一种芯片测试座组件制造技术

本实用新型专利技术涉及芯片测试技术领域，尤其是一种芯片测试座组件，包括芯片测试座，所述芯片测试座的顶部固定连接有竖筒，所述竖筒的内壁间隙配合有芯片，所述竖筒的上方设有横板。通过芯片测试座、芯片、竖筒、直板、螺栓、竖块、块体、圆杆、横板和推动结构的配合，弹簧一带动竖杆向下移动，竖杆带动推板向下移动，推板将芯片压紧，使位于底部的芯片可以与芯片测试座相接触，进而可以对底部的芯片进行测试，测试完成后，向右推动推杆，推杆将底部的芯片从芯片测试座的一侧上方开口处推出，弹簧二带动推杆向左移动恢复原位，推板将芯片继续向下推动，进而使下一个芯片与芯片测试座接触，进而实现对芯片的连续测试，节省测试时间，提高工作效率。作效率。作效率。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试座组件


[0001]本技术涉及芯片测试
，具体为一种芯片测试座组件。

技术介绍

[0002]芯片在封装制造及出厂前，均需经过多重的测试程序，以筛选、淘汰瑕疵品，维护其芯片产品的品质，避免增加后续产品维修的成本，在对芯片进行测试时，需要使用到芯片测试座。
[0003]在对芯片进行测试时，将芯片放置在芯片测试座的凹槽内，在通过盖板将芯片压紧，在对芯片进行测试，将芯片测试完成后，在将芯片取出，进行下一个芯片的测试，而在一次一次的对芯片进行测试时，需要不停的将盖板打开放入芯片在扣合，进而较为浪费测试时间，工作效率低。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是为了解决现有技术中存在不便于对芯片进行连续测试，浪费测试时间，工作效率低的缺点，而提出的一种芯片测试座组件。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：
[0006]设计一种芯片测试座组件，包括芯片测试座，所述芯片测试座的顶部固定连接有竖筒，所述竖筒的内壁间隙配合有芯片，所述竖筒的上方设有横板，所述横板的一侧设有推动结构。
[0007]优选的，所述推动结构包括弹簧一、竖杆、推板、推杆、弹簧二和横块，所述竖杆的外壁上方与横板的一侧内壁间隙配合，所述竖杆的外壁上方间隙配合有弹簧一，所述弹簧一的上下两端分别与竖杆的外壁上方与横板的顶部一侧固定连接，所述竖杆的底部固定连接有推板，所述推板的底部与芯片的顶部相贴合，所述竖杆的一侧设有推杆，所述推杆的外壁与芯片测试座的一侧上方内壁间隙配合，所述推杆的内壁滑动卡接有横块，所述横块的后端与芯片测试座的一侧上方内壁固定连接，所述横块的一端固定连接有弹簧二，所述弹簧二的一端与推杆的内壁一端固定连接。
[0008]优选的，所述横板的一侧内壁固定连接有圆杆，所述圆杆的外壁下方通过轴承转动连接有直板。
[0009]优选的，所述直板的一端与竖筒的一侧上方固定连接，所述圆杆的底部固定连接有块体。
[0010]优选的，所述块体的一端内壁通过螺栓螺纹连接有竖块，所述竖块的顶部与直板的底部一侧固定连接。
[0011]本技术提出的一种芯片测试座组件，有益效果在于：通过芯片测试座、芯片、竖筒、直板、螺栓、竖块、块体、圆杆、横板和推动结构的配合，使得该装置在使用时，可以通过弹簧一带动竖杆向下移动，竖杆带动推板向下移动，推板将芯片压紧，使位于底部的芯片可以与芯片测试座相接触，进而可以对底部的芯片进行测试，测试完成后，向右推动推杆，
推杆将底部的芯片从芯片测试座的一侧上方开口处推出，弹簧二带动推杆向左移动恢复原位，推板将芯片继续向下推动，进而使下一个芯片与芯片测试座接触，进而实现对芯片的连续测试，节省测试时间，提高工作效率。
附图说明
[0012]图1为本技术结构示意图；
[0013]图2为本技术的直板、圆杆和横板结构示意图；
[0014]图3为本技术的螺栓、竖块和块体结构示意图；
[0015]图4为本技术的推杆、弹簧二和横块结构示意图；
[0016]图5为本技术的弹簧一、竖杆和横板结构示意图。
[0017]图中：1、芯片测试座，2、推动结构，201、弹簧一，202、竖杆，203、推板，204、推杆，205、弹簧二，206、横块，3、芯片，4、竖筒，5、直板，6、螺栓，7、竖块，8、块体，9、圆杆，10、横板。
具体实施方式
[0018]下面结合附图对本技术作进一步说明：
[0019]参照附图1
‑
