U盘芯片用测试治具制造技术

本实用新型专利技术公开一种U盘芯片用测试治具，包括有主体以及至少一锁块；该主体上开设有至少一与U盘芯片相适配的芯片槽，该芯片槽中设置有用于与U盘芯片抵接的第一连接器，且该主体上设置有至少一与测试设备连接的第二连接器，第二连接器与第一连接器导通连接；该锁块可拆卸地安装在主体上并盖住芯片槽。通过在主体上开设一芯片槽，芯片槽的底端面上设置有用于与U盘芯片抵接的第一连接器，芯片放置于芯片槽测试时，芯片无需拔插，防止因芯片拔插造成HUB的USB母头损坏，同时，也不会在芯片的表面造成划痕，从而影响外观。另外，还可以根据实际状况单独对某个U盘芯片替换来进行测试。际状况单独对某个U盘芯片替换来进行测试。际状况单独对某个U盘芯片替换来进行测试。

【技术实现步骤摘要】
U盘芯片用测试治具


[0001]本技术涉及治具领域技术，尤其是指一种U盘芯片用测试治具。

技术介绍

[0002]U盘的全称为USB闪存盘，是一种人们常用的小型移动存储设备，其便于携带，使用方便。目前，按技术装配来划分，U盘分两种类型，一种是采用PCB电路板的U盘，另一种是采用一体封装成黑胶体的U盘芯片来组装形成的U盘。后者的防水、防尘、抗震，产品装配方便，且可以让产品设计得更轻薄、时尚。为了保证U盘质量，在组装U盘产品之前，必须要注重U盘芯片测试的工作。
[0003]市面上用于测试U盘芯片的工具需要将U盘芯片直接插在测试设备的HUB上，经常测试拔插容易造成HUB的USB母头损坏，也容易造成U盘芯片的金手指出现划痕影响新产品外观。因此，有必要对现有用于对U盘芯片进行测试的治具进行改进。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本技术针对现有技术存在之缺失，其主要目的是提供一种U盘芯片用测试治具，其不会因芯片的反复拔插造成HUB的USB母头损坏，也不会对芯片的表面造成划痕，还可以单独对某个U盘芯片进行随意替换来测试。
[00本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种U盘芯片用测试治具，其特征在于：包括有主体以及至少一锁块；该主体上开设有至少一与U盘芯片相适配的芯片槽，该芯片槽中设置有用于与U盘芯片抵接的第一连接器，且该主体上设置有至少一与测试设备连接的第二连接器，第二连接器与第一连接器导通连接；该锁块可拆卸地安装在主体上并盖住芯片槽。2.根据权利要求1所述的U盘芯片用测试治具，其特征在于：所述主体的两侧均凹设有嵌槽，两嵌槽分别连通芯片槽的两侧，该锁块的两端分别嵌于对应的嵌槽中定位。3.根据权利要求2所述的U盘芯片用测试治具，其特征在于：所述锁块的底面凹设有与U盘芯片相适配的定位槽。4.根据权利要求2所述的U盘芯片用测试治具，其特征在于：所...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘斯俭，
申请(专利权)人：深圳华太芯创有限公司，
类型：新型
国别省市：