波形数据的重采样方法、装置、功能模块及重采样系统制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种波形数据的重采样方法、装置、功能模块及重采样系统。波形数据的重采样方法，包括：使用目标波形采样数据初始化跳变点检测数据，并在跳变点检测数据中识别跳变采样点；使用当前插值算法在跳变采样点和跳变采样点前一相邻采样点间进行插值处理；使用插值数据更新跳变点检测数据后，返回执行识别跳变采样点的操作，直至完成预设次数的插值算法的使用；根据插值算法集中各插值算法在插值处理前记录的插值位置进行重采样处理，得到待处理通道的重采样数据；根据重采样数据进行数据波形恢复，得到待存储数据，并对待存储数据进行存储。本发明专利技术实施例的技术方案能够极大的提高波形数据的采样精度，满足数据精度要求较高的场合。的场合。的场合。

【技术实现步骤摘要】
波形数据的重采样方法、装置、功能模块及重采样系统


[0001]本专利技术涉及通信
，尤其涉及一种波形数据的重采样方法、装置、功能模块及重采样系统。

技术介绍

[0002]随着科学技术的发展，测量作为人类科技发展的重要基石，在科学研究探索的过程中一直是必不可少的一环。
[0003]在进行数据采集的过程中，对数据采集的精度受限于很多因素，比如模数转换器的采样率以及被采样信号的频率大小等，使得测量误差会比较大，为了提高精度，大多会对数据进行插值处理，在传统的重采样的操作中，虽然可以将重采样的精度提高，但是仍无法满足精度要求较高的场合。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供了一种波形数据的重采样方法、装置、功能模块及重采样系统，能够极大的提高波形数据的采样精度，满足数据精度要求较高的场合。
[0005]根据本专利技术的一方面，提供了一种波形数据的重采样方法，包括：
[0006]在多个通道采集的波形采集数据中，获取目标通道的目标波形采样数据；
[0007]使用目标波形采样数据初始化跳变点检测数据，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种波形数据的重采样方法，其特征在于，包括：在多个通道采集的波形采集数据中，获取目标通道的目标波形采样数据；使用所述目标波形采样数据初始化跳变点检测数据，并在所述跳变点检测数据中识别跳变采样点；在插值算法集中获取当前插值算法，并使用所述当前插值算法在每个所述跳变采样点和所述跳变采样点的前一相邻采样点间进行插值处理；使用插值数据更新所述跳变点检测数据后，返回执行所述在所述跳变点检测数据中识别跳变采样点的操作，直至完成预设次数的插值算法的使用；根据插值算法集中各插值算法在插值处理前记录的插值位置，对待处理通道的波形采集数据进行重采样处理，得到所述待处理通道的重采样数据；根据所述待处理通道的重采样数据进行数据波形恢复处理，得到待存储数据，并按照预设恢复数据个数对所述待存储数据进行存储。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在多个通道采集的波形采集数据中，获取目标通道的目标波形采样数据，包括：获取目标通道中目标数据位数的当前波形采样数据，并获取所述当前波形采样数据前序目标数据位数的第一波形采样数据，以及后续目标数据位数的第二波形采样数据；根据所述当前波形采样数据、所述第一波形采样数据的以及第二波形采样数据，确定目标波形采样数据。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述在所述跳变点检测数据中识别跳变采样点，包括：设置初始目标待比较数据；根据所述跳变点检测数据的数据顺序，将所述跳变点检测数据划分为多个待检测数据组，并确定各待检测数据组中的跳变点第一检测数据以及跳变点第二检测数据；分别将各待检测数据组中的跳变点第一检测数据以及跳变点第二检测数据与所述初始目标待比较数据进行比较，确定跳变采样点。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述使用所述当前插值算法在每个所述跳变采样点和所述跳变采样点的前一相邻采样点间进行插值处理之前，包括：根据每个所述跳变采样点在跳变检测数据中的数据位置进行位置编码，得到跳变点位置编码；基于所述跳变点位置编码，记录与所述当前插值算法匹配的插值位置。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述完成预设次数的插值算法的使用之后，还包括：获取与末次插值算法匹配的末次插值处理结果；获取末次目标待比较数据；根据所述末次插值处理结果以及所述末次目标待比较数据，确定待处理跳变采样点和所述待处理跳变采样点的前一相邻采样点；根据所述待处理跳变采样点与所述末次目标待比较数据的第一差值，以及所述待处理跳变采样点的前一相邻采样点与所述末次目标待比较数据的第二差值，确定目标采样点，并记录目标采样点的目标采样点位置编码。
6.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：季尔优，周磊，
申请(专利权)人：苏州迅芯微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：