一种芯片测试设备制造技术

本发明专利技术公开了一种芯片测试设备，涉及芯片测试技术领域，包括机架、输送带、驱动组件、传动组件、第一拨正组件和第二拨正组件，驱动组件内设置有传动带，传动组件包括与传动带啮合连接的传动齿轮；以及与传动齿轮同轴连接的牵引部，第一拨正组件内设置有与传动组件活动连接的摆臂；以及连接在摆臂上的拨动轮，第二拨正组件内设置有与牵引部连接的滑杆；以及连接在滑杆上的拨动块，驱动组件中的传动带通过传动齿轮不仅能够带动牵引部运动，还能够带动摆臂运动，牵引部和摆臂分别通过拨动块和拨动轮朝着靠近输送带的中部以及朝着输送带的前进方向拨动芯片，不仅能够防止芯片发生倾斜，还能够防止芯片被卡死，具备防卡死效果好的特点。点。点。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试设备


[0001]本专利技术涉及芯片测试
，具体是一种芯片测试设备。

技术介绍

[0002]芯片的测试过程中，需要用到输送设备输送芯片，可方便快速的将芯片输送至各个输送设备内进行测试。
[0003]现有的芯片测试设备在输送芯片过程中容易出现芯片发生倾斜的现象，倾斜的芯片在输送带上移动的过程中容易与输送带两侧的固定架接触，尤其是芯片的四个角中的两个角分别与固定架接触时，就容易出现芯片卡死在输送带两侧的固定架之间的问题。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种芯片测试设备，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种芯片测试设备，包括机架和输送带，所述输送带安装在机架上，还包括：位于机架上的驱动组件，所述驱动组件内设置有传动带；位于机架上的传动组件，所述传动组件包括与传动带啮合连接的传动齿轮；以及与传动齿轮同轴连接的牵引部；位于机架上的第一拨正组件，所述第一拨正组件内设置有与传动组件活动连接的摆臂；以及连接在摆臂上的拨动轮；位于机架上本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试设备，包括机架和输送带，其特征在于，所述输送带安装在机架上，还包括：位于机架上的驱动组件，所述驱动组件内设置有传动带；位于机架上的传动组件，所述传动组件包括与传动带啮合连接的传动齿轮；以及与传动齿轮同轴连接的牵引部；位于机架上的第一拨正组件，所述第一拨正组件内设置有与传动组件活动连接的摆臂；以及连接在摆臂上的拨动轮；位于机架上的第二拨正组件，所述第二拨正组件内设置有与牵引部连接的滑杆；以及连接在滑杆上的拨动块。2.根据权利要求1所述的一种芯片测试设备，其特征在于，所述传动组件还包括复位部和中心轴，所述复位部包括固定壳体和复位卡簧，所述复位卡簧安装在固定壳体内，所述传动齿轮和牵引部均安装在中心轴上，所述中心轴的一端安装在固定壳体内，所述复位卡簧套设在中心轴上。3.根据权利要求2所述的一种芯片测试设备，其特征在于，所述牵引部包括卷绕轮和牵引绳，所述卷绕轮固定套设在中心轴上，所述牵引绳的一端缠绕在卷绕轮上，牵引绳的另一端连接在滑杆上远离拨动块的一端。4.根据权利要求3所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙征，
申请(专利权)人：无锡祺芯半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：