食品中有害元素快检设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种食品中有害元素快检设备，包括：安装架；样品杯，用于容置待测样品，并可拆卸地设置在所述安装架上，所述待测样品的待测面与水平方向相垂直；射线源，其出射端与所述待测面相对设置；以及探测器，其探测端与所述待测面相对设置。本实用新型专利技术射线源和探测器能够通过侧照方式代替下照方式进行检测工作，当待测样品遇到突发情况而脱离样品杯时，待测样品在重力作用下不会落至射线源和/或探测器上，避免射线源和/或探测器破损和表面污染，降低维护成本。降低维护成本。降低维护成本。

【技术实现步骤摘要】
食品中有害元素快检设备


[0001]本技术涉及食品检测设备
，特别涉及中食品中有害元素快检设备。

技术介绍

[0002]近年来随着医学的发展，人们逐渐意识到铝、铅等有害元素对身体的危害性，例如世界卫生组织和联合国粮农组织于1989年正式将铝确定为食品污染物而加以控制，我国也制定了面制食品中铝的限量卫生标准为不超过100mg/kg。X射线荧光分析(XRF)技术具有成本低、速度快、非破坏式检测、多元素同时测量、操作方便的优势，且基于XRF技术的仪器通常体积小、重量轻、便于携带和实现自动化，因此，在固体、液体等类型样品的成分检测中得到了越来越多的应用，该方法也可用于食品中有害元素的快速检测。
[0003]XRF分析仪器都需要对待测样品进行一定的前处理，然后将待测样品放入仪器专用的样品杯中，并将装有样品的样品杯放入仪器的进样口，接着启动X射线源发射X射线照射样品，并采用专门的探测器进行数十秒到几百秒的数据收集，最后对收集得到的数据进行计算，得出待测样品中的元素含量。然而，常规的XRF分析仪器普遍采用下照式激发，即样品杯放入分析仪器后，分析仪器的X射线源向上射出并照射在待测样品的下表面，用于接收待测样品中荧光信号的探测器也位于样品杯下方。这类分析仪器所采用的样品杯都是同样的结构形式，即一端开口，放入样品，然后用分析薄膜封口，再倒扣过来放入分析仪器中，薄膜朝下，样品依靠自身重力聚集在分析薄膜上。
[0004]受分析薄膜结构影响，在检测过程中，分析薄膜存在破裂的情况，当分析薄膜破裂时，样品易在重力作用下落在探测器的窗口上，从而造成窗口污染，且由于该窗口的厚度是微米级别，非常脆弱，清理十分不便，很容易造成窗口的损坏，探测器的窗口损坏后无法维修，只能更换探测器，更换成本非常昂贵。
[0005]因此，有必要对现有技术予以改良以克服现有技术中的所述缺陷。

