用2个光源来测量胶厚，2个光源分别对准封胶的正面和封胶的背面设置并和测量胶厚的相机保持在同一个轴线上；在侧边封胶的过程中，所述测量胶厚的相机沿与封胶的侧面平行的方向移动，每移动一区域拍取一张照片，针对每一张照片进行一个封胶胶厚的检...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨玉龙，陈元杰，
申请(专利权)人：厦门力巨自动化科技有限公司，
类型：发明
国别省市：