芯片测试装置和芯片测试系统制造方法及图纸

本公开提供了一种芯片测试装置和芯片测试系统。本公开的一些实施例中，芯片测试装置包括：用户交互模块，用于通过提供芯片测试交互界面与用户交互芯片测试指令和芯片测试数据，测试数据包括用于指示芯片测试结果的芯片测试报告和/或用于指示实时测试情况与数据采集情况的芯片测量数据；硬件交互模块，用于近程和/或远程地访问测量设备以与测量设备交互芯片测试指令与芯片测量数据；数据处理模块，用于利用来自硬件交互模块的芯片测量数据生成芯片测试报告并提供给用户交互模块。本公开的芯片测试装置和芯片测试系统可方便用户随时随地操控各类芯片的测试过程和直观清晰地查看芯片测试过程中的数据和芯片测试的结果。查看芯片测试过程中的数据和芯片测试的结果。查看芯片测试过程中的数据和芯片测试的结果。

【技术实现步骤摘要】
芯片测试装置和芯片测试系统


[0001]本公开涉及一种芯片测试装置和芯片测试系统。

技术介绍

[0002]芯片开发过程中，需要测试芯片性能和演示芯片功能。目前，用于芯片性能测试的芯片测试设备大多是大型仪器，价格高昂，操作复杂，用户需要经过专业培训才能操作，携带不便，测试功能无法扩展，使用场景有限。而诸如万用表等小型测量设备，功能不足以支持芯片性能的测试。

技术实现思路

[0003]为了解决上述技术问题中的至少一个，本公开实施例提供了一种芯片测试装置和芯片测试系统。
[0004]根据本公开的第一方面，提供了一种芯片测试装置，包括：
[0005]用户交互模块，用于通过提供芯片测试交互界面与用户交互芯片测试指令和芯片测试数据，测试数据包括用于指示芯片测试结果的芯片测试报告和/或用于指示实时测试情况与数据采集情况的芯片测量数据；
[0006]硬件交互模块，用于近程和/或远程地访问测量设备以与测量设备交互芯片测试指令与芯片测量数据；
[0007]数据处理模块，用于利用来自硬件交互模块的芯片测量数据生成芯片测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试装置，其特征在于，包括：用户交互模块，用于通过提供芯片测试交互界面与用户交互芯片测试指令和芯片测试数据，测试数据包括用于指示芯片测试结果的芯片测试报告和/或用于指示实时测试情况与数据采集情况的芯片测量数据；硬件交互模块，用于近程和/或远程地访问测量设备以与测量设备交互芯片测试指令与芯片测量数据；数据处理模块，用于利用来自硬件交互模块的芯片测量数据生成芯片测试报告并提供给用户交互模块。2.根据权利要求1的芯片测试装置，其特征在于，芯片测试报告包括器件性能参数和/或器件性能曲线。3.根据权利要求2的芯片测试装置，其特征在于，器件性能参数包括如下之一或多项：阈值电压、饱和电流、关态电流、开关比、亚阈值摆幅、跨导；和/或，器件性能曲线包括如下之一或多项：转移特性曲线、输出特性曲线、漏致势垒降低回滞曲线、电流
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时间曲线、电压
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时间曲线。4.根据权利要求1的芯片测试装置，其特征在于，用户交互模块、硬件交互模块和数据处理模块分别基于python语言实现。5.根据权利要求1～4任一项的芯片测试装置，其特征在于，用户交互模块，包括：用于提供芯片测试交互界面的网络服务单元和用于向用户传递芯片测试指令和芯片测试数据的传送单元；优选地，网络服务单元基于python的Bottle实现。优选地，传送单元基于websocket和/或基于HTTP协议的ajax实现。6.根据权利要求5的芯片测试装置，其特征在于，用户交互模块还包括指令输入单元和渲染输出单元；其中，指令输入单元，用于接收用户在芯片测试交互界面中输入的芯片测试信息并根据芯片测试信息生成芯片测试指令；渲染输出单元，用于渲染生成芯片测试数据的可视化表示并在芯片测试交互界面中展示；优选地，芯片测试数据的可视化表示包括器件性能参数的数据图像和/或器件性能曲线图；优选地，渲染输出单元包括前端可视化组件，前端可视化组件基于JavaS...

【专利技术属性】
技术研发人员：李若铭，魏楠，许海涛，
申请(专利权)人：北京华碳元芯电子科技有限责任公司北京大学，
类型：发明
国别省市：