芯片测试固定架制造技术

本实用新型专利技术涉及芯片测试技术领域，具体涉及芯片测试固定架，包括检测台和芯片本体，还包括夹板，对称滑动安装在检测台上，两个夹板相靠近一侧外壁上均对称安装有两个导向板，且两个导向板的间距与芯片本体的宽度相同；检测架，安装在检测台的侧壁上，检测架上滑动安装有移动板，且移动板滑动方向与夹板滑动方向相垂直，移动板上安装有多个检测针；控制组件，用于控制在芯片本体定位完成后再进行检测。本实用新型专利技术在检测台上滑动安装了夹板，且夹板上设置了导向板，通过相互靠近的夹板即可完成芯片的定位，在定位完毕后，通过下滑的多个检测针对芯片的触角进行检测，由于检测之前对芯片先完成定位，这样检测更加精确，提高了芯片的生产质量。产质量。产质量。

【技术实现步骤摘要】
芯片测试固定架


[0001]本技术涉及芯片测试
，具体涉及芯片测试固定架。

技术介绍

[0002]UVLED点光源是采用高能量紫外线发光二极管（单颗灯珠），发射出光斑呈点状的UV光源，用来对UV胶水、UV油墨等UV光感材料的快速固化，也称“紫外线固化光源”。
[0003]UVLED点光源中芯片是其重要的控制组件，在芯片生产过程中需要对其进行触点检测，现有的检测台上设有多个预留插孔（与芯片两侧的触角相对应），检测人员将芯片的触角插设到预留孔中，由于触角较多导致使用起来十分不方便，在插设错位时还会压弯芯片的触角，不仅降低检测的精度和效率，还会降低芯片的质量。