5：本实施例中，一种芯片测试座组件，包括芯片测试座1，芯片测试座1的顶部固定连接有竖筒4，芯片测试座1的一侧上方加工有开口，竖筒4的内壁间隙配合有芯片3，竖筒4的上方设有横板10，横板10的一侧内壁固定连接有圆杆9，圆杆9的外壁下方通过轴承转动连接有直板5，轴承使圆杆9受力时可以在直板5的内壁转动，直板5的一端与竖筒4的一侧上方固定连接，圆杆9的底部固定连接有块体8，圆杆9的外壁上方固定连接有把手，块体8的一端内壁通过螺栓6螺纹连接有竖块7，这样设计可以对推板203进行定位，竖块7的顶部与直板5的底部一侧固定连接，横板10的一侧设有推动结构2，推动结构2实现对芯片3的连续测试，节省测试时间，提高工作效率。
[0020]推动结构2包括弹簧一201、竖杆202、推板203、推杆204、弹簧二205和横块206，竖杆202的外壁上方与横板10的一侧内壁间隙配合，竖杆202受力时可以在横板10的一侧内壁上下移动，竖杆202的外壁上方间隙配合有弹簧一201，弹簧201给予竖杆202向下移动，弹簧一201的上下两端分别与竖杆202的外壁上方与横板10的顶部一侧固定连接，竖杆202的底部固定连接有推板203，推板203的底部与芯片3的顶部相贴合，竖杆202的一侧设有推杆204，推杆204的外壁与芯片测试座1的一侧上方内壁间隙配合，推杆204的内壁滑动卡接有横块206，横块206对推杆204受力左右移动时起到限位作用，横块206的后端与芯片测试座1的一侧上方内壁固定连接，横块206的一端固定连接有弹簧二205，弹簧二205给予推杆204向左的力，弹簧二205的一端与推杆204的内壁一端固定连接，弹簧一201带动竖杆202向下移动，竖杆202带动推板203向下移动，推板203将芯片3压紧，使位于底部的芯片3可以与芯片测试座1相接触，进而可以对底部的芯片3进行测试，测试完成后，向右推动推杆204，推杆204将底部的芯片3从芯片测试座1的一侧上方开口处推出，弹簧二205带动推杆204向左移动恢复原位，推板204将芯片3继续向下推动，进而使下一个芯片3与芯片测试座1接触，进而实现对芯片3的连续测试，节省测试时间，提高工作效率。
[0021]工作原理：
[0022]首先将芯片3放置在竖筒4的内壁，转动圆杆9，圆杆9带动横板10转动，横板10带动
竖杆202转动，使推板203位于竖筒4的上方，同时圆杆9带动块体8转动，转动完成后，转动螺栓6，使螺栓6进入竖块7和块体8的内壁，进而实现对推板203的定位，弹簧一201带动竖杆202向下移动，竖杆202带动推板203向下移动，使推板203与芯片3接触，进而可以对底部的芯片进行测试，测试完成后，向右推动推杆204，推杆204将底部的芯片3从芯片测试座1的一侧上方开口处推出，弹簧二205带动推杆204向左移动恢复原位，推板204将芯片3继续向下推动，进而使下一个芯片3与芯片测试座1接触，进而实现对芯片3的连续测试。
[0023]虽然本技术已通过参考优选的实施例进行了图示和描述，但是，本专业普通技术人员应当了解，在权利要求书的范围内，可作形式和细节上的各种各样变化。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试座组件，包括芯片测试座(1)，其特征在于：所述芯片测试座(1)的顶部固定连接有竖筒(4)，所述竖筒(4)的内壁间隙配合有芯片(3)，所述竖筒(4)的上方设有横板(10)，所述横板(10)的一侧设有推动结构(2)。2.根据权利要求1所述的一种芯片测试座组件，其特征在于：所述推动结构(2)包括弹簧一(201)、竖杆(202)、推板(203)、推杆(204)、弹簧二(205)和横块(206)，所述竖杆(202)的外壁上方与横板(10)的一侧内壁间隙配合，所述竖杆(202)的外壁上方间隙配合有弹簧一(201)，所述弹簧一(201)的上下两端分别与竖杆(202)的外壁上方与横板(10)的顶部一侧固定连接，所述竖杆(202)的底部固定连接有推板(203)，所述推板(203)的底部与芯片(3)的顶部相贴合，所述竖杆(202)的一侧设有推杆(204)，所述推杆(2...

【专利技术属性】
技术研发人员：陶品岳，陶柳，杨镇武，
申请(专利权)人：苏州恩斯贝电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：