技术实现思路

[0006]本技术的目的在于提供一种食品中有害元素快检设备，以降低探测器受污染和破损概率。
[0007]本技术的目的是通过以下技术方案实现：一种食品中有害元素快检设备，包括：安装架；样品杯，用于容置待测样品，并可拆卸地设置在所述安装架上，所述待测样品的待测面与水平方向相垂直；射线源，其出射端与所述待测面相对设置；以及探测器，其探测端与所述待测面相对设置。
[0008]进一步地，所述安装架包括沿着水平方向贯通的收容腔，所述收容腔具有远离所述射线源和/或所述探测器的入口侧以及靠近所述射线源和/或所述探测器的出口侧，所述样品杯可经所述入口侧装入所述收容腔，且所述样品杯具有所述待测样品的一端自所述出口侧伸出。
[0009]进一步地，所述样品杯远离所述待测样品的一端外周设有凸部，当所述样品杯安
装至预设位置后，所述凸部与所述入口侧相抵。
[0010]进一步地，所述安装架与所述样品杯通过磁吸方式相固定。
[0011]进一步地，所述凸部朝向所述入口侧的一面上设有导磁件，所述入口侧设置有与所述凸部磁性连接的磁性件。
[0012]进一步地，所述射线源和所述探测器分设于所述样品杯的两侧，所述射线源的射出方向与竖直方向相垂直，所述探测器的探测方向与竖直方向相垂直。
[0013]进一步地，所述射线源的射出方向与所述待测面之间的夹角不大于20
°
。
[0014]进一步地，所述样品杯包括：杯体，在所述样品杯的轴线方向上的两侧开口，以形成第一敞开侧和第二敞开侧；压杆，自所述第一敞开侧装入所述杯体，并可沿着所述样品杯的轴线方向移向所述第二敞开侧；分析薄膜，封盖在所述第二敞开侧上；以及膜套环，自所述第二敞开侧套入所述杯体，并紧固所述分析薄膜。
[0015]进一步地，所述压杆的外周侧与所述杯体的内周侧贴合接触，所述压杆设有用于排出所述杯体内气体的排气孔。
[0016]进一步地，所述样品杯包括：杯体，在所述样品杯的轴线方向上的两侧开口，以形成第三敞开侧和第四敞开侧；橡胶阀，封设在所述第三敞开侧，所述橡胶阀上设有开口缝；分析薄膜，封盖在所述第四敞开侧；以及膜套环，自所述第四敞开侧套入所述杯体，并紧固所述分析薄膜。
[0017]与现有技术相比，本技术具有如下有益效果：本技术中样品杯设置在安装架上后，待测样品的待测面与水平方向相垂直，射线源的出射端和探测器的探测端均与待测面相对设置，使得射线源和探测器能够通过侧照方式代替下照方式进行检测工作，当待测样品遇到突发情况而脱离样品杯时，待测样品在重力作用下不会落至射线源和/或探测器上，避免射线源和/或探测器破损和表面污染，降低维护成本。
附图说明
[0018]图1是本技术快检设备的结构示意图。
[0019]图2是本技术中样品杯一种实施例的结构示意图。
[0020]图3图2的剖面示意图。
[0021]图4是本技术中样品杯另一种实施例的结构示意图。
[0022]图5是图4的剖面示意图。
[0023]图6是图4安装杯座后的结构示意图。
[0024]图中：1、安装架；11、入口侧；12、出口侧；2、样品杯；20、凸部；201、导磁件；21、杯体；211、固体腔；2111、第一敞开侧；2112、第二敞开侧；212、液体腔；2121、第三敞开侧；2122、第四敞开侧；22、压杆；221、排气孔；222、密封圈；23、分析薄膜；24、膜套环；25、橡胶阀；251、开口缝；26、杯座；27、安装部；271、安装腔；3、射线源；4、探测器；5、待测样品；51、待测面。
具体实施方式
[0025]为使本申请的上述目的、特征和优点能够更为明显易懂，下面结合附图，对本申请的具体实施方式做详细的说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅用于解释本申
请，而非对本申请的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本申请相关的部分而非全部结构。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本申请保护的范围。
[0026]本申请中的术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
[0027]在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
[0028]请参阅图1所示，对应于本技术一种较佳实施例的食品中有害元素快检设备，包括：安装架1；样品杯2，用于容置待测样品5，并可拆卸地设置在安装架1上，待测样品5的待测面51与水平方向相垂直本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种食品中有害元素快检设备，其特征在于，包括：安装架(1)；样品杯(2)，用于容置待测样品(5)，并可拆卸地设置在所述安装架(1)上，所述待测样品(5)的待测面(51)与水平方向相垂直；射线源(3)，其出射端与所述待测面(51)相对设置；以及探测器(4)，其探测端与所述待测面(51)相对设置。2.如权利要求1所述的食品中有害元素快检设备，其特征在于，所述安装架(1)包括沿着水平方向贯通的收容腔，所述收容腔具有远离所述射线源(3)和/或所述探测器(4)的入口侧(11)以及靠近所述射线源(3)和/或所述探测器(4)的出口侧(12)，所述样品杯(2)可经所述入口侧(11)装入所述收容腔，且所述样品杯(2)具有所述待测样品(5)的一端自所述出口侧(12)伸出。3.如权利要求2所述的食品中有害元素快检设备，其特征在于，所述样品杯(2)远离所述待测样品(5)的一端外周设有凸部(20)，当所述样品杯(2)安装至预设位置后，所述凸部(20)与所述入口侧(11)相抵。4.如权利要求1所述的食品中有害元素快检设备，其特征在于，所述安装架(1)与所述样品杯(2)通过磁吸方式相固定。5.如权利要求3所述的食品中有害元素快检设备，其特征在于，所述凸部(20)朝向所述入口侧(11)的一面上设有导磁件(201)，所述入口侧(11)设置有与所述凸部(20)磁性连接的磁性件。6.如权利要求1所述的食品中有害元素快检设备，其特征在于，所述射线源(3)和所述探测器(4)分设于所述样品杯(2)的两侧，所述射线源(3)的射出方向与竖直方向相垂...

【专利技术属性】
技术研发人员：高志帆，张红平，陈泽武，宋硙，周陶鸿，刘杰，郭雅晴，
申请(专利权)人：湖北省食品质量安全监督检验研究院，
类型：新型
国别省市：