技术实现思路

[0004]解决的技术问题
[0005]针对现有技术所存在的上述缺点，本技术提供了芯片测试固定架，能够有效地解决现有技术中芯片检测的效率低且易出错的问题。
[0006]技术方案
[0007]为实现以上目的，本技术通过以下技术方案予以实现：
[0008]本技术提供芯片测试固定架，包括检测台和芯片本体，其特征在于，还包括：夹板，对称滑动安装在检测台上，两个所述夹板相靠近一侧外壁上均对称安装有两个导向板，且两个导向板的间距与芯片本体的宽度相同；检测架，安装在检测台的侧壁上，所述检测架上滑动安装有移动板，且移动板滑动方向与夹板滑动方向相垂直，所述移动板上安装有多个检测针；控制组件，用于控制在芯片本体定位完成后再进行检测。
[0009]进一步地，位于同一个所述夹板上的两个导向板相靠近一侧的外壁上均设有导向面。
[0010]进一步地，所述移动板滑动安装的面为斜面，所述移动板上安装有安装板，所述检测针通过弹性杆安装在安装板的底壁上。
[0011]进一步地，所述检测台上设有用于推动移动板滑动的第二气动杆，所述检测台上安装有用于推动夹板相互靠近的两个第一气动杆，所述第一气动杆和第二气动杆均与外部气缸相连通。
[0012]进一步地，所述控制组件包括安装在夹板上的控制盒，所述夹板上垂直穿插有控制杆，且控制杆活动贯穿控制盒，所述控制盒的外壁上分别安装有进气管和出气管，且控制杆可插设到进气管中，所述进气管中转动安装有挡板，所述进气管中安装有限位板。
[0013]进一步地，所述控制杆远离控制盒一端安装有活动板，所述控制杆套设有复位弹簧。
[0014]有益效果
[0015]本技术提供的技术方案，与已知的公有技术相比，具有如下有益效果：
[0016]本技术在检测台上滑动安装了夹板，且夹板上设置了导向板，通过相互靠近的夹板即可完成芯片的定位，在定位完毕后，通过下滑的多个检测针对芯片的触角进行检测，由于检测之前对芯片先完成定位，这样检测更加精确，提高了芯片的生产质量。
附图说明
[0017]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0018]图1为本技术的整体示意图；
[0019]图2为中A部分结构的放大图；
[0020]图3为本技术中检测架的结构示意图；
[0021]图4为本技术中控制组件的结构示意图；
[0022]图5为本技术中控制组件的剖视图。
[0023]图中的标号分别代表：1、检测台；2、芯片本体；3、夹板；4、导向板；5、活动板；6、第一气动杆；7、检测架；8、斜面；9、移动板；10、第二气动杆；11、安装板；12、检测针；13、控制盒；14、进气管；15、出气管；16、控制杆；17、挡板；18、限位板；19、复位弹簧。
具体实施方式
[0024]为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0025]下面结合实施例对本技术作进一步的描述。
[0026]实施例：芯片测试固定架，包括检测台1和芯片本体2，在芯片生产过程中需要对其进行触点检测，现有的检测台1上设有多个预留插孔（与芯片两侧的触角相对应），检测人员将芯片的触角插设到预留孔中，由于触角较多导致使用起来十分不方便，在插设错位时还会压弯芯片的触角，不仅降低检测的精度和效率，还会降低芯片的质量，针对上述问题，本方案通过先对芯片进行定位，定位完成后将检测针12压到芯片的触角上，不仅提高了检测的质量，更降低了检测过程中对芯片的损坏，具体的方案如下：
[0027]还包括夹板3，对称滑动安装在检测台1上，两个夹板3相靠近一侧外壁上均对称安装有两个导向板4，且两个导向板4的间距与芯片本体2的宽度相同，位于同一个夹板3上的两个导向板4相靠近一侧的外壁上均设有导向面；检测架7，安装在检测台1的侧壁上，检测架7上滑动安装有移动板9，且移动板9滑动方向与夹板3滑动方向相垂直，移动板9滑动安装的面为斜面8，移动板9上安装有安装板11，检测针12通过弹性杆安装在安装板11的底壁上，移动板9上安装有多个检测针12，检测台1上设有用于推动移动板9滑动的第二气动杆10，检测台1上安装有用于推动夹板3相互靠近的两个第一气动杆6，第一气动杆6和第二气动杆10均与外部气缸相连通。
[0028]为了给芯片进行定位，利用两个第一气动杆6来驱动两个夹板3相互靠近，此为一个方向将芯片固定，同时夹板3上设置了两个到导向板4，此处的导向板4采用滑动安装，同时设置了弹性件，从而在夹板3夹持方向相垂直的方向上对芯片进行定位，从而实现定位，值得注意的是，导向板4的上设置了导向面，该导向面可以为弧形面，这样可以推动芯片移动，提高其定位的精确性。利用第二气动杆10带动两个移动板9相互靠近，值得注意的是，移动板9滑动安装在斜面8上，使得在相互靠近的同时还会逐渐下降，将检测针12压在芯片的触角上，对芯片进行检测。提高了检测的效率和质量，同时在检测的过程中不会损坏芯片。
[0029]控制组件，用于控制在芯片本体2定位完成后再进行检测，控制组件包括安装在夹板3上的控制盒13，夹板3上垂直穿插有控制杆16，且控制杆16活动贯穿控制盒13，控制盒13的外壁上分别安装有进气管14和出气管15，且控制杆16可插设到进气管14中，进气管14中转动安装有挡板17，进气管14中安装有限位板18，控制杆16远离控制盒13一端安装有活动板5，控制杆16套设有复位弹簧19。
[0030]值得注意的是，出气管15与第二气动杆10相连通，而进气管14与外部气缸相连通。第一气动杆6在外部气缸的驱动下带动夹板3往芯片靠近，芯片压动活动板5，活动板5本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.芯片测试固定架，包括检测台（1）和芯片本体（2），其特征在于，还包括：夹板（3），对称滑动安装在检测台（1）上，两个所述夹板（3）相靠近一侧外壁上均对称安装有两个导向板（4），且两个导向板（4）的间距与芯片本体（2）的宽度相同；检测架（7），安装在检测台（1）的侧壁上，所述检测架（7）上滑动安装有移动板（9），且移动板（9）滑动方向与夹板（3）滑动方向相垂直，所述移动板（9）上安装有多个检测针（12）；控制组件，用于控制在芯片本体（2）定位完成后再进行检测。2.根据权利要求1所述的芯片测试固定架，其特征在于，位于同一个所述夹板（3）上的两个导向板（4）相靠近一侧的外壁上均设有导向面。3.根据权利要求1所述的芯片测试固定架，其特征在于，所述移动板（9）滑动安装的面为斜面（8），所述移动板（9）上安装有安装板（11），所述检测针（12）通过弹性杆安装在安装板（11）的底壁上。4.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：靳亚超，
申请(专利权)人：浙江兰达光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：