X射线荧光光谱仪用的样品杯制造技术

本申请提供一种X射线荧光光谱仪用的样品杯，包括主体及若干样品膜片。样品膜片包括底片及样品模，底片设有通孔，样品膜贴附在通孔处，样品模包括金属膜及夹持金属膜的塑料薄膜。主体设有样品槽，若干样品膜片叠置在主体上，通孔位于样品槽的正上方。本申请样品杯通过多个样品膜片不同的叠置顺序可以模拟各种不同的金属镀层样品，为实际测样提供较为可靠的参考数据，提高镀膜测厚的准确性，并且可降低成本，使用更加灵活。使用更加灵活。使用更加灵活。

【技术实现步骤摘要】
X射线荧光光谱仪用的样品杯


[0001]本申请涉及一种X射线荧光光谱仪用的样品杯。

技术介绍

[0002]X射线荧光分析仪可以用于分析检测各种基体上所镀设的金属膜的种类和各层金属膜的厚度，为了能得到较好的分析结果，需要对测试数据进行分析和计算，同时参考相同镀层的标准样品，才能判断出镀层顺序，然后再计算出镀层厚度。现有的方式需要准备很多个已知镀层顺序和厚度的标准样品，然后将标准样品放置样品杯内检测并获得相应的参考检测数据。镀层的顺序变化与厚度变化均对测试结果有极大的影响，因此需要准备大量的标准样品才能满足测试需求。
[0003]因此，需要一种成本更低、更加灵活的检测用样品杯。

技术实现思路

[0004]本申请提供一种样品杯，其能够灵活模拟多种镀层产品，建立参考数据。
[0005]具体地，本申请是通过如下技术方案实现的：一种样品杯，包括主体及若干样品膜片，所述样品膜片包括底片及样品模，所述底片设有通孔，所述样品膜贴附在所述通孔处，所述样品模包括金属膜及夹持所述金属膜的塑料薄膜；所述主体设有样品槽，若干所述样品膜片叠置在所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种X射线荧光光谱仪用的样品杯，其特征在于：包括主体及若干样品膜片，所述样品膜片包括底片及样品模，所述底片设有通孔，所述样品膜贴附在所述通孔处，所述样品模包括金属膜及夹持所述金属膜的塑料薄膜；所述主体设有样品槽，若干所述样品膜片叠置在所述主体上，所述通孔位于所述样品槽的正上方。2.根据权利要求1所述的样品杯，其特征在于：还设有设置在所述主体上的导向销，所述底片设有供所述导向销穿过的导向孔。3.根据权利要求2所述的样品杯，其特征在于：所述主体设有插孔，所述导向销插置在...

【专利技术属性】
技术研发人员：周陶鸿，刘在原，吴梅，贾少朋，江红，李方晓，
申请(专利权)人：湖北省食品质量安全监督检验研究院，
类型：新型
国别省市：